Il diffrattometro AL-Y500 è l'ultimo modello di diffrattometro a raggi X bidimensionale da tavolo. Adotta il metodo di rilevamento a fotocamera fissa, diverso dai diffrattometri tradizionali a scansione. Il rilevatore a semiconduttore a conteggio di fotoni a matrice di raggi X consente modalità di compatibilità 0D, 1D e 2D per punti, linee e superfici. 

È utilizzato principalmente per l'analisi qualitativa e quantitativa di campioni policristallini, inclusa l'analisi quantitativa senza campioni di riferimento, la determinazione della cristallinità, l'analisi della struttura cristallina, l'analisi della struttura dei materiali, la misurazione delle dimensioni dei grani, la raffinazione della struttura, l'analisi micro-area, l'analisi dello stress di film sottili e texture, ecc. È applicabile a vari campi e industrie come minerali, prodotti farmaceutici, prodotti chimici, metalli e leghe, materiali da costruzione, nanomateriali, batterie, campioni alimentari, campioni biologici, ecc.

Caratteristiche:

1.Il rilevatore esegue la fotografia fissa, che è diversa dallo strumento di diffrazione tradizionale a scansione. La modalità di fotografia è altamente efficiente e veloce, circa 5-30 volte più veloce della modalità di scansione. È adatta per l'analisi in situ e le informazioni di diffrazione da tutte le angolazioni possono essere raccolte simultaneamente. Ha un'elevata risoluzione energetica, riducendo efficacemente il background di fluorescenza. 

2.Lo strumento di misurazione dell'angolo θs e θd adotta la tecnologia di azionamento del servomotore e di controllo della codifica ottica. Il rilevatore può eseguire il movimento a doppia posizione lungo l'asse 2θ. La rotazione dello strumento di misurazione dell'angolo è più stabile, la misurazione dell'angolo di diffrazione è più accurata e la linearità è migliore. Quando il campione ruota lungo l'asse θ, la precisione di controllo è di 0,01° e la precisione dell'angolo dell'asse 2θ è di ±0,02°.

3.I componenti del rilevatore sono composti da più unità di rilevamento, che sono uniformemente distribuite in modo fisso lungo il cerchio di diffrazione e forniscono una copertura senza soluzione di continuità per tutte le angolazioni; i rilevatori a matrice planare a doppio strato a 21 piastre (o a strato singolo a 10 piastre) coprono l'intervallo 2θ: da -3° a 150°. Si ottiene l'imaging 2D, raccogliendo simultaneamente le informazioni sull'angolo γ, i dati di diffrazione bidimensionale e le informazioni sono più abbondanti.

4.Rilevatore a semiconduttore a conteggio fotonico planare a raggi X, con alta sensibilità, in grado di conteggio di singoli fotoni, ampia gamma dinamica, doppie soglie; sorgenti luminose a punto e linea intercambiabili, che combinano le geometrie ottiche Debye-Scherrer e BB, compatibili con campioni planari e cilindrici, compatibili con le modalità 2D, 1D e OD del rilevatore. Inoltre, ha una forte resistenza alle radiazioni e una lunga durata.

5.Il dispositivo di protezione dalle radiazioni diffuse è più sicuro e affidabile. Durante la misurazione del campione, la porta di protezione dalle radiazioni si bloccherà automaticamente, garantendo che gli operatori non siano esposti alle radiazioni diffuse in nessuna circostanza.

6.Le dimensioni compatte consentono l'installazione su un banco di prova, senza la necessità di un ambiente di laboratorio specifico. È semplice da usare, da utilizzare e da manutenere.

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