Testmachine voor de kwaliteitsbeheersing van gesmolten ijzer voor de oven

Belangrijkste technische parameters

Meetnaam Meetbereik Meetnauwkeurigheid

1. Temperatuur 0 - 1370°C F.S±0,01%

2. CE% 2,50% - 4,80% ±0,08%

3. C% 2,30% - 4,20% ±0,05%

4. Si% 0,60% - 3,80% ± 0,10%

5. SG% 62% - 95% ± 10,0%

6. RM HT100 - HT350 Minimumwaarde

Softwarefuncties

1Meting van CE, C en Si-gehalte

(1) Kan het actieve CE-, C- en Si-gehalte van 10 doelmaterialen meten en de gietijzerkwaliteit (HT) berekenen;

(2) Actief CE-koolstofequivalent meetbereik: 2,50 ∼ 4,80%;

(3) Actief C-gehalte meetbereik: 2,30 ∼ 4,20%;

(4) Actief Si-gehalte meetbereik: 0,60 ∼ 3,80%;

(5) De correctiewaarden voor actieve CE, C% en Si% kunnen worden ingesteld binnen (- 0,99 + 0,99).

2. Berekening van de aanpassing van gesmolten ijzer

Op basis van het doelcompositiebereik, het gewicht van gesmolten ijzer, de koolstoftoevoegingsopbrengst, de siliciumtoevoegingsopbrengst en de meetresultaten, de hoeveelheid koolstofadditief, ferrosilicium,de voor de bereiding van de beoogde samenstelling benodigde staal of staalschroot wordt berekend.

3Meting van de sferiseringsgraad

Door de eutectische graad en de superkoeling van het gesmolten ijzer te meten, kan de sferiseringsgraad van het sferisch gegoten grafiet ijzer worden berekend.op voorwaarde dat het actieve Mg-gehalte voldoende is.

4Beheer van de samenstelling van gesmolten ijzer

Op basis van de productkwaliteit worden de koolstofequivalent-, koolstofgehalte- en siliciumgehaltebereiken ingesteld.de niet-gekwalificeerde waarden worden in rood weergegeven, en gekwalificeerde waarden worden in groen weergegeven.

5. Actief ingrediënt meting scherm Inleiding

(1) Huidige datum en tijd

(2) Instrumentversie nummer

(3) Maximale temperatuur (TM)

(4) Temperatuur van primaire kristallisatie (TL)

(5) Eutectische temperatuur (TE)

(6) CO2-equivalent (CE1)

(7) Koolstofgehalte (C%)

(8) Siliciumgehalte (Si%)

(9) Grafiek van koolstofequivalent en -bereik (CE2)

(10) Grafiek van het koolstofgehalte en het bereik (C%)

(11) Grafiek van het siliciumgehalte en het bereik (Si%)

(12) Temperatuurcurve voor thermische analyse

(13) Temperatuur in reële tijd (Celsius)

(14) Informatievak voor de huidige detectielijn

(15) Doelgrootte van de samenstelling van Si

(16) 'Functiewisseling'-knop

(17) "Doelmateriaal" knop

(18) "Gewicht instellen" knop

(19) "Aansporingsinstelling" knop

(20) "Browsen door gegevens" knop

(21) "Systeem beëindigen" knop

6Inleiding tot het meetinterface van de sferiseringsrate

(1) Huidige datum en tijd

(2) Instrumentversie nummer

(3) Maximale temperatuur (TM)

(4) Temperatuur van primaire kristallisatie (TL)

(5) Eutectisch laag punt (TEl)

(6) Recalescentietemperatuur (TEh)

(7) Koeling en grafiek

(8) Onderkoeling en grafiek

(9) Recalescentietijd en grafiek

(10) Spheroïderingspercentage en grafiek

(11) Temperatuurcurve

(12) Temperatuur in realtime

(13) Informatie over de huidige detectielijn

(14) "Functiewisseling" knop

(15) "Materiaal selectie" knop

(16) "Gewicht instellen" knop (niet geldig op deze interface)

(17) Toetsknop "Aansporing"

(18) "Browsen door gegevens" knop

(19) "Eindsysteem" knop

ACabinet-type gesmolten ijzer kwaliteitsmanagement testmachine voor oven Front oven-front cabinet-type gesmolten ijzer kwaliteit tester