logo
Αρχική Σελίδα ΠροϊόνταΑναλυτής XRF

AL-NP-5010 Ενεργειακός Διασκορπιστικός Φθοροσυσσόμετρος Ακτίνων Χ Δισκογραφικού Μηχανισμού XRF

AL-NP-5010 Ενεργειακός Διασκορπιστικός Φθοροσυσσόμετρος Ακτίνων Χ Δισκογραφικού Μηχανισμού XRF

AL-NP-5010 Energy Dispersive X Ray Fluorescence Spectrometer Desktop XRF Machine
AL-NP-5010 Energy Dispersive X Ray Fluorescence Spectrometer Desktop XRF Machine

Μεγάλες Εικόνας :  AL-NP-5010 Ενεργειακός Διασκορπιστικός Φθοροσυσσόμετρος Ακτίνων Χ Δισκογραφικού Μηχανισμού XRF

Λεπτομέρειες:
Τόπος καταγωγής: Κίνα
Μάρκα: Lonroy
Πιστοποίηση: ISO ASTM CE
Αριθμό μοντέλου: AL-NP-5010
Πληρωμής & Αποστολής Όροι:
Ποσότητα παραγγελίας min: 1
Τιμή: Negotaible
Συσκευασία λεπτομέρειες: ξύλιμο πακέτο
Χρόνος παράδοσης: 5-8 εργάσιμες ημέρες
Όροι πληρωμής: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Δυνατότητα προσφοράς: 200

AL-NP-5010 Ενεργειακός Διασκορπιστικός Φθοροσυσσόμετρος Ακτίνων Χ Δισκογραφικού Μηχανισμού XRF

περιγραφή
Μοντέλο: AL-NP-5010 Σταθερότητα: 0,05%/8 ώρες
Εγγύηση: 1 έτος Τροχοφόρα τάση: 5 - 50kv
ρεύμα σωλήνα: 1 - 1000 UA Εργασιακό περιβάλλον: Θερμοκρασία 10 - 35 ° C, υγρασία 30 - 70%RH
Επισημαίνω:

Δικτυακό XRF φασματομετρητή

,

Αναλυτής XRF διασποράς ενέργειας

,

Μηχανή XRF με εγγύηση

AL-NP-5010 Ενεργειακός Διασκορπιστικός Φθοροσυσσόμετρος Ακτίνων Χ Δισκογραφικού Μηχανισμού XRF

Περιγραφή

Η ανάλυση φθορισμού ακτίνων Χ (XRF) είναι μια σύγχρονη και καθολική αναλυτική μέθοδος για τον προσδιορισμό στοιχείων σε διάφορα υλικά.ή υγρό δείγμα, σχεδόν όλα τα στοιχεία που βρίσκονται μεταξύ του στοιχείου αριθμού 11 (βηρυλλίου, Na) και 92 (ουράνιο, U) στον περιοδικό πίνακα μπορούν να αναλυθούν με ακρίβεια σε ποιοτικό, ποσοτικό,και ανάλυση μη τυποποιημένων δειγμάτωνΑνάλογα με τις διαφορετικές απαιτήσεις εφαρμογής, το εύρος συγκέντρωσης ανάλυσης μπορεί να κυμαίνεται από 0,1 ppm έως 100%και ακόμη και στοιχεία με συγκεντρώσεις έως και 100% μπορούν να μετρηθούν άμεσα χωρίς να χρειάζεται αραίωσηΗ ανάλυση XRF έχει τα χαρακτηριστικά της απλής προετοιμασίας δείγματος, του ευρέος εύρους προσδιορισμού στοιχείων, της υψηλής ακρίβειας προσδιορισμού, της καλής αναπαραγωγικότητας, της γρήγορης ταχύτητας μέτρησης (30s - 900s),Καμία ρύπανση του περιβάλλοντος, και καμία καταστροφή δείγματος.

