De AL-Y500 diffractometer is het nieuwste model van een bench-top tweedimensionale röntgendiffractometer. Het maakt gebruik van een vaste camera detectiemethode, die verschilt van traditionele scanning-type diffractometers. De röntgenstraal array-type foton-telling halfgeleiderdetector maakt compatibiliteitsmodi van 0D, 1D en 2D mogelijk voor punten, lijnen en oppervlakken. 

Het wordt voornamelijk gebruikt voor kwalitatieve en kwantitatieve analyse van polykristallijne monsters, inclusief kwantitatieve analyse zonder referentiemonsters, bepaling van kristalliniteit, kristalstructuuranalyse, materiaalstructuuranalyse, korrelgrootte meting, structuurverfijning, micro-gebied analyse, dunne film en textuur spanningsanalyse, etc. Het is van toepassing op verschillende gebieden en industrieën zoals mineralen, farmaceutica, chemicaliën, metalen en legeringen, bouwmaterialen, nanomaterialen, batterijen, voedselmonsters, biologische monsters, etc.

Kenmerken:

1.De detector voert vaste fotografie uit, wat verschilt van het traditionele scanning-type diffractie-instrument. De fotografiemodus is zeer efficiënt en snel, ongeveer 5-30 keer sneller dan de scanningmodus. Het is geschikt voor in-situ analyse en de diffractie-informatie vanuit alle hoeken kan tegelijkertijd worden verzameld. Het heeft een hoge energie resolutie, waardoor de fluorescentie achtergrond effectief wordt verminderd. 

2.De hoekmeetinstrumenten θs en θd armen gebruiken servomotor aandrijving en optische codering controletechnologie. De detector kan dubbele positie beweging uitvoeren langs de 2θ as. De rotatie van het hoekmeetinstrument is stabieler, de diffractie hoekmeting is nauwkeuriger en de lineariteit is beter. Wanneer het monster roteert langs de θ as, is de controle nauwkeurigheid 0,01°, en de nauwkeurigheid van de 2θ as hoek is ±0,02°.

3.De detectorcomponenten zijn samengesteld uit meerdere detectoreenheden, die uniform vast verdeeld zijn langs de diffractiecirkel en naadloze dekking bieden voor alle hoeken; dubbellaagse 21-plaat (of enkellaagse 10-plaat) planaire array detectoren dekken het 2θ bereik: -3° tot 150°. 2D-beeldvorming wordt bereikt, waarbij tegelijkertijd γ hoekinformatie, tweedimensionale diffractiegegevens worden verzameld en de informatie overvloediger is.

4.Röntgenstraal planaire foton-telling halfgeleiderdetector, met hoge gevoeligheid, in staat tot enkele foton-telling, groot dynamisch bereik, dubbele drempels; verwisselbare punt- en lijnlichtbronnen, die Debye-Scherrer en BB optische geometrieën combineren, compatibel met planaire en cilindrische monsters, compatibel met detector 2D, 1D en OD modi. Bovendien heeft het een sterke stralingsweerstand en een lange levensduur.

5.Het beschermingsapparaat tegen verstrooide straling is veiliger en betrouwbaarder. Tijdens de monstermeting wordt de stralingsbeschermingsdeur automatisch vergrendeld, waardoor wordt gegarandeerd dat operators onder geen enkele omstandigheid worden blootgesteld aan verstrooide straling.

6.Het compacte formaat maakt het mogelijk om het op een experimentele bank te installeren, zonder dat een specifieke laboratoriumomgeving nodig is. Het is eenvoudig te gebruiken, te bedienen en te onderhouden.

Technische Parameter