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商品の詳細:
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| Maximum Measuring Speed: | 2 mm/s | Marble Dimensions: | 500 mm × 800 mm |
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| Z1 Linear Accuracy: | ≤±(0.5 +|0.02H|) μm | Warranty: | 1 Year |
| X-axis Driving Mode: | Electric | Y-axis Driving Mode: | Electric |
| ハイライト: | XRF アナライザー表面形態測定、ナノメートル マイクロメーター XRF アナライザー、XRF アナライザー形態測定器,nanometer micrometer XRF analyzer,XRF analyzer morphology measuring instrument |
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表面形状測定装置は、高精度部品の微細形態解析に特化した測定装置で、高精度な測定能力と優れた安定性を備えています。
精密製造の分野では、1 つの寸法のみを測定する従来の測定方法では、現代産業の部品に対する厳しい品質要件を満たすにはもはや十分ではありません。従来のサイズ検出は部品の幾何公差を反映できますが、部品の性能に対する表面の微細トポグラフィーの重要な影響を捉えることは困難です。
このトポグラフィ測定装置は従来の測定方法の限界を打ち破り、特に高精度部品の顕微鏡形態解析用に設計されています。高度な接触センサー技術を採用し、ナノメートルからマイクロメートルの範囲の表面特徴を正確に測定します。
技術的パラメータ
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測定範囲 |
X軸 |
120～220mm |
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X 軸の解像度 |
1.2nm |
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Z軸 |
420mm、620mm（オプション） |
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プロファイルセンサー |
Z1軸測定範囲 |
30～60mm |
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Z1解像度 |
1.2nm |
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プロファイル精度 |
Z1 直線精度 |
≦±(0.5+|0.02H|)μm |
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円弧 |
±(1+R/12)μm |
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円弧ポイント |
≤0.3μm |
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角度 |
±1分 |
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真直度 |
0.3μm/100mm（カットオフ波長0.8） |
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走行速度 |
X軸駆動モード |
電気 |
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Y軸駆動モード |
電気 |
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最大測定速度 |
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2mm/秒 |
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大理石の寸法 |
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500mm×800mm |
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カウンタートップ 材料 |
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天然大理石 |
コンタクトパーソン: Ms. Kaitlyn Wang
電話番号: 19376687282
ファックス: 86-769-83078748
Japanese