 

Εφαρμογές

Η μέθοδος XRF εφαρμόζεται ευρέως σε τομείς όπως η προστασία του περιβάλλοντος, η γεωλογία, τα ορυκτά, η μεταλλουργία, το τσιμέντο, τα ηλεκτρονικά, τα πετροχημικά, τα πολυμερή, τα τρόφιμα, η ιατρική και τα υλικά υψηλής τεχνολογίας.Διαδραματίζει καθοριστικό ρόλο στην έρευνα και ανάπτυξη προϊόντων, παρακολούθηση της διαδικασίας κατά τη διάρκεια της παραγωγής και διαχείριση της ποιότητας.

1.Ηλεκτρονικά, πλαστικά και μεταλλικά υλικά: Διαφορετικά ηλεκτρονικά εξαρτήματα, εξαρτήματα υλικού, πλαστικές πρώτες ύλες και προϊόντα, πλακέτες κυκλωμάτων κλπ.

2.Χαρτί και πρώτες ύλες χαρτιού: Χάρτινες πρώτες ύλες, διάφοροι τύποι χαρτιού, χρωστικές ύλες, μελάνες κλπ.

3.Πετρέλαιο, άνθρακας: Πετρέλαιο, λιπαντικά, βαρύ πετρέλαιο, πολυμερή υλικά, άνθρακας, κόκκας κλπ.

4.Κεραμική, τσιμέντο: Κεραμική, ανθεκτικά υλικά, πετρώματα, γυαλί, τσιμέντο, πρώτες ύλες και κλίνκερ για τσιμέντο, ασβεστόλιθο, καολίνη, πηλό κλπ.

5.Γεωργία, τρόφιμα: έδαφος, υπολείμματα φυτοφαρμάκων, λιπάσματα, φυτά, διάφορα τρόφιμα κλπ.

6.Μη σιδηρούχια μέταλλα: κράματα χαλκού, κράματα αλουμινίου, κράματα μολύβδου, κράματα ψευδαργύρου, κράματα μαγνησίου, κράματα τιτανίου, πολύτιμα μέταλλα κλπ.

7.Χάλυβας: Χάλυβας, χυτοσίδηρος, ανοξείδωτος χάλυβας, χαμηλής κράσεως χάλυβας, υψηλής κράσεως χάλυβας, ειδικού χάλυβα, σιδηροσυσκευών, σιδηρουργικού μετάλλου, σκουπιδιών, διαλύματος ηλεκτροπληγήσεως, χύτευσης άμμου κλπ.

8.Χημική βιομηχανία: Ανόργανες και οργανικές ουσίες και τα προϊόντα τους, καλλυντικά, απορρυπαντικά, καουτσούκ, τόνο, καταλύτες, επικαλύψεις, χρωστικές ύλες, φάρμακα, χημικές ίνες κλπ.

9.Περιβάλλον: Διαφορετικά απόβλητα, βιομηχανικά απόβλητα, ατμοσφαιρική σκόνη, βιομηχανικά απόβλητα, θαλάσσιο νερό, ποτάμι κλπ.

10.Βιολογικές επιστήμες: Οργανισμοί, βοηθητικά κλπ.

 

Συνολική απόδοση

1.Ανιχνευτής ψύξης ημιαγωγών Si ((PIN) ή SDD

Η ανάλυση του ανιχνευτή είναι ένας από τους κύριους δείκτες για την αξιολόγηση της απόδοσης του φθοριστικού φασματομέτρου ακτίνων Χ διασκορπισμού ενέργειας.

Ανάλυση < 145eV (Όσο χαμηλότερη είναι η ανάλυση, τόσο υψηλότερη είναι η ευαισθησία)

Ταχύτητα μέτρησης > 1000/s

Περιοχή κρυστάλλων > 15 τετραγωνικά χιλιοστά

Το πάχος του παραθύρου = 0,025 mm

Δύναμη ανίχνευσης < 1,2 W

 

2.Αναλυτής πολλαπλών καναλιών παλμικού πλάτους (συνήθως γνωστός ως κλίμακα ενέργειας φάσματος)

Αριθμός καναλιών: 2048 καναλιές

 

3.Ελεγκτής ισχύος

Ελέγχος ισχύος συστήματος: +5 VDC σε 250 mA (1,2 W)

Ελέγχος σταθερής ψύξης 400 VDC

 

4.Γεννήτρια μικρών πλευρικών παραθύρων με χαμηλή ισχύ (γνωστή ως σωλήνας ακτινογραφίας)

