Pengukur Ketebalan Film Mikroskopis Penguji Ketebalan Lapisan Reflektif Pengukur Ketebalan Film Mikroskopis

Pengukur Ketebalan Film Mikroskopis Penguji Ketebalan Lapisan Pengukur Ketebalan Film Mikroskopis

I. Ikhtisar

LR-A427 dapat memberikan titik cahaya terfokus dengan resolusi tingkat mikron untuk area kecil tertentu. Pada saat yang sama, ia menggunakan lensa objektif mikroskopis untuk menemukan titik pengukuran, sehingga mendapatkan hasil karakterisasi ketebalan yang tepat pada posisi tertentu.

1. Ukuran titik cahaya dapat disesuaikan, dan ukuran minimum dapat mencapai 10 mikrometer.

2. Pengukuran non-kontak, non-destruktif;

3. Algoritma inti mendukung analisis film tipis hingga film tebal, dan film satu lapis hingga film multi-lapis.

4. Konfigurasi fleksibel, mendukung kustomisasi

II. Fitur Produk

1. Memanfaatkan sumber cahaya halogen intensitas tinggi, sumber cahaya memiliki stabilitas yang sangat baik;

2. Mengadopsi desain optik, mekanik, dan elektronik yang sangat terintegrasi, menampilkan ukuran kecil dan pengoperasian yang mudah.

3. Berdasarkan prinsip interferensi cahaya yang dipantulkan pada antarmuka dan antarmuka bawah lapisan film tipis, mudah dianalisis dari satu lapis hingga beberapa lapis.

III. Aplikasi Produk

Instrumen ketebalan film mikro banyak digunakan untuk mengukur berbagai jenis film seperti film pelindung dalam berbagai media, film organik, film anorganik, film logam, dan lapisan.

Pengukur Ketebalan Film Mikroskopis Penguji Ketebalan Lapisan Pengukur Ketebalan Film Mikroskopis

Spesifikasi Teknis