|
Productdetails:
|
| Angle: | ±1′ | Residual Noise: | ≤0.006μm |
|---|---|---|---|
| Indication Accuracy: | ≤±(6nm + 2.5%) | Warranty: | 1year |
| Marble Dimensions: | 500mm × 800mm | Repeatability: | 1δ≤1nm |
| Markeren: | XRF-analysator oppervlakkrapheidstester,XRF-analysercontourdetector,XRF-analysator geïntegreerde ruwheidstester |
||
De geïntegreerde machine voor ruwheidsprofilering, die gebruik maakt van één enkele data-acquisitietechnologie zonder de noodzaak om sensoren te vervangen, maakt uitgebreide en nauwkeurige meting van afmetingen, vormen, golvingen en ruwheid mogelijk. Dit vereenvoudigt niet alleen het bedieningsproces en verbetert de meetefficiëntie, maar garandeert ook de nauwkeurigheid en consistentie van de meetresultaten.
Technische parameters
|
Geïntegreerde sensor |
Z1-as meetbereik |
20 mm |
|
|
Z1-resolutie |
1,2 nm |
|
Contournauwkeurigheid |
Z1 lineaire nauwkeurigheid |
≤±(0,5+|0,02H|)μm |
|
|
Cirkelboog |
±(1 + R/12)μm |
|
|
Cirkelboog Pt |
≤0,3 μm |
|
|
Hoek |
±1′ |
|
|
Rechtheid (afgesneden golflengte 0,8 mm) |
0,3um/100mm |
|
Ruwheid Nauwkeurigheid |
Indicatienauwkeurigheid |
≤±(6 nm + 2,5%) |
|
|
Resterend geluid |
≤0,006μm |
|
|
Herhaalbaarheid |
1δ≤1nm |
|
|
Afgesneden golflengte |
0,025, 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8 mm |
|
|
Evaluatie Lengte |
λC×2, 3, 4, 5, 6, 7 |
|
Rijsnelheid |
Rijmodus X-as |
Elektrisch |
|
|
Y-as rijmodus |
Elektrisch |
|
Marmeren afmetingen |
500 mm × 800 mm |
|
|
Materiaal tafelblad |
Natuurlijk marmer |
|
Contactpersoon: Ms. Kaitlyn Wang
Tel.: 19376687282
Fax: 86-769-83078748