Ο σωλήνας ακτινογραφίας με ειδική εσωτερική ενσωμάτωση μολύβδου υποβάλλεται σε πλήρη προστασία, με μόνο το πλευρικό παράθυρο να παραμένει η περιοχή εξόδου ακτινογραφίας.Το μονωτικό λάδι στην δεξαμενή χρησιμοποιείται για μονόκλιση υψηλής τάσης και ψύξηΤο κανονικό παράθυρο είναι 0,005 ίντσες πάχους βηρυλίου, με ονομαστική ισχύ 50 βατ και ονομαστική τάση 50 χιλιοβόλτ.

 

5.Γεννήτριες υψηλής τάσης

Εισαγωγή: 85~265Vac, 47~63Hz, Διόρθωση του συντελεστή ισχύος.

Τα μοντέλα που κυμαίνονται από 1kV έως 5kV συμμορφώνονται με το πρότυπο εισόδου UL85 - 250Vac.

Ταχύτητα διακύμανσης τάσης: από μη φορτίο σε πλήρες φορτίο, 0,01% της τάσης εξόδου

Δυνατότητα μεταβολής ρεύματος: 0 έως ονομαστική τάση, 0,01% του ρεύματος εξόδου

Σχήμα κύματος: 0,25% από κορυφή σε κορυφή της τάσης εξόδου

Συντελεστής θερμοκρασίας: ρύθμιση τάσης ή ρεύματος, 0,01%/°C

Σταθερότητα: Μετά την προθερμοποίηση για 30 λεπτά, 0,05%/8 ώρες

 

6.Σύστημα αυτόματης μετατροπής φίλτρων

Σύστημα αυτόματης εναλλαγής φίλτρου: 6 τύποι φίλτρων επιλέγονται και εναλλάσσονται αυτόματα (λειτουργία φίλτρου: Βελτιώνει τη φασματική σύνθεση της φασματικής γραμμής της πηγής διέγερσης,κατά τη διενέργεια ανάλυσης πολλαπλών στοιχείων, χρησιμοποιείται για την καταστολή της ισχυρής φθορισμού των ακτίνων Χ των συστατικών υψηλής περιεκτικότητας, βελτιώνοντας έτσι την ακρίβεια της μέτρησης των αναλύσιμων στοιχείων).

 

7.Σύστημα ακτινοπροστασίας ασφαλείας

α.Ο ανασχεδιασμένος σωλήνας ακτινογραφίας χαμηλής ακτινοβολίας έχει υποβληθεί σε ειδική επεξεργασία (αρχίζοντας από την πηγή)

β.Σχεδιασμός διπλής στρώσης πλήρως κλειστής πλακέτας μολύβδου για την προστασία από ακτινοβολία (αρχίζοντας από το δομικό σχέδιο)

γ. Πλήρως αυτόματη οθόνη φιλτραρίσματος με πλακέτα μολύβδου

d. Το κάλυμμα του δείγματος άνοιξε κατά λάθος, προκαλώντας την ενεργοποίηση της συσκευής αναγκαστικής διακοπής ακτίνων Χ.

εΣύστημα πρόληψης καθυστέρησης και ακτινοβολίας

 

8.Όριο ανίχνευσης για την ανίχνευση των απαγορευμένων στοιχείων Cd, Pb, Cr, Hg και Br, όπως ορίζεται στην οδηγία ROHS

Τα όρια ανίχνευσης για Cd, Pb, Cr, Hg και Br είναι 2 ppm.

 

9.Δυνατό εργαστήριο λογισμικού ανάλυσης

α.Ένα λογισμικό λειτουργίας με ένα κλικ, εύκολο στη χρήση και δεν απαιτεί επαγγελματικές γνώσεις.

βΦιλική με τον χρήστη διεπαφή ανθρώπου-μηχανής.

γ. Όλες οι παραμέτροι δοκιμής δεν απαιτούν ρύθμιση από τους χειριστές.

dΤα δεδομένα δοκιμής αποθηκεύονται αυτόματα και έχουν λειτουργία ιστορικού ερωτήματος.

