เครื่องวิเคราะห์ซัลเฟอร์ขนาดเล็ก DM8116 MWDXRF และเครื่องวัดแคลอรีมิเตอร์ระเบิดออกซิเจนแบบทำงานเอง

 DM8116 MWDXRF เครื่องวิเคราะห์ซัลเฟอร์ขนาดเล็กแบบไมโครโฟนพร้อมเครื่องวัดความร้อนออกซิเจนแบบทำงานเอง

Description:

เครื่องวิเคราะห์ซัลเฟอร์ขนาดเล็กแบบไมโครโฟน DM8116 monochromatic excitation wavelength dispersive X-ray fluorescence หรือเรียกสั้นๆ ว่า DM8116 MWDXRF micro-sulfur analyzer เป็นเครื่องสเปกโตรมิเตอร์ XRF แบบ monochromatic excitation แบบจุดต่อจุดเครื่องแรกที่พัฒนาโดยบริษัทของเรา โดยอิงจากประสบการณ์การวิจัยหลายทศวรรษในเครื่องสเปกโตรมิเตอร์ X-ray fluorescence และเครื่องวิเคราะห์ซัลเฟอร์ X-ray fluorescence ซีรีส์ DM ที่มีอยู่ของบริษัท เครื่องวิเคราะห์หลายองค์ประกอบ X-ray fluorescence และเครื่องสเปกโตรมิเตอร์หลายช่องสัญญาณ X-ray fluorescence แบบ wavelength dispersive โดยใช้เทคโนโลยีและส่วนประกอบดังต่อไปนี้ ทำให้ DM8116 ที่มีหลอด X-ray ขนาด 50W มีความสามารถในการทำซ้ำและความเสถียรที่โดดเด่น รวมถึงขีดจำกัดการตรวจจับต่ำ ซึ่งช่วยยกระดับการตรวจจับให้สูงขึ้นอย่างมีประสิทธิภาพ

เทคโนโลยีการวิเคราะห์ X-ray fluorescence แบบ monochromatic excitation wavelength dispersive (MWDXRF) แบบจุดต่อจุด

ขีดจำกัดการตรวจจับ (LOD) ของเครื่องสเปกโตรมิเตอร์ X-ray fluorescence หมายถึงปริมาณที่สอดคล้องกันของค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานสามเท่าของสัญญาณพื้นหลังของเครื่องมือที่สร้างขึ้นโดยเมทริกซ์เปล่า นั่นคือ:

(1) ในสูตร Rb แสดงถึงความเข้มของจำนวนพื้นหลัง (พื้นหลัง) N คือความเข้มของจำนวนของตัวอย่างที่มีความเข้มข้นต่ำพร้อมความเข้มข้น C ที่ทราบ และ T คือเวลาในการวัด จากสมการ (1) จะเห็นได้ว่าขีดจำกัดการตรวจจับแปรผกผันกับความไว (N - Rb) / C และแปรผันโดยตรงกับรากที่สองของพื้นหลัง Rb ภายใต้เงื่อนไขของเวลาในการวัดคงที่ เพื่อลดขีดจำกัดการตรวจจับ จำเป็นต้องเพิ่มความไวและ/หรือลดพื้นหลัง

ตรงตามข้อกำหนดสำหรับการตรวจจับปริมาณกำมะถันต่ำพิเศษของน้ำมันเบนซินและดีเซลสำหรับยานยนต์ตามที่กำหนดไว้ในมาตรฐานแห่งชาติ V และมาตรฐานแห่งชาติ VI

ขีดจำกัดการตรวจจับต่ำ (300 วินาที): 0.33 ส่วนต่อล้านส่วน

DM8116 ใช้เทคโนโลยีการวิเคราะห์ X-ray fluorescence แบบ wavelength dispersion แบบ monochromatic excitation (Monochromatic Excitation Beam Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence) แบบจุดต่อจุด ซึ่งหมายความว่าในเส้นทางแสงกระตุ้น จะใช้อุปกรณ์ออปติคัลแบบจุดต่อจุดเพื่อทำให้สเปกตรัมการปล่อยจากหลอด X-ray เป็นสีเดียว จึงช่วยลดพื้นหลังการกระเจิงอย่างต่อเนื่องของสเปกตรัมการเรืองแสงของตัวอย่าง ในเวลาเดียวกัน จะมีการโฟกัสแบบสามมิติเพื่อให้ความเข้มของเส้นสีเดียวหรือแถบพลังงานแคบของ X-rays กระตุ้นที่ต้องการเพิ่มขึ้น จึงช่วยเพิ่มความไว ในเส้นทางแสงตรวจจับ จะใช้อุปกรณ์ออปติคัลแบบจุดต่อจุดอีกชุดหนึ่งเพื่อกระจายสเปกตรัมการเรืองแสงสำหรับการตรวจจับความละเอียดสูง ในเวลาเดียวกัน จะมีการโฟกัสแบบสามมิติเพื่อให้ความเข้มของเส้นการเรืองแสงลักษณะเฉพาะของตัวอย่างที่จำเป็นสำหรับการรวบรวมเพิ่มขึ้น จึงช่วยเพิ่มความไว ด้วยเหตุนี้ ขีดจำกัดการตรวจจับจึงลดลงอย่างมาก เมื่อเทียบกับ EDXRF แบบดั้งเดิม จะลดลง 1 ถึง 2 ระดับขนาด เมื่อเทียบกับ WDXRF กำลังสูงแบบดั้งเดิม (เช่น 4kw) ก็ต่ำกว่ามากเช่นกัน

ใช้

เทคโนโลยีการวิเคราะห์ X-ray fluorescence แบบ wavelength-dispersive monochromatic (MWDXRF)

คริสตัลเทียมแบบเกลียวคู่แบบลอการิทึมประสิทธิภาพการเลี้ยวเบนสูง (LSDCC)

หลอด X-ray หน้าต่างเบริลเลียมบางแบบไมโครโฟกัสพร้อมการผสมผสานที่เหมาะสมของ kV, mA และวัสดุเป้าหมาย

มาตรฐาน

GB/T 11140

ISO20884

SH/T 0842

ASTM D2622

ASTM D7039

ASTM D7220

พารามิเตอร์ทางเทคนิค