logo
Αρχική Σελίδα ΠροϊόνταΑναλυτής XRF

Επιφανειακή μορφολογία Μηχανισμός μέτρησης Νανόμετρος Μικρομετρητής ογραφία Μηχανισμός μέτρησης XRF Αναλυτής XRF Αναλυτής XRF An

Επιφανειακή μορφολογία Μηχανισμός μέτρησης Νανόμετρος Μικρομετρητής ογραφία Μηχανισμός μέτρησης XRF Αναλυτής XRF Αναλυτής XRF An

Surface Morphology Measuring Instrument Nanometer Micrometer ography Measurement Device XRF Analyzer XRF Analyzer XRF An
Surface Morphology Measuring Instrument Nanometer Micrometer ography Measurement Device XRF Analyzer XRF Analyzer XRF An

Μεγάλες Εικόνας :  Επιφανειακή μορφολογία Μηχανισμός μέτρησης Νανόμετρος Μικρομετρητής ογραφία Μηχανισμός μέτρησης XRF Αναλυτής XRF Αναλυτής XRF An

Λεπτομέρειες:
Place of Origin: China
Μάρκα: Lonroy
Πιστοποίηση: ISO ASTM CE
Model Number: LR-A086
Πληρωμής & Αποστολής Όροι:
Minimum Order Quantity: 1
Τιμή: Negotaible
Συσκευασία λεπτομέρειες: ξύλιμο πακέτο
Delivery Time: 5-8 work days
Όροι πληρωμής: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Supply Ability: 200

Επιφανειακή μορφολογία Μηχανισμός μέτρησης Νανόμετρος Μικρομετρητής ογραφία Μηχανισμός μέτρησης XRF Αναλυτής XRF Αναλυτής XRF An

περιγραφή
Maximum Measuring Speed: 2 mm/s Marble Dimensions: 500 mm × 800 mm
Z1 Linear Accuracy: ≤±(0.5 +|0.02H|) μm Warranty: 1 Year
X-axis Driving Mode: Electric Y-axis Driving Mode: Electric
Επισημαίνω:

Μέτρηση της μορφολογίας της επιφάνειας του αναλυτή XRF

,

Αναλυτής XRF μικρομετρικού νανομέτρου

,

Μηχανή μέτρησης μορφολογίας αναλυτή XRF

Επιφανειακή μορφολογία Μηχανισμός μέτρησης Νανόμετρος Μικρομετρητής ογραφία Μηχανισμός μέτρησης XRF Αναλυτής XRF Αναλυτής XRF An

Μηχανή μέτρησης μορφολογίας επιφάνειας Νανόμετρος Μικρόμετρος Τοπογραφία

Περιγραφή

Το όργανο μέτρησης τοπογραφίας επιφάνειας είναι μια συσκευή μέτρησης ειδικά σχεδιασμένη για την μικροσκοπική ανάλυση μορφολογίας εξαρτημάτων υψηλής ακρίβειας,με δυνατότητες μέτρησης υψηλής ακρίβειας και εξαιρετική σταθερότητα.

Στο πεδίο της κατασκευής ακριβείας, η παραδοσιακή μέθοδος μέτρησης μιας μόνο διάστασης δεν επαρκεί πλέον για να ανταποκριθεί στις αυστηρές απαιτήσεις ποιότητας των σύγχρονων βιομηχανιών για τα εξαρτήματα.Αν και η συμβατική ανίχνευση μεγέθους μπορεί να αντικατοπτρίζει τις γεωμετρικές ανοχές των εξαρτημάτων, είναι δύσκολο να συλληφθεί η βασική επιρροή της μικροτοπογραφίας της επιφάνειας στις επιδόσεις των εξαρτημάτων.

Το όργανο μέτρησης τοπογραφίας σπάει τους περιορισμούς των παραδοσιακών μεθόδων μέτρησης και έχει σχεδιαστεί ειδικά για τη μικροσκοπική ανάλυση μορφολογίας εξαρτημάτων υψηλής ακρίβειας.Χρησιμοποιεί προηγμένη τεχνολογία αισθητήρων επαφής για την ακριβή μέτρηση των χαρακτηριστικών της επιφάνειας που κυμαίνονται από νανομέτρα έως μικρομέτρα.


Τεχνικές παραμέτρους

Πεδίο μέτρησης

Άξονας Χ

120-220 mm

 

Ανάλυση στον άξονα Χ

1.2 nm

 

Άξονας Z

420 mm, 620 mm (προαιρετικά)

Αισθητήρας προφίλ

Περιοχή μέτρησης στον άξονα Z1

30-60 mm

 

Ψήφισμα Z1

1.2 nm

Ακριβότητα προφίλ

Ζ1 Γραμμική ακρίβεια

≤ ± 0,5 + 0,02H μm

 

Στρογγυλό τόξο

±(1 + R/12) μm

 

Στρογγυλό τόξο Pt

≤ 0,3 μm

 

Γωνία

±1′

 

Καθαρότητα

0.3 μm/100 mm (μήκος κύματος διαχωρισμού 0,8)

Ταχύτητα οδήγησης

Τρόπος οδήγησης στον άξονα Χ

Ηλεκτρικό

 

Τρόπος οδήγησης στον άξονα Y

Ηλεκτρικό

Μέγιστη ταχύτητα μέτρησης

 

2 mm/s

Διαστάσεις μαρμάρου

 

500 mm × 800 mm

Πίνακας εργασίας Υλικό

 

Γεωργία


Στοιχεία επικοινωνίας
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Ms. Kaitlyn Wang

Τηλ.:: 19376687282

Φαξ: 86-769-83078748

Στείλετε το ερώτημά σας απευθείας σε εμάς (0 / 3000)

Άλλα προϊόντα