Il diffrattometro AL-Y500 è l'ultimo modello di diffrattometro a raggi X bidimensionale di banco.che differisce dai tradizionali diffrattometri di tipo di scansioneIl rivelatore semiconduttore con conteggio dei fotoni di tipo array a raggi X consente modalità di compatibilità 0D, 1D e 2D per punti, linee e superfici.

È utilizzato principalmente per l'analisi qualitativa e quantitativa di campioni policristallini, compresa l'analisi quantitativa senza campioni di riferimento, la determinazione della cristallinità,analisi della struttura cristallina, analisi della struttura del materiale, misurazione della dimensione del grano, raffinazione della struttura, analisi delle micro superfici, analisi dello stress del film sottile e della consistenza, ecc.È applicabile a vari settori e industrie quali i minerali., prodotti farmaceutici, prodotti chimici, metalli e leghe, materiali da costruzione, nanomateriali, batterie, campioni di alimenti, campioni biologici, ecc.

Caratteristiche:

1.Il rivelatore esegue una fotografia fissa, diversa dallo strumento di diffrazione di tipo di scansione tradizionale.circa 5-30 volte più veloce della modalità di scansioneÈ adatto per l'analisi in situ e le informazioni di diffrazione da tutte le angolazioni possono essere raccolte simultaneamente.riducendo efficacemente lo sfondo fluorescente.

2.Il dispositivo di misurazione dell'angolo θs e θd ha un servomotore e una tecnologia di controllo di codifica ottica, che permette di effettuare movimenti a doppia posizione lungo l'asse 2θ.La rotazione dello strumento di misurazione dell'angolo è più stabileQuando il campione ruota lungo l'asse θ, l'accuratezza di controllo è di 0,01° e l'accuratezza dell'angolo dell'asse 2θ è di ±0..02°.

3.I componenti del rivelatore sono composti da più unità di rilevamento che sono uniformemente distribuite fisso lungo il cerchio di diffrazione e forniscono una copertura senza soluzione di continuità per tutti gli angoli;rilevatori a doppio strato a 21 piastre (o a un singolo strato a 10 piastre) di matrice planare che coprono l'intervallo 2θSi ottiene un'immagine 2D, raccogliendo simultaneamente informazioni sull'angolo γ, dati bidimensionali di diffrazione e l'informazione è più abbondante.

4.Detettore a semiconduttore di conteggio fotonico planare a raggi X, ad alta sensibilità, in grado di contare un solo fotone, ampia gamma dinamica, doppie soglie; sorgenti luminose interscambiabili a punti e linee,combinando le geometrie ottiche di Debye-Scherrer e BB, compatibile con campioni planari e cilindrici, compatibile con le modalità 2D, 1D e OD del rilevatore.

5.Il dispositivo di protezione dalle radiazioni di dispersione è più sicuro e più affidabile.garantire che gli operatori non siano esposti in nessun caso alle radiazioni di dispersione.

6.Le dimensioni compatte consentono di installare il dispositivo su una panchina sperimentale, senza bisogno di un ambiente di laboratorio specifico, ed è semplice da usare, usare e mantenere.

Parametro tecnico