| タイプ: | 試験機 | 精度クラス: | 高精度 |
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| 正確さ: | / | 応用: | 自動テスト |
| カスタマイズされたサポート: | OEM、ODM、OBM | 力: | --- |
| 保護クラス: | IP56 | 電圧: | 220V |
| 保証: | 1年 | 重さ: | 195kg |
| ハイライト: | DM8000 WDXRF 解析器 多要素試験器,X線・フラウレッセンスのスペクトロメーター オキシド含有量分析器,波長分散元素分析器の実験機 |
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DM8000 WDXRF 分析装置 蛍光 X 線分析装置 波長分散型多元素分析装置 元素酸化物含有量検査装置
マルチチャンネルの同時測定: 高速、信頼性、高精度。
工業および鉱業企業の多元素分析要件に特に適しています。
特徴
波長分散型蛍光 X 線 (WDXRF) 分析テクノロジー。
Varian の薄型ベリリウム エンドウィンドウ X 線管を輸入しました。
Moxtek 0.6μm 超薄型ポリエステル検出器ウィンドウ。
規格に準拠しています
GB/T 176
JB/T11145
JC/T1085
概要
DM8000 多元素分析装置 (WDXRF) は、蛍光 X 線 (XRF) 分析における数十年にわたる研究経験をもとに、当社が開発した最先端の装置です。これは、カルシウム/鉄、硫黄、アルミニウム/シリコン、およびその他の多元素アプリケーションのモデルを含む、確立された分析装置の DM シリーズに基づいて構築されています。この機器は、同時 (またはマルチチャンネル) 波長分散型蛍光 X 線 (WDXRF) 技術を利用して、最大 10 個の元素 (ナトリウムからウランまで) を同時に測定します。ほとんどの元素の測定範囲は、ppm レベルから 100% までの範囲に及びます。主な利点には、迅速な分析、高精度、最小限の人的エラー、オペレータの作業負荷の軽減、1 回限りの投資コスト、無公害の操作が含まれます。その結果、建築材料、冶金、石油、化学、地質学、鉱業などの業界全体で広く使用されています。
DM8000 には、高品質の輸入コンポーネントが組み込まれています。Varian の 400W 薄型ベリリウム エンドウィンドウ X 線管。軽元素チャネル (Na や Mg など) 用の Moxtek の 0.6 μm 極薄ポリエステル ウィンドウ。 0.1℃以上の精度を持つ恒温槽。ガスフローシステムには高精度密度安定化装置を備え、3Pa以内の圧力安定性を確保し、サンプル回転機構によりサンプルの不均一性による測定誤差を排除します。これらの機能により、卓越した精度と精度が保証され、この機器は国際技術の最前線に位置します。その優れたシールド設計により、放射線漏れゼロが保証され、放射線免除基準を満たします。
DM8000 多元素分析装置 (WDXRF) は、特に我が国のセメント産業において優れたパフォーマンスを発揮します。この機器はもともとセメント産業向けに特別に開発されました。国家規格 GB/T 176–2017 (セメントの化学分析方法)、業界規格 JC/T 1085–2008 (セメント用蛍光 X 線分析装置) および JB/T 11145–2011 (蛍光 X 線分光計) に準拠しています。その性能は同等の輸入製品を上回っていますが、コストはわずか半分であり、比類のない価格対性能比を実現しています。さらに、国内企業が提供するアフターサービスの利便性は、海外の競合企業の追随を許しません。
アプリケーション
主に、セメント原料、クリンカー、完成セメント、原料などの材料中のNa2O、MgO、Al2O3、SiO2、SO3、TiO2、K2O、CaO、Fe2O3、およびその他の元素の濃度を測定するために使用されます。スタンドアロン ユニットとして動作することも、分析装置、マイクロコンピューター、ベルト スケールをリンクする自動生食比例制御システムに統合して、検出信号を提供することもできます。
セメント産業以外にも、発電、レンガとタイルの製造、冶金、石油、地質学/鉱業などの分野にわたる固体、液体、粉末サンプル中の Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、SO3、TiO2、K2O、CaO、Fe2O3 などの濃度を分析するのにも適しています。
特徴
迅速かつ同時分析 – 同時 (またはマルチチャネル) 設計を利用して、すべての対象元素を一度に迅速に分析し、通常は数分以内に濃度結果が得られます。
