DM2500 MMEDXRF 中等光素スペクトロメーター

DM2500 MMEDXRF 軽・中元素分光計

説明:

複数の単色励起を用いてピーク後方散乱比を達成し、元素（B～Zn）の測定を可能にします。

その精度は、大型の波長分散型分光計に匹敵します。

標準モデルはセメント産業向けに設計されています。

または、わずかに変更して、さまざまな産業に適用できます。

適用:マルチカラー単一ビーム励起エネルギー分散型X線蛍光（MMEDXRF）分析技術

従来のXRF、特にEDXRFが超軽元素の正確な測定を達成できない主な理由の1つは、X線管の放射スペクトルにおける連続制動放射散乱がX線蛍光スペクトルにおける高い連続散乱バックグラウンドにつながるためです。さらに、元素の原子番号が低いほど、蛍光収率も低くなります。比較的低い蛍光線強度は、より高いバックグラウンドに埋もれてしまいます。

高カウントレート、高分解能、高透過率（AP3.3ウィンドウ）SDD検出器

電圧、電流、ターゲット材料を完全に組み合わせた、マイクロフォーカス薄ベリリウム窓X線管源

標準

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085

D

escription:DM2500MMEDXRF軽・中元素分光計は、DM2500多色励起エネルギー分散型X線蛍光軽・中元素（B-Zn）分光計とも呼ばれ、当社がX線蛍光分光法の数十年の研究経験に基づいて開発した新しいXRF分光計です。これは、当社の独自のDMシリーズX線蛍光硫黄、カルシウム、鉄分析装置、X線蛍光多元素分析装置、X線蛍光分光計などを統合した革新的なXRF分光計です。多色励起エネルギー分散型X線蛍光（MMEDXRF）（Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence）分析技術を採用しています。単色結晶などの主要コンポーネントは、当社が開発した対数螺旋回転ポイントツーポイントフォーカスゲルマニウム単色結晶を使用し、X線管はKeyWay Company製の50Wマイクロフォーカス大放射角度薄ベリリウム窓X線管を使用し、その高電圧、電流、ターゲット材料を最適に組み合わせています。X線検出器は、ドイツKetek社のSDD半導体X線検出器を使用しており、高カウントレート、高エネルギー分解能、室温での高透過率を実現しています。さらに、当社の独自知的財産権を使用した軽元素特有の光学系と複数の単色励起システムの組み合わせという独自の技術を採用しています。これにより、装置の感度とピーク対バックグラウンド比が大幅に向上します。また、X線下方照射システムとサンプル回転装置を採用しており、粉末ペレットサンプルに特に適しており、用途に応じて真空システムまたは自己膨張システムを選択できます。したがって、この分光計は国際的な最先端レベルに達しています。大型波長分散分光計との比較試験では、その性能指標のほとんどが大型波長分散分光計の性能指標に近く、または達しており、一部はそれを上回っています。その性能指標は、輸入類似製品よりも優れており、価格は輸入類似製品の半額であり、比類のない価格性能比を実現しています。さらに、国内企業の販売後のサービスの利便性は、外国企業とは比較になりません。そして、分光計の優れたシールド保護設計により、放射線漏れがなく、放射線免除要件を満たしています。

用途

DM2500MEDXRF軽・中元素分光計の標準モデルは、セメント産業向けに特別に設計および製造されており、セメント原料、クリンカー、その他の材料の含有量測定に使用できます。国家標準GB/T 176—2017「セメントの化学分析方法」および業界標準JC/T1085—2008「セメント用X線蛍光分析装置」およびJB/T11145—2011「X線蛍光分光計」の関連要件に準拠しています。

DM2500MEDXRF軽・中元素分光計は、セメント産業だけでなく、さまざまな産業のすべての材料の含有量測定にも適用できます。標準モデルはセメント産業向けに特別に設計および製造されていますが、ユーザーが必要とする測定元素がB（5）からZn（30）の範囲内であれば、ほとんどの場合、標準モデルを直接測定に使用できます。ユーザーが特定の元素の測定に特別な要件を持っている場合、当社はユーザーの測定元素に対する要件を満たすために、ユーザーの要件に応じて単色励起システムおよび/またはソフトウェアシステムを変更できます。

特徴

迅速かつ同時 - 必要な測定元素は高速で同時に分析され、通常数十秒以内に含有量結果が得られます。

高精度 - 高度なMMEDXRF技術とLSDCCコア技術を利用し、測定対象元素に基づいて単色光のエネルギーと単色光を生成する方法を選択します。これにより、装置の感度とピーク対バックグラウンド比が大幅に向上し、優れた再現性と再現性、および非常に高い精度が保証されます。

下方照射 - X線下方照射システムを採用しており、サンプル粉末の汚染や検出システムの損傷の可能性を排除します。セメントやクリンカーなどの粉末サンプルに特に適しています。

サンプルスピン - サンプルスピン装置により、タブレットサンプル中の硬い物質の存在によって引き起こされるサンプルの不均一性や粉砕の困難さを排除します。

長期安定性 - 可変ゲインデジタルマルチチャネルを利用し、自動PHA調整、ドリフト補正、偏差補正などの機能を備え、優れた長期安定性を示します。

環境保護と省エネ - 放射線防護は免除要件を満たしています。分析中、サンプルとの接触や損傷はなく、汚染も発生せず、化学試薬も不要で、燃焼も必要ありません。

使いやすさ - タッチスクリーン操作。サンプル粉末とタブレットを装置にセットした後、[開始]ボタンを押すだけで完了 - 本当にワンボタン操作を実現しています。

高い信頼性 - 統合設計、高集積度、強力な環境適応性、強力な干渉防止能力、高い信頼性。

高いコストパフォーマンス - ガスボンベは不要で、運転およびメンテナンスコストは非常に低いです。価格は海外の類似製品の半額です。本当にコストパフォーマンスの高い製品です。

高度な技術

マルチカラー単一ビーム励起エネルギー分散型X線蛍光（MMEDXRF）分析技術

従来のXRF、特にEDXRFが超軽元素の正確な測定を達成できない主な理由の1つは、X線管の放射スペクトルにおける連続制動放射散乱がX線蛍光スペクトルにおける高い連続散乱バックグラウンドにつながるためです。さらに、元素の原子番号が低いほど、蛍光収率も低くなります。比較的低い蛍光線強度は、より高いバックグラウンドに埋もれてしまいます。

単色励起ビームエネルギー分散型X線蛍光（MEXAF）分析技術は、光学デバイスを使用してX線管からの放射スペクトルを単色化し、蛍光スペクトルの連続散乱バックグラウンドを大幅に削減します。同時に、必要な励起X線の単色線または狭いエネルギー帯の強度を最小限に抑えるか、場合によっては増加させ、測定対象元素のX線蛍光スペクトルのピーク対バックグラウンド比を大幅に向上させ、超軽元素の正確な測定を可能にします。概略図を図1に示します。

技術パラメータ

測定可能元素