Appareil d'essai de gestion de la qualité du fer fondu de type cabinet pour fourneau

Principaux paramètres techniques

Nom de mesure Plage de mesure Précision de mesure

1Température de 0 à 1370°C F.S ± 0,01%

2. CE% 2,50% - 4,80% ±0,08%

3. C% 2,30% - 4,20% ±0,05%

4Si% 0,60% à 3,80% ± 0,10%

5. SG% 62% - 95% ± 10,0%

6. RM HT100 - HT350 Valeur minimale

Fonctions logicielles

1. Mesure de la teneur en CE, C et Si

(1) Peut mesurer la teneur active en CE, en C et en Si de 10 matériaux cibles et calculer la teneur en fonte (HT);

(2) Plage de mesure de l'équivalent carbone CE actif: 2,50 ∼ 4,80%;

(3) Plage de mesure de la teneur en C actif: 2,30 ± 4,20%;

(4) Plage de mesure de la teneur en Si actif: 0,60 ∼ 3,80%;

(5) Les valeurs de correction pour le CE actif, le C% et le Si% peuvent être définies dans la fourchette (-0,99 +0,99).

2. Calcul de l'ajustement du fer fondu

Sur la base de la plage de composition cible, du poids du fer fondu, du rendement d'addition de carbone, du rendement d'addition de silicium et des résultats des mesures, la quantité d'additif de carbone, de ferrosilicium,la composition visée est calculée.

3. Mesure du taux de sphéroïdisation

En mesurant le degré eutectique et le degré de surrefroidissement du fer fondu, on peut calculer le taux de sphéroïdisation de la fonte sphéroïdale de graphite,à condition que la teneur en Mg actif soit suffisante.

4. Gestion de la composition du fer fondu

En fonction de la qualité du produit, l'équivalent carbone, la teneur en carbone et la teneur en silicium sont définis.les valeurs non qualifiées sont indiquées en rougeLes utilisateurs peuvent également modifier eux-mêmes les plages de contenu.

5. Écran de mesure des ingrédients actifs Introduction

(1) Date et heure actuelles

(2) Numéro de version de l'instrument

(3) Température maximale (TM)

(4) Température de cristallisation primaire (TL)

(5) Température euthétique (TE)

(6) Équivalent carbone (CE1)

(7) teneur en carbone (C%)

(8) teneur en silicium (Si%)

(9) Graphique de l'équivalent carbone et de la plage (CE2)

(10) Graphique de la teneur en carbone et de l'amplitude (C%)

(11) Graphique de la teneur en silicium et de la plage (Si%)

(12) Courbe de température de l'analyse thermique

(13) Température en temps réel (Celsius)

(14) Casse d'information sur la ligne de détection actuelle

(15) Plage cible de composition du Si

(16) Bouton "Changement de fonction"

(17) Bouton "Matériel cible"

(18) Bouton de réglage du poids

(19) Bouton "Réglage de la détection"

(20) Bouton "Browser dans les données"

(21) Bouton "Système de fin"

6. Interface de mesure du taux de sphéroïdisation Introduction

(1) Date et heure actuelles

(2) Numéro de version de l'instrument

(3) Température maximale (TM)

(4) Température de cristallisation primaire (TL)

(5) Point bas euthétique (TEl)

(6) Température de récalescence (TEh)

(7) Taux de refroidissement et graphique

(8) Degré de sous-refroidissement et graphique

(9) Temps de récalescence et graphique

(10) Taux et graphique de sphéroïdisation

(11) Courbe de température

(12) Température en temps réel

(13) Informations actuelles sur les lignes de détection

(14) Bouton "Changement de fonction"

(15) Bouton "Sélection du matériau"

(16) Bouton "Réglage du poids" (invalide sur cette interface)

(17) Bouton "Réglage de détection"

(18) Bouton " Navigation dans les données "

(19) Bouton "Système de fin"

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