Μηχανή Δοκιμής Ποιότητας Τήγματος Σιδήρου Τύπου Ντουλαπιού για το Μέτωπο του Κλιβάνου, Δοκιμαστής Ποιότητας Τήγματος Σιδήρου Τύπου Ντουλαπιού

Κύριες Τεχνικές Παράμετροι

Όνομα Μέτρησης     Εύρος Μέτρησης      Ακρίβεια Μέτρησης

1. Θερμοκρασία                 0 - 1370℃               F.S±0.01%

2. CE%                  2.50% - 4.80%            ±0.08%

3. C%                   2.30% - 4.20%            ±0.05%

4. Si%                  0.60% - 3.80%            ±0.10%

5. SG%                  62% - 95%                ±10.0%

6. RM                   HT100 - HT350            Ελάχιστη Τιμή

Λειτουργίες Λογισμικού

1. Μέτρηση Περιεκτικότητας CE, C και Si

(1) Μπορεί να μετρήσει την ενεργή περιεκτικότητα CE, C και Si 10 υλικών στόχων και να υπολογίσει την ποιότητα χυτοσιδήρου (HT);

(2) Εύρος μέτρησης ενεργού ισοδύναμου άνθρακα CE: 2.50 — 4.80%;

(3) Εύρος μέτρησης ενεργού περιεκτικότητας C: 2.30 — 4.20%;

(4) Εύρος μέτρησης ενεργού περιεκτικότητας Si: 0.60 — 3.80%;

(5) Οι τιμές διόρθωσης για την ενεργή CE, C% και Si% μπορούν να οριστούν εντός (-0.99 — +0.99).

2. Υπολογισμός Ρύθμισης Χυτοσιδήρου

Με βάση το εύρος σύνθεσης στόχου, το βάρος του χυτοσιδήρου, την απόδοση προσθήκης άνθρακα, την απόδοση προσθήκης πυριτίου και τα αποτελέσματα μέτρησης, υπολογίζεται η ποσότητα του πρόσθετου άνθρακα, του σιδηροπυριτίου ή του παλιοσίδηρου που απαιτείται για την επίτευξη της σύνθεσης στόχου.

3. Μέτρηση Ρυθμού Σφαιροποίησης

Μετρώντας τον βαθμό ευτηκτικού και τον βαθμό υπερψύξης του χυτοσιδήρου, μπορεί να υπολογιστεί ο ρυθμός σφαιροποίησης του χυτοσιδήρου με σφαιροειδή γραφίτη, υπό την προϋπόθεση ότι η ενεργή περιεκτικότητα σε Mg είναι επαρκής.

4. Διαχείριση Σύνθεσης Χυτοσιδήρου

Με βάση την ποιότητα του προϊόντος, ορίζονται τα εύρη ισοδύναμου άνθρακα, περιεκτικότητας σε άνθρακα και περιεκτικότητας σε πυρίτιο. Το όργανο θα εμφανίζει την περιεκτικότητα σε διαφορετικά χρώματα. Οι μη επιτρεπτές τιμές εμφανίζονται με κόκκινο χρώμα και οι επιτρεπτές τιμές με πράσινο. Οι χρήστες μπορούν επίσης να τροποποιήσουν οι ίδιοι τα εύρη περιεκτικότητας.

5. Εισαγωγή Οθόνης Μέτρησης Ενεργών Συστατικών

(1) Τρέχουσα Ημερομηνία και Ώρα

(2) Αριθμός Έκδοσης Οργάνου

(3) Μέγιστη Θερμοκρασία (TM)

(4) Θερμοκρασία Πρωτογενούς Κρυστάλλωσης (TL)

(5) Ευτηκτική Θερμοκρασία (TE)

(6) Ισοδύναμο Άνθρακα (CE1)

(7) Περιεκτικότητα σε Άνθρακα (C%)

(8) Περιεκτικότητα σε Πυρίτιο (Si%)

(9) Γράφημα Ισοδύναμου Άνθρακα και Εύρους (CE2)

(10) Γράφημα Περιεκτικότητας σε Άνθρακα και Εύρους (C%)

(11) Γράφημα Περιεκτικότητας σε Πυρίτιο και Εύρους (Si%)

(12) Καμπύλη Θερμικής Ανάλυσης Θερμοκρασίας

(13) Θερμοκρασία Πραγματικού Χρόνου (Κελσίου)

(14) Πλαίσιο Πληροφοριών Γραμμής Τρέχουσας Ανίχνευσης

(15) Εύρος Σύνθεσης Στόχου Si

(16) Κουμπί "Εναλλαγή Λειτουργιών"

(17) Κουμπί "Υλικό Στόχος"

(18) Κουμπί "Ρύθμιση Βάρους"

(19) Κουμπί "Ρύθμιση Ανίχνευσης"

(20) Κουμπί "Περιήγηση Δεδομένων"

(21) Κουμπί "Τερματισμός Συστήματος"

6. Εισαγωγή Διεπαφής Μέτρησης Ρυθμού Σφαιροποίησης

(1) Τρέχουσα Ημερομηνία και Ώρα

(2) Αριθμός Έκδοσης Οργάνου

(3) Μέγιστη Θερμοκρασία (TM)

(4) Θερμοκρασία Πρωτογενούς Κρυστάλλωσης (TL)

(5) Χαμηλό Σημείο Ευτηκτικού (TEl)

(6) Θερμοκρασία Αναθέρμανσης (TEh)

(7) Ρυθμός Ψύξης και Γράφημα

(8) Βαθμός Υπερψύξης και Γράφημα

(9) Χρόνος Αναθέρμανσης και Γράφημα

(10) Ρυθμός Σφαιροποίησης και Γράφημα

(11) Καμπύλη Θερμοκρασίας

(12) Θερμοκρασία Πραγματικού Χρόνου

(13) Πληροφορίες Γραμμής Τρέχουσας Ανίχνευσης

(14) Κουμπί "Εναλλαγή Λειτουργιών"

(15) Κουμπί "Επιλογή Υλικού"

(16) Κουμπί "Ρύθμιση Βάρους" (Άκυρο σε αυτή τη διεπαφή)

(17) Κουμπί "Ρύθμιση Ανίχνευσης"

(18) Κουμπί "Περιήγηση Δεδομένων"

(19) Κουμπί "Τερματισμός Συστήματος"

Μηχάνημα Ελέγχου Ποιότητας Χυτοσιδήρου Τύπου Ντουλαπιού για την Εμπρόσθια Όψη του Κλιβάνου, Ελεγκτής Ποιότητας Χυτοσιδήρου Τύπου Ντουλαπιού