1.Deskripsi:

Fotometer diferensial SX83 memiliki kemampuan untuk mengukur komponen dengan presisi tinggi dan mengukur komponen jejak secara sensitif.Ini memperluas kisaran kandungan elemen yang diukur dan dapat secara akurat dan cepat melakukan deteksi kuantitatif untuk wolfram tinggi, molibdenum, besi, silikon, nikel, kobalt dan jejak komponen wolfram, molibdenum, besi, silikon, nikel, dan kobalt.dapat secara sistematis mengukur beberapa elemen dengan tingkat kandungan yang berbedaIni adalah produk teknologi tinggi baru dari perusahaan kami.
Instrumen ini adalah perangkat pengukuran kuantitatif portabel dan kompak, cocok untuk industri mineral logam nonferrous, pengolahan logam nonferrous dan geologi.Hal ini terutama banyak digunakan di bidang tungsten, molibdenum dan mineral lainnya dan pengolahan, dan telah menerima pujian tinggi dari pengguna.

2Parameter teknis