高精度 – 波長分散型 XRF テクノロジーを採用し、エネルギー分散型システムよりもはるかに優れた非常に高い分解能を提供し、隣接する軽元素の正確な測定を可能にします。
使いやすさ – サンプルの調製（粉砕、ペレットへのプレスまたは融合）後、ユーザーはサンプルをロードして[スタート]ボタンを押すだけで、真のワンタッチ操作を実現します。
長期安定性 – 恒温チャンバー、安定したガス流量密度制御、サンプル回転、および可変ゲインのデジタル マルチチャンネル電子機器を備えており、優れた長期安定性を保証します。
高い信頼性 – 固定チャンネルの使用により可動部品が最小限に抑えられます。高いシステム統合性と優れた環境適応性により、高い信頼性を実現します。強力なソフトウェア – 機能には、比率またはマトリックス効果の補正、バイアス調整、統計 (合格率など)、レート計算、およびエラー アラートが含まれます。無料でもサポートしています
ユーザーの要望に応じて最新バージョンへのアップデートや機能追加を行います。
環境に優しくエネルギー効率が高い – 放射線防護は免除基準を満たしています。分析は非接触かつ非破壊で行われます。汚染は発生せず、化学試薬も必要なく、燃焼も伴いません。
高いコストパフォーマンス – 水冷は不要です。運用コストとメンテナンスコストが非常に低くなります。価格も同様の海外製品に比べて半額で、国内事情に合わせやすい。
DM8000 WDXRF 分析装置 蛍光 X 線分析装置 波長分散型多元素分析装置 元素酸化物含有量検査装置原理
動作原理を図 2 に示します。X 線管は垂直に配置され、X 線を上向きにサンプルに向けます。これにより、それらの間の距離が最小化され、励起効率が最大化されます。 X 線管による照射により、サンプルは蛍光 X 線を放出し、スペクトル分離のための分散チャンバーに入ります。各要素は特定の分散チャンバーに対応します。蛍光 X 線は、スリット (湾曲した分光結晶を使用する場合) またはソーラー スリット (平坦な分光結晶を使用する場合) を通って分光結晶に向かって通過します。結晶による回折後、ブラッグ回折条件を満たす特定の元素に対応する特性蛍光 X 線は、別のスリットまたはソーラー スリットを通過して検出器に到達します。検出器とそれに続く電子回路が特性蛍光 X 線の強度を測定し、元素の濃度が校正方程式を使用して計算されます。
図 2: マルチチャンネル WDXRF 解析原理の概略図
結晶を使用して蛍光 X 線を波長ごとに分離するため、この技術は波長分散型蛍光 X 線 (WDXRF) として知られています。分解能は検出器ではなく結晶のみに依存するため、エネルギー分散型システムよりも一桁高い高分解能が得られます。
主要コンポーネント
輸入薄型ベリリウムエンドウィンドウX線管（米国Varian社製）
Varian (米国) の EG-60 薄型ベリリウム エンドウィンドウ X 線管を使用します。これは、X 線ビームがターゲットに対して垂直になるエンドウィンドウ管です。焦点からサンプルまでの距離が短いため、励起効率が向上します。薄いベリリウムウィンドウとロジウムターゲットを備えており、軽元素の高効率検出が可能です。カソードは接地されているため、高度に絶縁されたフィラメント変圧器の必要性がなくなり、ベリリウム窓への電子衝撃とその結果生じる加熱も不要になります。定格電力が 400 W なので、水冷ではなく空冷のみが必要です。マルチチャンネル同時測定機能により、その性能は大型の 4000 W スキャン (またはシングルチャンネル) X 線管と同等です。図3にその外形図を示します。
図3 EG-60薄型ベリリウムエンドウィンドウX線管
Moxtek (米国) の 0.6 μm 極薄ポリエステルウィンドウを採用
Na や Mg などの軽元素の測定では、検出器の窓が重要です。十分に薄くて丈夫でなければなりません。この機器は、Moxtek (米国) の厚さ 0.6 μm の ProLINE シリーズ 20 ウィンドウを利用しています。この窓は、頑丈な六角形の金属支持フレームに接着された極薄ポリマー層と電荷散逸層（200 Åのアルミニウムでコーティング）で構成されており、それによって低エネルギー X 線の高い透過率を実現します。 B(Kα)の解析が可能です。その外形図を図4に、エネルギーと伝送の関係を図5に示します。
図 4 Moxtek の極薄ポリエステル窓
図 5 ProLINE シリーズのエネルギー対伝送
恒温槽の温度制御精度は0.1℃以上
