Dyfraktometr AL-Y500 to najnowszy model laboratoryjnego dwuwymiarowego dyfraktometru rentgenowskiego. Przyjmuje metodę wykrywania za pomocą stałej kamery, która różni się od tradycyjnych dyfraktometrów skanujących. Detektor półprzewodnikowy zliczający fotony typu rentgenowskiego umożliwia tryby zgodności 0D, 1D i 2D dla punktów, linii i powierzchni.

Stosowany jest głównie do analizy jakościowej i ilościowej próbek polikrystalicznych, w tym analizy ilościowej bez próbek referencyjnych, oznaczania krystaliczności, analizy struktury kryształów, analizy struktury materiału, pomiaru wielkości ziaren, udoskonalania struktury, analizy mikroobszarów, analizy naprężeń cienkich warstw i tekstur itp. Ma zastosowanie w różnych dziedzinach i gałęziach przemysłu, takich jak minerały, farmaceutyki, chemikalia, metale i stopy, materiały budowlane, nanomateriały, baterie, próbki żywności, próbki biologiczne itp.

Cechy:

1.Detektor wykonuje fotografię stałą, co różni się od tradycyjnego instrumentu dyfrakcyjnego typu skaningowego. Tryb fotograficzny jest bardzo wydajny i szybki, około 5-30 razy szybszy niż tryb skanowania. Nadaje się do analizy in-situ, a informacje o dyfrakcji można zbierać jednocześnie pod każdym kątem. Posiada wysoką rozdzielczość energetyczną, skutecznie redukując tło fluorescencji.

2.Ramiona przyrządu do pomiaru kąta θs i θd wykorzystują napęd serwosilnika i technologię kontroli kodowania optycznego. Detektor może wykonywać ruch dwupozycyjny wzdłuż osi 2θ. Obrót przyrządu do pomiaru kąta jest bardziej stabilny, pomiar kąta dyfrakcyjnego jest dokładniejszy, a liniowość jest lepsza. Gdy próbka obraca się wzdłuż osi θ, dokładność sterowania wynosi 0,01°, a dokładność kąta osi 2θ wynosi ±0,02°.

3.Elementy detektora składają się z wielu jednostek detektorów, które są równomiernie rozmieszczone wzdłuż koła dyfrakcyjnego i zapewniają jednolite pokrycie pod wszystkimi kątami; dwuwarstwowe 21-płytkowe (lub jednowarstwowe 10-płytkowe) detektory planarne pokrywają zakres 2θ: -3° do 150°. Uzyskuje się obrazowanie 2D, jednocześnie zbierając informacje o kącie γ i dwuwymiarowych danych dyfrakcyjnych, a informacji jest więcej.

4.Rentgenowski planarny detektor półprzewodnikowy zliczający fotony, o dużej czułości, zdolny do zliczania pojedynczych fotonów, duży zakres dynamiki, podwójne progi; wymienne punktowe i liniowe źródła światła, łączące geometrię optyczną Debye'a-Scherrera i BB, kompatybilne z próbkami planarnymi i cylindrycznymi, kompatybilne z trybami detektora 2D, 1D i OD. Co więcej, ma dużą odporność na promieniowanie i długą żywotność.

5.Urządzenie chroniące przed promieniowaniem rozpraszającym jest bezpieczniejsze i bardziej niezawodne. Podczas pomiaru próbki drzwiczki chroniące przed promieniowaniem zostaną automatycznie zablokowane, dzięki czemu operatorzy w żadnym wypadku nie będą narażeni na promieniowanie rozproszone.

6.Kompaktowe wymiary umożliwiają instalację na stole doświadczalnym, bez konieczności stosowania specjalnego środowiska laboratoryjnego. Jest prosty w użyciu, obsłudze i konserwacji.

Parametr techniczny