Wichtigste technische Parameter
Messname Messbereich Messgenauigkeit
1. Temperatur 0 - 1370 ℃ FS±0,01 %
2. CE% 2,50 % - 4,80 % ±0,08 %
3. C% 2,30 % - 4,20 % ±0,05 %
4. Si% 0,60 % - 3,80 % ±0,10 %
5. SG% 62 % - 95 % ±10,0 %
6. RM HT100 – HT350 Mindestwert
Softwarefunktionen
1. Messung des CE-, C- und Si-Gehalts
(1) Kann den aktiven CE-, C- und Si-Gehalt von 10 Zielmaterialien messen und den Gusseisengrad (HT) berechnen;
(2) Messbereich des aktiven CE-Kohlenstoffäquivalents: 2,50 – 4,80 %;
(3) Messbereich des Aktiv-C-Gehalts: 2,30 – 4,20 %;
(4) Messbereich des aktiven Si-Gehalts: 0,60 – 3,80 %;
(5) Korrekturwerte für aktives CE, C % und Si % können im Bereich (-0,99 bis +0,99) eingestellt werden.
2. Berechnung der Anpassung an geschmolzenes Eisen
Basierend auf dem Zielzusammensetzungsbereich, dem Gewicht des geschmolzenen Eisens, der Kohlenstoffzugabeausbeute, der Siliziumzugabeausbeute und den Messergebnissen wird die Menge an Kohlenstoffzusatz, Ferrosilizium oder Stahlschrott berechnet, die zum Erreichen der Zielzusammensetzung erforderlich ist.
3. Messung der Sphäroidisierungsrate
Durch Messung des Eutektikums und des Unterkühlungsgrads der Eisenschmelze kann die Sphäroidisierungsrate des Gusseisens mit Kugelgraphit berechnet werden, sofern der aktive Mg-Gehalt ausreichend ist.
4. Management der Zusammensetzung geschmolzenen Eisens
Basierend auf der Produktqualität werden die Bereiche Kohlenstoffäquivalent, Kohlenstoffgehalt und Siliziumgehalt festgelegt. Das Instrument zeigt den Inhalt in verschiedenen Farben an; Unqualifizierte Werte werden in Rot und qualifizierte Werte in Grün angezeigt. Benutzer können die Inhaltsbereiche auch selbst ändern.
5. Einführung in den Bildschirm „Wirkstoffmessung“.
(1) Aktuelles Datum und Uhrzeit
(2) Versionsnummer des Instruments
(3) Maximale Temperatur (TM)
(4) Primäre Kristallisationstemperatur (TL)
(5) Eutektische Temperatur (TE)
(6) Kohlenstoffäquivalent (CE1)
(7) Kohlenstoffgehalt (C%)
(8) Siliziumgehalt (Si%)
(9) Kohlenstoffäquivalent- und Reichweitendiagramm (CE2)
(10) Diagramm zum Kohlenstoffgehalt und -bereich (C%)
(11) Siliziumgehalt und Bereichsdiagramm (Si%)
(12) Temperaturkurve der thermischen Analyse
(13) Echtzeittemperatur (Celsius)
(14) Informationsfeld zur aktuellen Erkennungslinie
(15) Zielzusammensetzungsbereich von Si
(16) Schaltfläche „Funktionsumschaltung“.
(17) Schaltfläche „Zielmaterial“.
(18) Schaltfläche „Gewichtseinstellung“.
(19) Schaltfläche „Erkennungseinstellung“.
(20) Schaltfläche „Daten durchsuchen“.
(21) Schaltfläche „System beenden“.
6. Einführung in die Schnittstelle zur Messung der Sphäroidisierungsrate
(1) Aktuelles Datum und Uhrzeit
(2) Versionsnummer des Instruments
(3) Maximale Temperatur (TM)
(4) Primäre Kristallisationstemperatur (TL)
(5) Eutektischer Tiefpunkt (TEl)
(6) Rekaleszenztemperatur (TEh)
(7) Abkühlrate und Diagramm
(8) Unterkühlungsgrad und Diagramm
(9) Rekaleszenzzeit und Diagramm
(10) Sphäroidisierungsrate und Diagramm
(11) Temperaturkurve
(12) Echtzeittemperatur
(13) Informationen zur aktuellen Erkennungslinie
(14) Schaltfläche „Funktionsumschaltung“.
(15) Schaltfläche „Materialauswahl“.
(16) Schaltfläche „Gewichtseinstellung“ (auf dieser Schnittstelle ungültig)
(17) Schaltfläche „Erkennungseinstellung“.
(18) Schaltfläche „Daten durchsuchen“.
(19) Schaltfläche „System beenden“.
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