εΟι πιο προηγμένες ποιοτικές και ποσοτικές μεθόδους ανάλυσης.

f. Μπορεί να αναλύσει ταυτόχρονα δεκάδες στοιχεία.

gΗ ανάλυση των στοιχείων είναι γρήγορη και ο χρόνος ανάλυσης μπορεί να ρυθμιστεί από 30 δευτερόλεπτα σε 900 δευτερόλεπτα.

hΌταν αφεθεί αδρανής για μεγάλο χρονικό διάστημα, η πίεση και η ροή του σωλήνα θα μειωθούν αυτόματα, αυξάνοντας έτσι τη διάρκεια ζωής του σωλήνα ακτινογραφίας.

Ι- Ελέγξτε τη θερμοκρασία του σωλήνα ακτίνων Χ για να το προστατεύσετε και να παρατείνει τη διάρκεια ζωής του.

j- Παρακολούθηση σε πραγματικό χρόνο της λειτουργικής κατάστασης του οργάνου, διευκολύνοντας την εύκολη συντήρηση του οργάνου.

k. Για να αποφευχθεί το τυχαίο άνοιγμα του καλύμματος του δείγματος κατά τη διάρκεια της δοκιμής, το λογισμικό παρέχει προειδοποίηση λειτουργίας και συγχρόνως κλείνει την παροχή ηλεκτρικής ενέργειας υψηλής τάσης.


Τεχνική παράμετρος

Πρότυπο οργάνου

ΑΛ-NP-5010

Αρχή ανάλυσης

Ανάλυση φθορισμού ακτίνων Χ με διάσπαση ενέργειας

Πεδίο στοιχείων ανάλυσης

Οποιοδήποτε στοιχείο από το Na(11) έως το U(92)

Όριο ανίχνευσης

Cd/Hg/Br/Cr/Pb ≤ 2 ppm

Σχήμα δείγματος

Οποιοδήποτε μέγεθος, οποιοδήποτε ακανόνιστα σχήμα

Τύπος δείγματος

Πλαστικό/Metal/Film/Powder/Liquid κλπ.

Χ- ακτινοβολία

 

- Στοχευμένο υλικό

Στόχος μολυβδανίου (Mo)

- Η τάση του σωλήνα

5 - 50KV

- ρεύμα σωλήνα

1 - 1000 uA

Διάμετρος ακτινοβολίας δείγματος

2, 5, 8mm

Ανιχνευτής

Ανιχνευτής Si-PIN ή SDD, σύστημα ανάλυσης ύψους παλμού υψηλής ταχύτητας

Γεννήτρια υψηλής τάσης

Γεννήτρια υψηλής τάσης για φθορισμό ακτίνων Χ

ΑΠΔ

2048 κανάλια

Φίλτρο

6 είδη φίλτρων με αυτόματη επιλογή και μετατροπή

Παρατήρηση δείγματος

200x χρωματική κάμερα CCD

Λογισμικό ανάλυσης

Προϊόν λογισμικού με δίπλωμα ευρεσιτεχνίας, δωρεάν αναβάθμιση για όλη τη ζωή

Μέθοδος ανάλυσης

Θεωρητική μέθοδος α συντελεστή, μέθοδος βασικών παραμέτρων, εμπειρική μέθοδος συντελεστή

Χρόνος ανάλυσης

Ρυθμίζεται από 30 - 900 δευτερόλεπτα

Λογισμικό λειτουργικού συστήματος

WINDOWS XP

Σύστημα επεξεργασίας δεδομένων

 

- Ο υπολογιστής υποδοχής

Επιχειρηματικό μοντέλο υπολογιστών

- Η CPU

≥ 2,8G

- Μνήμη.

≥ 2g

- Οπτική κίνηση

8xDVD

- Ο σκληρός δίσκος

≥ 500G

- Εμφάνιση

Εικονική οθόνη 22 ή 24 ιντσών

Εργασιακό περιβάλλον

Θερμοκρασία 10 - 35°C, υγρασία 30 - 70%RH


Στοιχεία επικοινωνίας
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Ms. Kaitlyn Wang

Τηλ.:: 19376687282

Φαξ: 86-769-83078748

Στείλετε το ερώτημά σας απευθείας σε εμάς (0 / 3000)