Πετρέλαιο, άνθρακας: πετρέλαιο, λιπαντικό λάδι, βαρύ λάδι, πολυμερές, άνθρακας, κοκς κλπ.
Κεραμική, τσιμέντο: κεραμική, ανθεκτικά υλικά, πετρώματα, γυαλί, τσιμέντο, πρώτες ύλες και πρώτες ύλες τσιμέντου, κλίνκερ, ασβεστόλιθος, πηλό κλπ.
Γεωργία, τρόφιμα: έδαφος, υπολείμματα φυτοφαρμάκων, λιπάσματα, φυτά, διάφορα τρόφιμα κλπ.
Μη σιδηρούχια μέταλλα: κράματα χαλκού, κράματα αλουμινίου, κράματα μολύβδου, κράματα ψευδαργύρου, κράματα μαγνησίου, κράματα τιτανίου, πολύτιμα μέταλλα κλπ.
Σίδηρος και χάλυβας: χάλυβας, χυτοσίδηρος, ανοξείδωτος χάλυβας, χαμηλής κράσεως χάλυβας, υψηλής κράσεως χάλυβας, ειδικού χάλυβα, σιδηροσίδηρου, σιδηρομεταλλεύματος, σκούρας, διάλυμα ηλεκτροπληγήσεως, άμμος χύτευσης κλπ.
Χημική βιομηχανία: ανόργανες οργανικές ουσίες και προϊόντα, καλλυντικά, απορρυπαντικά, καουτσούκ, τόνοι, καταλύτες, επικαλύψεις, χρωστικές ύλες, φάρμακα, χημικές ίνες κλπ.
Περιβάλλον: όλα τα είδη αποβλήτων, βιομηχανικά απόβλητα, ατμοσφαιρική σκόνη, βιομηχανικά λύματα, θαλάσσια νερά, νερά ποταμών κλπ.
Βιολογικές επιστήμες: οργανισμοί, βοηθητικές επιστήμες κλπ.
EDXRF Διασκορπισμός ενέργειας Φθορισμός ακτίνων Χ Φθορισμός ακτίνων Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Ρ
6.Κύρια στοιχεία και τεχνικές παραμέτρους
Το όριο ανίχνευσης των επιβλαβών στοιχείων Cd, Pd, Cr, Hg και Br περιορίζεται σύμφωνα με τις οδηγίες ROHS
Όριο ανίχνευσης (Cd, Pd, Cr, Hg, Br): 2 ppm
Ανιχνευτής Si ((PIN) ή SDDΗ ανάλυση του ανιχνευτή είναι ένας από τους κύριους δείκτες για την αξιολόγηση της απόδοσης του ενεργειακού διασκορπιστικού φασματομέτρου XRF.
Ταχύτητα μετρήσεως > 1000/S Κρυστάλλινη έκταση > 15m2 Μοντέλο βεριλίου πάχος = 0,025mm
Δύναμη ανίχνευσης < 1,2 W
Πολυκανάλιος αναλυτήςΑριθμός καναλιών: 2048
Ελεγκτής ισχύοςΕλέγχος ισχύος του συστήματος: +5 VDC σε 250 mA ((1,2 W)
Ελέγχος σταθερής ψύξης: 400 VDC
Τύπος ακτινογραφίαςΟ σωλήνας ακτινοβολίας, ειδικά επεξεργασμένος με ενσωματωμένο μόλυβδο στο εσωτερικό, προστατεύεται σε πλήρη εμβέλεια, αφήνοντας μόνο το πλευρικό παράθυρο για την έξοδο ακτίνων Χ.Το κονσερβοποιημένο μονωτικό έλαιο χρησιμοποιείται για μονωτική και ψύξη υψηλής τάσης, 0,005 ιντσών παράθυρο Beryllium, ονομαστική κατανάλωση ισχύος 50W, ονομαστική ισχύς 50kV. Σχεδιασμένη διάρκεια ζωής >15000h.
Γεννήτρια υψηλής τάσης
Εισαγωγή: 85 ~ 265VAC, 47 ~ 63Hz, Διορθώσεις του συντελεστή ισχύος.1kV ~ 5kV συμμορφώνονται με το πρότυπο εισόδου UL85 ~ 250VAC Διακύμανση τάσης: 0,01% της τάσης εξόδου από μη φορτίο σε πλήρες φορτίο
Διακύμανση ρεύματος: 0 ~ ονομαστική ισχύς, 0,01% του ρεύματος εξόδου Ripple: Peak - peak της τάσης εξόδου 0,25% Διακύμανση θερμοκρασίας:τάση ή ρεύμα, 0,01%/oC
Σταθερότητα: 0,05%/8h μετά την προθέρμανση επί μισή ώρα
EDXRF Διασκορπισμός ενέργειας Φθορισμός ακτίνων Χ Φθορισμός ακτίνων Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Χ Ρ
7Τεχνικές παραμέτρους
|
|
Αλ - NP - 5010A
|
|
|
Ανάλυση φθορισμού ακτίνων Χ με διασπορά ενέργειας
|
|
|
Οποιοδήποτε στοιχείο από το Na ((11) ~ U ((92)
|
|
|
Cd/Hg/Br/Cr/Pb ≤ 2ppm
|
|
|
Ανεξάρτητο μέγεθος, κάθε ακανόνιστο σχήμα
|
|
|
Πλαστικό/μεταλλικό/φίλμ/δόχτυ/ρευστό κλπ.
|
|
|
|
Μo
|
|
|
5-50KV
|
|
|
1-1000μA
|
Διάμετρος έκθεσης δείγματος
|
2, 5, 8mm
|
|
|
Ανιχνευτής Si-PIN ή SDD, σύστημα ανάλυσης ύψους παλμού υψηλής ταχύτητας
|
|
|
Ειδικός γεννήτης HV για φθορά Χ
|
|
|
2048 κανάλια
|
|
|
Τα 6 φίλτρα επιλέγονται και μετατρέπονται αυτόματα
|
|
|
200 * χρωματική κάμερα CCD
|
|
|
Παρεγκεκριμένα προϊόντα λογισμικού, δωρεάν αναβάθμιση για πάντα
|
|
|
Θεωρητική μέθοδος α συντελεστή, μέθοδος βασικών παραμέτρων, εμπειρική μέθοδος συντελεστή
|
|
|
30-900 δευτερόλεπτα, ρυθμιζόμενο
|
Λογισμικό λειτουργικού συστήματος
|
WINDOWS XP
|
Σύστημα επεξεργασίας δεδομένων
|
|
Επιχειρηματικό μοντέλο υπολογιστών
|
|
|
≥ 2,8G
|
|
|
≥ 2G
|
|
|
8*DVD
|
|
|
≥ 500G
|
|
|
22 ′′ ή 24 ′′ οθόνη LCD
|
|
|
Θερμοκρασία 10-35 °C, υγρασία 30-90% RH
|