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Morphologie de surface Instrument de mesure Nanomètre micromètre ographie Appareil de mesure XRF analyseur XRF analyseur XRF An

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CHINE DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD certifications
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Morphologie de surface Instrument de mesure Nanomètre micromètre ographie Appareil de mesure XRF analyseur XRF analyseur XRF An

Surface Morphology Measuring Instrument Nanometer Micrometer ography Measurement Device XRF Analyzer XRF Analyzer XRF An
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Image Grand :  Morphologie de surface Instrument de mesure Nanomètre micromètre ographie Appareil de mesure XRF analyseur XRF analyseur XRF An

Détails sur le produit:
Place of Origin: China
Nom de marque: Lonroy
Certification: ISO ASTM CE
Model Number: LR-A086
Conditions de paiement et expédition:
Minimum Order Quantity: 1
Prix: Negotaible
Détails d'emballage: emballage en bois
Delivery Time: 5-8 work days
Conditions de paiement: L / C, D / A, D / P, T / T, Western Union
Supply Ability: 200

Morphologie de surface Instrument de mesure Nanomètre micromètre ographie Appareil de mesure XRF analyseur XRF analyseur XRF An

description de
Maximum Measuring Speed: 2 mm/s Marble Dimensions: 500 mm × 800 mm
Z1 Linear Accuracy: ≤±(0.5 +|0.02H|) μm Warranty: 1 Year
X-axis Driving Mode: Electric Y-axis Driving Mode: Electric
Mettre en évidence:

Mesure de la morphologie de surface de l'analyseur XRF

,

analyseur XRF à micromètre de nanomètre

,

instrument de mesure de la morphologie de l'analyseur XRF

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Instrument de mesure de morphologie de Surface, nanomètre, micromètre, dispositif de mesure de topographie

Description

L'instrument de mesure de topographie de surface est un appareil de mesure spécialement conçu pour l'analyse morphologique microscopique de pièces de haute précision, doté de capacités de mesure de haute précision et d'une excellente stabilité.

Dans le domaine de la fabrication de précision, la méthode traditionnelle de mesure d’une seule dimension ne suffit plus pour répondre aux exigences de qualité strictes des industries modernes de pièces. Bien que la détection conventionnelle des dimensions puisse refléter les tolérances géométriques des pièces, il est difficile de capturer l’influence clé de la microtopographie de la surface sur les performances des pièces.

L'instrument de mesure topographique dépasse les limites des méthodes de mesure traditionnelles et est spécifiquement conçu pour l'analyse morphologique microscopique de pièces de haute précision. Il adopte une technologie avancée de capteur de contact pour mesurer avec précision les caractéristiques de surface allant du nanomètre au micromètre.


Paramètres techniques

Plage de mesure

Axe X

120-220 millimètres

 

Résolution sur l'axe X

1,2 nm

 

Axe Z

420 mm, 620 mm (en option)

Capteur de profil

Plage de mesure de l'axe Z1

30-60mm

 

Résolution Z1

1,2 nm

Précision du profil

Précision linéaire Z1

≤±(0,5 +|0,02H|) μm

 

Arc de cercle

±(1 + R/12) μm

 

Arc Circulaire Pt

≤0,3 μm

 

Angle

±1′

 

Rectitude

0,3 μm/100 mm (longueur d'onde de coupure 0,8)

Vitesse de conduite

Mode de conduite sur l'axe X

Électrique

 

Mode de conduite sur l'axe Y

Électrique

Vitesse de mesure maximale

 

2 mm/s

Dimensions du marbre

 

500 mm × 800 mm

Comptoir Matériel

 

Marbre naturel


Coordonnées
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Personne à contacter: Ms. Kaitlyn Wang

Téléphone: 19376687282

Télécopieur: 86-769-83078748

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