波長分散型アナライザは精密機器です。特にクリスタルには、機械的寸法に関して非常に厳しい要件があります。温度変動による微細な寸法変化でも強度の変動につながる可能性があるため、分光計チャンバーには一定の温度環境が必要です。本器の恒温槽の温度制御精度は0.1℃以上です。さらに、分光計チャンバーに加えて、検出器アセンブリや関連電子機器などのコンポーネントもこの恒温チャンバー内に収容されており、機器が外部温度の変化による影響を受けないようになっています。
ガスフローシステムには高精度ガス密度安定化装置を採用。圧力安定性は 3 Pa より優れています
本器に使用している検出器は自社開発・製造したガス流量比例計数器です。ガス密度を一定に維持することは、検出器の安定性にとって不可欠です。装置のガスフローシステムは高精度ガス密度安定化装置を利用しており、3 Pa を超える圧力安定性を実現しています。
サンプル回転機構を搭載し、サンプルの不均一性による測定誤差を解消します。粉末ペレット法を使用してサンプルを調製する場合、SiO2 の存在により、その硬度が高いため、粒子サイズが不均一になり、その結果、サンプル表面が不規則になる可能性があります。このようなサンプルの不均一性による測定誤差を最小限に抑えるために、本器ではサンプル回転機構を搭載しています。
TDM8000 WDXRF 分析装置 蛍光 X 線分析装置 波長分散型多元素分析装置 元素酸化物含有量検査装置
技術仕様
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X線管 |
電圧：≤50keV、電流：≤8.0mA、電力：≤400W |
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検出器 |
極薄窓ガス流比例計数管 |
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測定可能な元素または酸化物 |
Na から U までの任意の 10 個の元素またはその酸化物。セメントを例に挙げる（以下同様）：Na2O、MgO、Al2○3、SiO2、 それで3、TiO2、K2O、CaO、Fe2○3、など。 |
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測定範囲 |
Naの分析範囲2O、MgO、Al2○3、SiO2、 それで3、TiO2、K2O、CaO、Fe2○3、などは調整可能であり、キャリブレーションによって選択されます |
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測定範囲幅 |
Na2O 最大 - Na2O 最小 ≤ 5%、MgO 最大 - MgO 最小 ≤ 5%、Al2○3最大—Al2○3最小 ≤5%、SiO2最大 - SiO2最小 ≤ 7%、SO3最大—SO3最小 ≤5%、TiO2最大 - TiO2最小 ≤5%、K2O 最大—K2O min ≤ 5%、CaO max—CaO min ≤ 7%、Fe2○3最大値 - Fe2○3最小 ≤5% |
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測定精度 |
SNa2O≦0.01%、SMgO≦0.03%、SAl2○3 ≤0.04%、SSiO2 ≤0.04%、SSO3 ≤0.01%、STiO2 ≤0.01%、SK2O≦0.01%、SCaO≦0.03%、SFe2○3 ≤0.02% |
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準拠基準 |
GB/T 176—2017、JC/T 1085—2008、JB/T 11145—2011 など |
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システム測定時間 |
1~999秒、推奨: 180秒 |
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恒温槽 |
36℃±0.1℃ |
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動作条件 |
周囲温度:15~28℃、相対湿度: ≤75% (25℃)、電源: 220V ± 20V、50Hz、≤1.0kW |
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寸法と重量 |
790mm(幅)×760mm(奥行き)×1200mm(高さ)、195kg |
コンタクトパーソン: Kaitlyn Wang
電話番号: 19376687282
ファックス: 86-769-83078748
Japanese
