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제품 상세 정보:
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| 차원: | 550 (w)*450 (d)*450 (h) mm | 무게: | 40 킬로그램 |
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| 테스트 시간: | 100-300초 | 온도: | 10-35ºC |
| 동력 요건: | AC220 10% 50/60Hz | 습도: | 30-70%RH |
| 보증: | 1년 | 인증: | Includes Calibration Certification |
| 강조하다: | XRF 금속 분석기,XRF 테스트 기계,xrf 금 검증기 |
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EDX-6000 XRF 테스트 기기 XRF 금속 분석기
설명:
X선 형광 분석기는 결정에 가장 안정적이고 정확하며 경제적인 방법을 제공합니다. 제품 품질을 관리하는 데 이상적인 분석기입니다.
Na(11)-U(92)까지 광범위한 원소에 사용할 수 있습니다. 다중 채널 분석기가 있는 실리콘 드리프트 검출기는 X선 형광 방사선을 감지하고 계수를 축적하여 샘플의 강도 대 에너지 스펙트럼을 형성합니다.
특징
1. 높은 정확성과 합리적인 가격.
2. 몇 초 안에 완전한 분석.
3. 고객 요구 사항에 최적화되고 최적의 자문 서비스 제공.
4. 유해 물질의 최고의 감지 및 제어 프로그램을 갖춘 사용자를 위해 맞춤 제작된 개방형 작업 곡선.
5. 향후 테스트 샘플 유형 확장을 위해 쉽게 업그레이드 가능.
6. 자동 정량 분석 보고서는 간결하고 정확합니다.
7. 기기의 작동 상태를 자동으로 감지하는 기능이 있습니다.
8. 인체 공학적 디자인, 소모품 및 예비품 보관 가능성이 있는 벤치탑 또는 플로어 모델로 구성.
응용 분야
전자 제품, 석유 화학 제품, 금속 재료, 광물, 의약품, 건축 자재, 플라스틱 및 폴리머, 식품 및 화장품, 중앙 실험실의 제품 분석 등.
기술 매개변수
| 분석 범위 | Na(11) ~ U(92) | |
| 검출 한계 | Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
| 샘플 형태 | 요구 사항 없음 | |
| 샘플 유형 | 고체/분말/액체 | |
| X선 튜브 | 타겟 | Mo |
| 전압 범위 | 5-50kV | |
| 전류 범위 | 1-1000µA | |
| 콜리메이터 | 2, 5, 8mm | |
| 검출기 | 미국산 Si-PIN 검출기 (MCC) | |
| 고전압 발생기 | 미국산 SPELLMAN | |
| 프리 앰프 | 미국에서 수입 | |
| 메인 앰프 | 미국에서 수입 | |
| AD 변환 모듈 | 미국에서 수입 | |
| ADC | 2048 | |
| 필터 | 자동 선택 및 변환(6개 필터) | |
| 샘플 관찰 | 130만 픽셀 CCD 카메라 | |
| 분석 소프트웨어 |
자체 소프트웨어 제품 평생 무료 업그레이드 |
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| 테스트 방법 | 이론적 a-계수 방법, FP 및 EC | |
| 테스트 환경 | 온도: 10-35℃ 습도: 30-70%RH | |
| 크기 및 무게 | 550(W)*450(D)*450(H)mm 40kg(본체) | |
| 전원 공급 장치 요구 사항 | AC220±10%, 50/60Hz | |
| 테스트 시간 | 100-300초(조절 가능) | |
담당자: Ms. Kaitlyn Wang
전화 번호: 19376687282
팩스: 86-769-83078748
