Microscopische filmdikte meter Reflectieve coating dikte tester Microscopische filmdikte meter

Microscopische filmdikte meter coatingdikte tester microscopische filmdikte meter

I. Overzicht

De LR-A427 kan een gefocuste lichtvlek met een resolutie op micronniveau leveren voor specifieke kleine gebieden. Tegelijkertijd gebruikt het een microscopische objectieflens om de meetpunten te lokaliseren, waardoor precieze diktekarakteriseringsresultaten op de specifieke posities worden verkregen.

1. De grootte van de lichtvlek kan worden aangepast en de minimale grootte kan 10 micrometer bereiken.

2. Contactloze, niet-destructieve meting;

3. Het kernalgoritme ondersteunt de analyse van dunne films tot dikke films, en enkellaagse films tot meerlaagse films.

4. Flexibele configuratie, ondersteuning voor maatwerk

II. Producteigenschappen

1. Gebruikmakend van hoogintensieve halogeenlichtbronnen, heeft de lichtbron een uitstekende stabiliteit;

2. Het maakt gebruik van een sterk geïntegreerd ontwerp van optica, mechanica en elektronica, met een klein formaat en eenvoudige bediening.

3. Gebaseerd op het principe van interferentie van gereflecteerd licht aan de interface en de onderste interface van de dunne film laag, is het gemakkelijk te analyseren van een enkele laag tot meerdere lagen.

III. Producttoepassingen

Het microfilmdikte-instrument wordt veel gebruikt voor het meten van verschillende soorten films, zoals beschermende films in verschillende media, organische films, anorganische films, metaalfilms en coatings.

Microscopische filmdikte meter coatingdikte tester microscopische filmdikte meter

Technische specificatie