|
Productdetails:
|
| Measuring Range: | ±420 μm | Resolution: | 65536:1 |
|---|---|---|---|
| Indication Accuracy: | ≤±(8 nm + 3.5%) | Warranty: | 1year |
| Measuring Speed: | 2 mm/s | Repeatability: | 1δ≤1.5 nm |
| Markeren: | XRF-analysator ruwheid contour tester,XRF-analysator-contourmetingsapparatuur,XRF-analysator ruwheidsprofilometer |
||
De ruwheidsprofiel-composietmachine is een uiterst nauwkeurig meetinstrument. Het is gebaseerd op een onafhankelijk ontwerp met dubbele sensoren en kan tegelijkertijd voldoen aan de eisen van ruwheid en profielmeting.
Gebaseerd op het innovatieve ontwerp van onafhankelijke dubbele sensoren, door nauwkeurige coördinatie en geoptimaliseerde configuratie, kan elke sensor zijn unieke voordelen op zijn specifieke gebied volledig demonstreren, waardoor de complementariteit tussen de sensoren wordt bevorderd en gebruikers de best mogelijke gebruikservaring wordt geboden.
Het schakelen tussen sensoren is handig. Dankzij het ingenieuze mechanische structuurontwerp zijn de contoursensor en de ruwheidssensor sneller en eenvoudiger uitwisselbaar.
Technische parameters
|
Meetbereik |
X-as |
120-220 mm |
|
|
X-as resolutie |
0,1 µm |
|
|
Z-as |
420 mm, 620 mm (optioneel) |
|
Profielsensor |
Z1-as meetbereik |
30-60 mm (optioneel) |
|
|
Z1-resolutie |
0,02 μm |
|
Profielnauwkeurigheid |
Z1 lineaire nauwkeurigheid |
≤±(0,6 +|0,02H|)μm |
|
|
Cirkelboog |
±(1,5 + R/12) µm |
|
|
Hoek |
±1′ |
|
|
Rechtheid |
0,5 μm/100 mm (afsnijgolflengte 0,8) |
|
|
Snelheid meten |
2 mm/sec |
|
Ruwheidssensor |
Meetbereik |
±420 μm |
|
|
Oplossing |
65536:1 |
|
Ruwheid Nauwkeurigheid |
Indicatienauwkeurigheid |
≤±(8 nm + 3,5%) |
|
|
Resterend geluid |
≤0,008 μm |
|
|
Herhaalbaarheid |
1δ≤1,5 nm |
|
|
Afgesneden golflengte |
0,025, 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8 mm |
|
|
Evaluatie Lengte |
λC×2, 3, 4, 5, 6, 7 |
Contactpersoon: Ms. Kaitlyn Wang
Tel.: 19376687282
Fax: 86-769-83078748