Das AL-Y500-Diffraktometer ist das neueste Modell eines zweidimensionalen Röntgendiffraktometers.die sich von herkömmlichen Diffraktometern des Scanning-Typs unterscheidetDer Röntgen-Array-Typ-Fotonenzähl-Halbleiterdetektor ermöglicht Kompatibilitätsmodi von 0D, 1D und 2D für Punkte, Linien und Oberflächen.

Es wird hauptsächlich für die qualitative und quantitative Analyse von polykristallinen Proben verwendet, einschließlich der quantitativen Analyse ohne Referenzproben, der Bestimmung der Kristallinität,Analyse der Kristallstruktur, Analyse der Materialstruktur, Messung der Korngröße, Strukturverfeinerung, Mikroflächenanalyse, Dünnschicht- und Texturspannungsanalyse usw.Es ist auf verschiedene Bereiche und Branchen wie Mineralien anwendbar., Pharmazeutika, Chemikalien, Metalle und Legierungen, Baustoffe, Nanomaterialien, Batterien, Lebensmittelproben, biologische Proben usw.

Eigenschaften:

1.Der Detektor erfolgt mit einer festgelegten Photographie, die sich von der traditionellen Diffraktionsanlage des Scanning-Types unterscheidet.etwa 5-30 mal schneller als der ScanmodusEs ist für die In-situ-Analyse geeignet und die Diffraktionsinformationen aus allen Blickwinkeln können gleichzeitig gesammelt werden.Wirksam reduziert das Fluoreszenzhintergrundbild.

2.Das Winkelmessgerät θs und θd-Arme setzen Servomotorantrieb und optische Codierungstechnik ein. Der Detektor kann eine doppelpositionelle Bewegung entlang der 2θ-Achse durchführen.Die Drehung des Winkelmessgeräts ist stabilerWenn die Probe entlang der θ-Achse gedreht wird, beträgt die Genauigkeit der Steuerung 0,01°, und die Genauigkeit des 2θ-Achse-Winkels beträgt ±0..02°.

3.Die Detektorkomponenten bestehen aus mehreren Detektor-Einheiten, die sich gleichmäßig und fest entlang des Beugungskreises verteilen und eine nahtlose Abdeckung für alle Winkel bieten;Doppelschicht-Detektoren mit 21 Platten (oder mit nur einer Schicht mit 10 Platten) für ein flaches Array, die den Bereich von 2θ abdecken: -3° bis 150°. 2D-Bildgebung wird erreicht, wobei gleichzeitig γ-Winkelinformationen, zweidimensionale Beugungsdaten gesammelt werden, und die Informationen sind reichhaltiger.

4.Röntgenplanarfotonische Halbleiterdetektor mit hoher Empfindlichkeit, für die Zählung von einzelnen Photonen geeignet, großer dynamischer Bereich, doppelte Schwellenwerte; austauschbare Punkt- und Linienlichtquellen,Kombination von Debye-Scherrer- und BB-optischen Geometrien, kompatibel mit ebenen und zylindrischen Proben, kompatibel mit Detektormodus 2D, 1D und OD. Darüber hinaus hat es eine starke Strahlungsbeständigkeit und eine lange Lebensdauer.

5.Die Strahlenschutzvorrichtung ist sicherer und zuverlässiger.Sicherstellung, dass die Betreiber unter keinen Umständen einer Streuungsstrahlung ausgesetzt sind.

6.Die kompakte Größe ermöglicht die Installation auf einer Versuchsbank, ohne dass eine spezielle Laborumgebung erforderlich ist.

Technischer Parameter