Mikroskopisches Filmdickenmessgerät, reflektierendes Beschichtungsdickenmessgerät, mikroskopisches Filmdickenmessgerät, Labortestmaschine

Mikroskopisches Filmdickenmessgerät, Beschichtungsdickenmessgerät, mikroskopisches Filmdickenmessgerät

I. Übersicht

Der LR-A427 kann für bestimmte kleine Bereiche einen fokussierten Lichtpunkt mit einer Auflösung im Mikrometerbereich liefern. Gleichzeitig nutzt es eine mikroskopische Objektivlinse zur Lokalisierung der Messpunkte und erhält so präzise Ergebnisse zur Dickencharakterisierung an den spezifischen Positionen.

1.Die Größe des Lichtflecks kann individuell angepasst werden und die Mindestgröße kann 10 Mikrometer erreichen.

2.Berührungslose, zerstörungsfreie Messung;

3.Der Kernalgorithmus unterstützt die Analyse von Dünnfilmen zu Dickfilmen und von Einzelschichtfilmen zu Mehrschichtfilmen.

4.Flexible Konfiguration, Unterstützung der Anpassung

II. Produktmerkmale

1.Durch die Verwendung hochintensiver Halogenlichtquellen weist die Lichtquelle eine hervorragende Stabilität auf;

2.Es verfügt über ein hochintegriertes Design aus Optik, Mechanik und Elektronik und zeichnet sich durch geringe Größe und einfache Bedienung aus.

3.Basierend auf dem Prinzip der Interferenz des reflektierten Lichts an der Grenzfläche und der unteren Grenzfläche der Dünnfilmschicht ist die Analyse von einer einzelnen Schicht bis hin zu mehreren Schichten einfach.

III. Produktanwendungen

Das Mikrofilmdickenmessgerät wird häufig zum Messen verschiedener Arten von Filmen verwendet, z. B. Schutzfilme in verschiedenen Medien, organische Filme, anorganische Filme, Metallfilme und Beschichtungen.

Mikroskopisches Filmdickenmessgerät, Beschichtungsdickenmessgerät, mikroskopisches Filmdickenmessgerät

Technische Spezifikation