1. Beschrijving:

De SX83 differentiële fotometer biedt de mogelijkheid om componenten met een hoog gehalte nauwkeurig te meten en sporencomponenten gevoelig te meten. Het breidt het inhoudsbereik van de gemeten elementen uit en kan nauwkeurig en snel kwantitatieve detectie uitvoeren voor wolfraam, molybdeen, ijzer, silicium, nikkel, kobalt en sporencomponenten van wolfraam, molybdeen, ijzer, silicium, nikkel en kobalt. Tegelijkertijd kan het systematisch meerdere elementen met verschillende inhoudsniveaus meten. Het is een nieuw hightech product van ons bedrijf.
Dit instrument is een draagbaar en compact kwantitatief meetapparaat, geschikt voor de industrieën van non-ferrometaalmineralen, non-ferrometaalverwerking en geologie. Het wordt vooral veel gebruikt op het gebied van wolfraam, molybdeen en andere mineralen en verwerking, en heeft veel lof gekregen van gebruikers.

2. Technische parameter