AL-Y500 adalah model terbaru dari bench-top dua dimensi X-ray diffractometer.yang berbeda dari diffractometer jenis pemindaian tradisionalDetektor semikonduktor penghitungan foton jenis array sinar-X memungkinkan mode kompatibilitas 0D, 1D dan 2D untuk titik, garis dan permukaan.

Hal ini terutama digunakan untuk analisis kualitatif dan kuantitatif dari sampel polikristalin, termasuk analisis kuantitatif tanpa sampel referensi, penentuan kristalinitas,analisis struktur kristal, analisis struktur material, pengukuran ukuran butir, penyempurnaan struktur, analisis area mikro, analisis film tipis dan tekanan tekstur, dll.Hal ini berlaku untuk berbagai bidang dan industri seperti mineral, obat-obatan, bahan kimia, logam dan paduan, bahan bangunan, nanomaterial, baterai, sampel makanan, sampel biologis, dll.

Fitur:

1.Detektor melakukan fotografi tetap, yang berbeda dari instrumen difraksi jenis pemindaian tradisional.sekitar 5-30 kali lebih cepat dari mode pemindaianIni cocok untuk analisis in situ, dan informasi difraksi dari semua sudut dapat dikumpulkan secara bersamaan.efektif mengurangi latar belakang fluoresensi.

2.Instrumen pengukuran sudut θs dan θd lengan mengadopsi servo motor drive dan teknologi kontrol pengkodean optik.Rotasi instrumen pengukuran sudut lebih stabil, pengukuran sudut difraksi lebih akurat, dan linearitas lebih baik. Ketika sampel berputar di sepanjang sumbu θ, akurasi kontrol adalah 0,01°, dan akurasi sudut sumbu 2θ adalah ±0.02°.

3.Komponen detektor terdiri dari beberapa unit detektor, yang didistribusikan secara seragam dan tetap di sepanjang lingkaran difraksi dan memberikan cakupan yang mulus untuk semua sudut;detektor array planar berlapis ganda berlapis 21 (atau berlapis tunggal berlapis 10) mencakup kisaran 2θ: -3° sampai 150°. Pencitraan 2D dicapai, secara bersamaan mengumpulkan informasi γ sudut, data difraksi dua dimensi, dan informasi yang lebih berlimpah.

4.Detektor semikonduktor penghitungan fotonik planar sinar-X, dengan sensitivitas tinggi, mampu penghitungan foton tunggal, rentang dinamis besar, ambang dua; sumber cahaya titik dan garis yang dapat ditukar,menggabungkan geometri optik Debye-Scherrer dan BB, kompatibel dengan sampel planar dan silinder, kompatibel dengan mode detektor 2D, 1D, dan OD. Selain itu, ia memiliki ketahanan radiasi yang kuat dan umur layanan yang panjang.

5.Perangkat perlindungan radiasi dispersi lebih aman dan lebih dapat diandalkan.memastikan bahwa operator tidak akan terpapar radiasi penyebaran dalam keadaan apapun.

6.Ukuran kompaknya memungkinkan untuk dipasang di bangku percobaan, tanpa perlu lingkungan laboratorium khusus.

Parameter teknis