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Oberflächenmorphologie Messgerät Nanometer Mikrometer-Ographie Messgerät XRF-Analysator XRF-Analysator XRF An

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CHINA DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD zertifizierungen
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Oberflächenmorphologie Messgerät Nanometer Mikrometer-Ographie Messgerät XRF-Analysator XRF-Analysator XRF An

Surface Morphology Measuring Instrument Nanometer Micrometer ography Measurement Device XRF Analyzer XRF Analyzer XRF An
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Großes Bild :  Oberflächenmorphologie Messgerät Nanometer Mikrometer-Ographie Messgerät XRF-Analysator XRF-Analysator XRF An

Produktdetails:
Place of Origin: China
Markenname: Lonroy
Zertifizierung: ISO ASTM CE
Model Number: LR-A086
Zahlung und Versand AGB:
Minimum Order Quantity: 1
Preis: Negotaible
Verpackung Informationen: Holzpaket
Delivery Time: 5-8 work days
Zahlungsbedingungen: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Supply Ability: 200

Oberflächenmorphologie Messgerät Nanometer Mikrometer-Ographie Messgerät XRF-Analysator XRF-Analysator XRF An

Beschreibung
Maximum Measuring Speed: 2 mm/s Marble Dimensions: 500 mm × 800 mm
Z1 Linear Accuracy: ≤±(0.5 +|0.02H|) μm Warranty: 1 Year
X-axis Driving Mode: Electric Y-axis Driving Mode: Electric
Hervorheben:

Messung der Oberflächenmorphologie des XRF-Analysators

,

XRF-Analysator für Nanometer-Mikrometer

,

XRF-Analysator für die Messung der Morphologie

Oberflächenmorphologie-Messgerät, Nanometer, Mikrometer, Graphikmessgerät, RFA-Analysator, RFA-Analysator, RFA-Analysator

Oberflächenmorphologie-Messgerät, Nanometer-Mikrometer-Topographie-Messgerät

Beschreibung

Das Oberflächentopographiemessgerät ist ein Messgerät, das speziell für die mikroskopische Morphologieanalyse hochpräziser Teile entwickelt wurde und sich durch hochpräzise Messfunktionen und hervorragende Stabilität auszeichnet.

Im Bereich der Präzisionsfertigung reicht die herkömmliche eindimensionale Messmethode nicht mehr aus, um die hohen Qualitätsanforderungen moderner Teileindustrien zu erfüllen. Obwohl die herkömmliche Größenerkennung die geometrischen Toleranzen von Teilen widerspiegeln kann, ist es schwierig, den entscheidenden Einfluss der Oberflächenmikrotopographie auf die Leistung der Teile zu erfassen.

Das Topographiemessgerät durchbricht die Grenzen traditioneller Messmethoden und ist speziell für die mikroskopische Morphologieanalyse hochpräziser Teile konzipiert. Es verwendet fortschrittliche Kontaktsensortechnologie, um Oberflächenmerkmale im Nanometer- bis Mikrometerbereich genau zu messen.


Technische Parameter

Messbereich

X-Achse

120-220 mm

 

Auflösung der X-Achse

1,2 nm

 

Z-Achse

420 mm, 620 mm (optional)

Profilsensor

Z1-Achsen-Messbereich

30-60 mm

 

Z1-Auflösung

1,2 nm

Profilgenauigkeit

Z1 Lineare Genauigkeit

≤±(0,5 +|0,02H|) μm

 

Kreisbogen

±(1 + R/12) μm

 

Kreisbogen Pt

≤0,3 μm

 

Winkel

±1′

 

Geradlinigkeit

0,3 μm/100 mm (Grenzwellenlänge 0,8)

Fahrgeschwindigkeit

X-Achsen-Fahrmodus

Elektrisch

 

Y-Achsen-Fahrmodus

Elektrisch

Maximale Messgeschwindigkeit

 

2 mm/s

Marmorabmessungen

 

500 mm × 800 mm

Arbeitsplatte Material

 

Naturmarmor


Kontaktdaten
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Ansprechpartner: Ms. Kaitlyn Wang

Telefon: 19376687282

Faxen: 86-769-83078748

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