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Produktdetails:
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| Maximum Measuring Speed: | 2 mm/s | Marble Dimensions: | 500 mm × 800 mm |
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| Z1 Linear Accuracy: | ≤±(0.5 +|0.02H|) μm | Warranty: | 1 Year |
| X-axis Driving Mode: | Electric | Y-axis Driving Mode: | Electric |
| Hervorheben: | Messung der Oberflächenmorphologie des XRF-Analysators,XRF-Analysator für Nanometer-Mikrometer,XRF-Analysator für die Messung der Morphologie |
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Das Oberflächentopographiemessgerät ist ein Messgerät, das speziell für die mikroskopische Morphologieanalyse hochpräziser Teile entwickelt wurde und sich durch hochpräzise Messfunktionen und hervorragende Stabilität auszeichnet.
Im Bereich der Präzisionsfertigung reicht die herkömmliche eindimensionale Messmethode nicht mehr aus, um die hohen Qualitätsanforderungen moderner Teileindustrien zu erfüllen. Obwohl die herkömmliche Größenerkennung die geometrischen Toleranzen von Teilen widerspiegeln kann, ist es schwierig, den entscheidenden Einfluss der Oberflächenmikrotopographie auf die Leistung der Teile zu erfassen.
Das Topographiemessgerät durchbricht die Grenzen traditioneller Messmethoden und ist speziell für die mikroskopische Morphologieanalyse hochpräziser Teile konzipiert. Es verwendet fortschrittliche Kontaktsensortechnologie, um Oberflächenmerkmale im Nanometer- bis Mikrometerbereich genau zu messen.
Technische Parameter
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Messbereich |
X-Achse |
120-220 mm |
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Auflösung der X-Achse |
1,2 nm |
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Z-Achse |
420 mm, 620 mm (optional) |
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Profilsensor |
Z1-Achsen-Messbereich |
30-60 mm |
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Z1-Auflösung |
1,2 nm |
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Profilgenauigkeit |
Z1 Lineare Genauigkeit |
≤±(0,5 +|0,02H|) μm |
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Kreisbogen |
±(1 + R/12) μm |
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Kreisbogen Pt |
≤0,3 μm |
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Winkel |
±1′ |
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Geradlinigkeit |
0,3 μm/100 mm (Grenzwellenlänge 0,8) |
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Fahrgeschwindigkeit |
X-Achsen-Fahrmodus |
Elektrisch |
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Y-Achsen-Fahrmodus |
Elektrisch |
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Maximale Messgeschwindigkeit |
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2 mm/s |
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Marmorabmessungen |
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500 mm × 800 mm |
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Arbeitsplatte Material |
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Naturmarmor |
Ansprechpartner: Ms. Kaitlyn Wang
Telefon: 19376687282
Faxen: 86-769-83078748