1Beschrijving:

De differentiële fotometer SX83 heeft de mogelijkheid om hooggehaltecomponenten nauwkeurig te meten en sporencomponenten gevoelig te meten.Het vergroot het gehaltebereik van de gemeten elementen en kan nauwkeurig en snel kwantitatieve detectie voor hoog gehalte wolfraam uitvoeren, molybdeen, ijzer, silicium, nikkel, kobalt en sporencomponenten van wolfraam, molybdeen, ijzer, silicium, nikkel en kobalt.het kan systematisch meerdere elementen met verschillende gehalteniveaus metenHet is een nieuw hightech product van ons bedrijf.
Dit instrument is een draagbaar en compact kwantitatief meetapparaat, geschikt voor de industrie van niet-ferrometaalmineralen, de verwerking van niet-ferrometaal en de geologie.Het wordt vooral veel gebruikt op het gebied van wolfraam, molybdeen en andere mineralen en verwerking, en heeft veel lof gekregen van de gebruikers.

2.Technische parameter