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商品の詳細:
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| Measuring Range: | ±420 μm | Resolution: | 65536:1 |
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| Indication Accuracy: | ≤±(8 nm + 3.5%) | Warranty: | 1year |
| Measuring Speed: | 2 mm/s | Repeatability: | 1δ≤1.5 nm |
| ハイライト: | XRF 解析器 荒さ 輪郭 テスト,XRF 解析器のコンタール測定装置,XRF解析器の粗度プロフィロメーター |
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粗さ形状複合機は高精度の測定器です。独立したデュアルセンサー設計に基づいており、粗さと形状測定の要件を同時に満たすことができます。
独立したデュアルセンサーの革新的な設計に基づいて、正確な調整と最適化された構成を通じて、各センサーは特定の分野で独自の利点を最大限に発揮し、センサー間の補完性を促進し、ユーザーに可能な限り最高の使用体験を提供します。
センサー切り替えが便利です。独創的な機械構造設計により、輪郭センサーと粗さセンサーをより迅速かつ簡単に交換できるようになります。
技術的パラメータ
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測定範囲 |
X軸 |
120～220mm |
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X 軸の解像度 |
0.1μm |
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Z軸 |
420mm、620mm（オプション） |
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プロファイルセンサー |
Z1軸測定範囲 |
30～60mm（オプション） |
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Z1解像度 |
0.02μm |
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プロファイル精度 |
Z1 直線精度 |
≦±(0.6+|0.02H|)μm |
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円弧 |
±(1.5+R/12)μm |
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角度 |
±1分 |
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真直度 |
0.5μm/100mm（カットオフ波長0.8） |
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速度の測定 |
2mm/秒 |
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粗さセンサー |
測定範囲 |
±420μm |
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解決 |
65536:1 |
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粗さ精度 |
指示精度 |
≤±(8nm + 3.5%) |
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残留騒音 |
≤0.008μm |
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再現性 |
1δ≦1.5nm |
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カットオフ波長 |
0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm |
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評価長さ |
λC×2、3、4、5、6、7 |
コンタクトパーソン: Ms. Kaitlyn Wang
電話番号: 19376687282
ファックス: 86-769-83078748
Japanese
