Le diffractomètre AL-Y500 est le dernier modèle de diffractomètre à rayons X bidimensionnel de paillasse. Il adopte une méthode de détection par caméra fixe, différente des diffractomètres à balayage traditionnels. Le détecteur à semi-conducteur à comptage de photons de type réseau à rayons X permet les modes de compatibilité 0D, 1D et 2D pour les points, les lignes et les surfaces.

Il est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative d'échantillons polycristallins, y compris l'analyse quantitative sans échantillons de référence, la détermination de la cristallinité, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, la mesure de la taille des grains, le raffinement de la structure, l'analyse des micro-zones, l'analyse des contraintes de film mince et de texture, etc. Il est applicable à divers domaines et industries tels que les minéraux, les produits pharmaceutiques, les produits chimiques, les métaux et alliages, les matériaux de construction, les nanomatériaux, les batteries, les échantillons alimentaires, les échantillons biologiques, etc.

Caractéristiques:

1.Le détecteur effectue une photographie fixe, ce qui est différent de l'instrument de diffraction de type balayage traditionnel. Le mode photographie est très efficace et rapide, environ 5 à 30 fois plus rapide que le mode numérisation. Il convient à l'analyse in situ et les informations de diffraction sous tous les angles peuvent être collectées simultanément. Il a une résolution énergétique élevée, réduisant efficacement le fond de fluorescence.

2.Les bras θs et θd de l'instrument de mesure d'angle adoptent un entraînement par servomoteur et une technologie de contrôle de codage optique. Le détecteur peut effectuer un mouvement à double position le long de l'axe 2θ. La rotation de l'instrument de mesure d'angle est plus stable, la mesure de l'angle de diffraction est plus précise et la linéarité est meilleure. Lorsque l'échantillon tourne le long de l'axe θ, la précision du contrôle est de 0,01° et la précision de l'angle de l'axe 2θ est de ±0,02°.

3.Les composants du détecteur sont composés de plusieurs unités de détection, qui sont uniformément réparties de manière fixe le long du cercle de diffraction et offrent une couverture transparente sous tous les angles ; Les détecteurs planaires double couche à 21 plaques (ou monocouche à 10 plaques) couvrent la plage 2θ : -3° à 150°. L'imagerie 2D est obtenue, collectant simultanément des informations sur l'angle γ, des données de diffraction bidimensionnelle, et les informations sont plus abondantes.

4.Détecteur semi-conducteur à comptage photonique planaire à rayons X, à haute sensibilité, capable de compter un photon unique, une large plage dynamique, des seuils doubles ; sources lumineuses ponctuelles et linéaires interchangeables, combinant les géométries optiques Debye-Scherrer et BB, compatibles avec les échantillons planaires et cylindriques, compatibles avec les modes 2D, 1D et OD du détecteur. De plus, il présente une forte résistance aux radiations et une longue durée de vie.

5.Le dispositif de radioprotection par diffusion est plus sûr et plus fiable. Pendant la mesure des échantillons, la porte de radioprotection sera automatiquement verrouillée, garantissant ainsi que les opérateurs ne seront en aucun cas exposés à des rayonnements diffusants.

6.Sa taille compacte lui permet d'être installé sur un banc expérimental, sans nécessiter un environnement de laboratoire spécifique. Il est simple à utiliser, à exploiter et à entretenir.

Paramètre technique