DM8116 MWDXRF Μικροαναλυτής θείου Αυτολειτουργικό θερμομετρικό βόμβας οξυγόνου

 DM8116 MWDXRF Μικροαναλυτής Θείου με Φασματοσκοπία Φθορισμού Ακτίνων Χ και Αυτόματη Λειτουργία

Deσcription:

Ο μικροαναλυτής θείου DM8116 με φασματοσκοπία φθορισμού ακτίνων Χ με διασπορά μήκους κύματος μονοχρωματικής διέγερσης, συντομογραφικά DM8116 MWDXRF, είναι ο πρώτος φασματογράφος φθορισμού ακτίνων Χ με μονοχρωματική διέγερση σημείο προς σημείο που αναπτύχθηκε από την εταιρεία μας, βασισμένος σε δεκαετίες ερευνητικής εμπειρίας σε φασματογράφους φθορισμού ακτίνων Χ και στα υπάρχοντα φασματογράφους θείου φθορισμού ακτίνων Χ της εταιρείας DM, αναλυτές πολλαπλών στοιχείων φθορισμού ακτίνων Χ και φασματογράφους πολλαπλών καναλιών φθορισμού ακτίνων Χ με διασπορά μήκους κύματος. Υιοθετεί τις ακόλουθες τεχνολογίες και εξαρτήματα, καθιστώντας το DM8116 με σωλήνα ακτίνων Χ 50W να έχει εξαιρετική αναπαραγωγιμότητα και σταθερότητα, καθώς και χαμηλό όριο ανίχνευσης, αυξάνοντας αποτελεσματικά το επίπεδο ανίχνευσης σε ένα νέο ύψος.

Τεχνολογία ανάλυσης φθορισμού ακτίνων Χ με διασπορά μήκους κύματος μονοχρωματικής διέγερσης (MWDXRF) εστιασμένη σημείο προς σημείο

Το όριο ανίχνευσης (LOD) ενός φασματογράφου φθορισμού ακτίνων Χ αναφέρεται στην αντίστοιχη ποσότητα τριών φορών της τυπικής απόκλισης του σήματος υποβάθρου του οργάνου που δημιουργείται από το κενό της μήτρας, δηλαδή:

(1) Στον τύπο, το Rb αντιπροσωπεύει την ένταση καταμέτρησης υποβάθρου (υπόβαθρο), το N είναι η ένταση καταμέτρησης του δείγματος χαμηλής συγκέντρωσης με γνωστή συγκέντρωση C και το T είναι ο χρόνος μέτρησης. Από την εξίσωση (1), μπορεί να φανεί ότι το όριο ανίχνευσης είναι αντιστρόφως ανάλογο της ευαισθησίας (N - Rb) / C και ευθέως ανάλογο της τετραγωνικής ρίζας του υποβάθρου Rb. Υπό την προϋπόθεση ενός σταθερού χρόνου μέτρησης, για να μειωθεί το όριο ανίχνευσης, είναι απαραίτητο να αυξηθεί η ευαισθησία και/ή να μειωθεί το υπόβαθρο.

Ικανοποιεί τις απαιτήσεις για την ανίχνευση εξαιρετικά χαμηλής περιεκτικότητας σε θείο της βενζίνης και του ντίζελ αυτοκινήτων, όπως ορίζεται στα πρότυπα National V και National VI.

Χαμηλό όριο ανίχνευσης (300s): 0,33 μέρη ανά εκατομμύριο.

Το DM8116 υιοθετεί την τεχνολογία ανάλυσης φθορισμού ακτίνων Χ με διασπορά μήκους κύματος μονοχρωματικής διέγερσης (Monochromatic Excitation Beam Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence) εστιασμένη σημείο προς σημείο. Αυτό σημαίνει ότι στην οπτική διαδρομή διέγερσης, χρησιμοποιείται μια οπτική συσκευή εστιασμένη σημείο προς σημείο για να χρωματίσει μονοχρωματικά το φάσμα εκπομπής από τον σωλήνα ακτίνων Χ, μειώνοντας έτσι το συνεχές υπόβαθρο σκέδασης του φάσματος φθορισμού του δείγματος. Ταυτόχρονα, επιτυγχάνεται τρισδιάστατη εστίαση για να αυξηθεί η ένταση των μονοχρωματικών γραμμών ή των στενών ενεργειακών ζωνών των απαιτούμενων ακτίνων Χ διέγερσης, βελτιώνοντας έτσι την ευαισθησία. Στην οπτική διαδρομή ανίχνευσης, χρησιμοποιείται μια άλλη οπτική συσκευή εστιασμένη σημείο προς σημείο για να διασπαστεί το φάσμα φθορισμού για ανίχνευση υψηλής ανάλυσης. Ταυτόχρονα, επιτυγχάνεται τρισδιάστατη εστίαση για να αυξηθεί η ένταση των χαρακτηριστικών γραμμών φθορισμού του δείγματος που απαιτούνται για τη συλλογή, βελτιώνοντας έτσι την ευαισθησία. Ως αποτέλεσμα, το όριο ανίχνευσης μειώνεται σημαντικά. Σε σύγκριση με το παραδοσιακό EDXRF, μειώνεται κατά 1 έως 2 τάξεις μεγέθους. Σε σύγκριση με το παραδοσιακό WDXRF υψηλής ισχύος (όπως 4kw), είναι επίσης πολύ χαμηλότερο.

Υιοθετεί

Τεχνολογία ανάλυσης φθορισμού ακτίνων Χ με διασπορά μήκους κύματος μονοχρωματικής (MWDXRF)

Κρύσταλλο τεχνητό υψηλής απόδοσης περίθλασης λογαριθμικής σπειροειδούς διπλής καμπύλης κωνικής (LSDCC)

Έναν σωλήνα ακτίνων Χ μικροεστίασης με λεπτό παράθυρο βηρυλλίου με έναν λογικό συνδυασμό kV, mA και υλικού στόχου.

Πρότυπο

GB/T 11140

ISO20884

SH/T 0842

ASTM D2622

ASTM D7039

ASTM D7220

Τεχνικές παράμετροι