1. Opis:

Fotometr różnicowy SX83 umożliwia precyzyjny pomiar składników o dużej zawartości i czuły pomiar składników śladowych. Rozszerza zakres zawartości mierzonych pierwiastków i może dokładnie i szybko przeprowadzić wykrywanie ilościowe o wysokiej zawartości wolframu, molibdenu, żelaza, krzemu, niklu, kobaltu i śladowych składników wolframu, molibdenu, żelaza, krzemu, niklu i kobaltu. Jednocześnie może systematycznie mierzyć wiele elementów o różnym poziomie zawartości. Jest to nowy, zaawansowany technologicznie produkt naszej firmy.
Przyrząd ten jest przenośnym i kompaktowym urządzeniem do pomiaru ilościowego, odpowiednim dla przemysłu minerałów metali nieżelaznych, obróbki metali nieżelaznych i geologii. Jest szczególnie szeroko stosowany w dziedzinie wolframu, molibdenu i innych minerałów oraz w przetwórstwie i spotkał się z dużym uznaniem użytkowników.

2. Parametr techniczny