AL-Y500 difraktometre, tezgah üstü iki boyutlu X-ışını difraktometresinin en son modelidir. Geleneksel tarama tipi difraktometrelerden farklı olarak sabit kamera algılama yöntemini benimser. X-ışını dizi tipi foton sayıcı yarı iletken dedektör, noktalar, çizgiler ve yüzeyler için 0D, 1D ve 2D uyumluluk modlarına olanak tanır.

Temel olarak referans numuneleri olmadan kantitatif analiz, kristalliğin belirlenmesi, kristal yapı analizi, malzeme yapısı analizi, tane boyutu ölçümü, yapı iyileştirme, mikro alan analizi, ince film ve doku stres analizi dahil olmak üzere çok kristalli numunelerin kalitatif ve kantitatif analizi için kullanılır. Mineraller, farmasötik ürünler, kimyasallar, metaller ve alaşımlar, yapı malzemeleri, nanomalzemeler, piller, gıda numuneleri, biyolojik numuneler vb. gibi çeşitli alan ve endüstrilere uygulanabilir.

Özellikler:

1.Dedektör, geleneksel tarama tipi kırınım cihazından farklı olarak sabit fotoğrafçılık gerçekleştirir. Fotoğraf modu son derece verimli ve hızlıdır; tarama moduna göre yaklaşık 5-30 kat daha hızlıdır. Yerinde analize uygundur ve tüm açılardan kırınım bilgisi aynı anda toplanabilir. Floresans arka planını etkili bir şekilde azaltan yüksek enerji çözünürlüğüne sahiptir.

2.Açı ölçüm cihazı θs ve θd kolları, servo motor sürücüsünü ve optik kodlama kontrol teknolojisini benimser. Dedektör 2θ ekseni boyunca çift konumlu hareket gerçekleştirebilir. Açı ölçüm cihazının dönüşü daha kararlıdır, kırınım açısı ölçümü daha doğrudur ve doğrusallık daha iyidir. Numune θ ekseni boyunca döndüğünde, kontrol doğruluğu 0,01°'dir ve 2θ eksen açısının doğruluğu ±0,02°'dir.

3.Dedektör bileşenleri, kırınım çemberi boyunca eşit şekilde sabit bir şekilde dağıtılan ve tüm açılar için kesintisiz kapsama sağlayan birden fazla dedektör ünitesinden oluşur; çift ​​katmanlı 21 plakalı (veya tek katmanlı 10 plakalı) düzlemsel dizi dedektörleri 2θ aralığını kapsar: -3° ila 150°. Eş zamanlı olarak γ açısı bilgisi ve iki boyutlu kırınım verileri toplanarak 2 boyutlu görüntüleme elde edilir ve bilgi daha bol olur.

4.Yüksek hassasiyete sahip, tek foton sayma, geniş dinamik aralık, çift eşik kapasitesine sahip X-ışını düzlemsel fotonik sayma yarı iletken dedektörü; Debye-Scherrer ve BB optik geometrilerini birleştiren, düzlemsel ve silindirik numunelerle uyumlu, dedektör 2D, 1D ve OD modlarıyla uyumlu, değiştirilebilir nokta ve çizgi ışık kaynakları. Üstelik güçlü radyasyon direncine ve uzun servis ömrüne sahiptir.

5.Saçılan radyasyondan korunma cihazı daha güvenli ve daha güvenilirdir. Numune ölçümü sırasında radyasyondan korunma kapısı otomatik olarak kilitlenerek operatörlerin hiçbir durumda saçılan radyasyona maruz kalmaması sağlanacaktır.

6.Kompakt boyutu, belirli bir laboratuvar ortamına gerek kalmadan deneysel bir tezgah üzerine kurulabilmesini sağlar. Kullanımı, çalıştırılması ve bakımı kolaydır.

Teknik Parametre