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Medidor de espesor de recubrimiento/analizador Rohs/probador de espesor de recubrimiento espectrómetro de emisión ICP espectrómetro de emisión ICP E

Certificación
PORCELANA DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD certificaciones
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Medidor de espesor de recubrimiento/analizador Rohs/probador de espesor de recubrimiento espectrómetro de emisión ICP espectrómetro de emisión ICP E

Coating Thickness Gauge/Rohs Analyzer/Coating Thickness Tester ICP Emission Spectrometer ICP Emission Spectrometer ICP E
Coating Thickness Gauge/Rohs Analyzer/Coating Thickness Tester ICP Emission Spectrometer ICP Emission Spectrometer ICP E

Ampliación de imagen :  Medidor de espesor de recubrimiento/analizador Rohs/probador de espesor de recubrimiento espectrómetro de emisión ICP espectrómetro de emisión ICP E

Datos del producto:
Lugar de origen: Cantón, China
Nombre de la marca: LONROY
Número de modelo: LR-161CS LR-1614C
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: 1

Medidor de espesor de recubrimiento/analizador Rohs/probador de espesor de recubrimiento espectrómetro de emisión ICP espectrómetro de emisión ICP E

descripción
soporte personalizado: OEM, ODM, OBM Garantía: 1 año
Nombre del producto: analizador RoHS
Resaltar:

Medidor de espesor de revestimiento con garantía

,

Analisador Rohs para pruebas de materiales

,

Espectrómetro de emisiones ICP para análisis de metales

Medidor de espesor de revestimiento/analizar Rohs/probador de espesor de revestimiento espectrómetro de emisiones ICP espectrómetro de emisiones ICP E

Medidor de espesor de revestimiento/analizar Rohs/probador de espesor de revestimiento

1.Introducción del producto:

La nueva generación de diseño, es un sentido único de la ciencia y la tecnología de un espectrómetro multipropósito de una máquina,utilizando un algoritmo EFP avanzado y tecnología de agrupación en condiciones de poca luz con una nueva generación de secuencias multicanal oportunas, tipo especializado no sólo conserva el rendimiento del espesímetro especial para detectar muestras pequeñas y ranuras, sino que también puede cumplir con la detección de micro área RoHS y el análisis de elementos completos.Cada función es la más profesional.

2.Ventaja de rendimiento

Detección de micro muestras Área mínima de medición 0,03 mm2 Algoritmo del dispositivo de zoom La distancia de medición se puede cambiar para medir muestras de forma cóncava y convexa.y la distancia de zoom puede alcanzar 0-30mm algoritmo EFP avanzado Li(3)-U(92) elemento de recubrimiento, múltiples capas de varios elementos, even the same element in different layers can be accurately measured Advanced spectrum resolution technology Reduce the interference of similar energy elements and reduce the detection limit High performance detector High performance SDD silicon drift detector with measurement accuracy up to nanometer level X-ray apparatus Microfocus enhanced ray tube with focusing device One machine multi-purpose, prueba fina prueba fina Al mismo tiempo para cumplir con el revestimiento, RoHS, y la detección de la composición de la aleación, y es la prueba fina, cada uso es de grado profesional

 Medidor de espesor de revestimiento/analizar Rohs/probador de espesor de revestimiento
3- Área de aplicación
 Medidor de espesor de recubrimiento/analizador Rohs/probador de espesor de recubrimiento espectrómetro de emisión ICP espectrómetro de emisión ICP E
Medidor de espesor de revestimiento/analizar Rohs/probador de espesor de revestimiento

entrada

Número de modelo

Se aplicará el procedimiento siguiente: Se aplicará el procedimiento siguiente:
Análisis del revestimiento Puede analizar 23 recubrimientos y 24 tipos de elementos al mismo tiempo, y también puede analizar y detectar 90 tipos de elementos de recubrimiento de Li(3)-U(92) con los mismos elementos en diferentes capas.
Análisis RoHS El límite mínimo de detección de elementos nocivos (RoHS, halógenos) es de 2 ppm El límite mínimo de detección de elementos nocivos (RoHS, halógenos) es de 1 ppm
Análisis de componentes S(16)-U(92) Al (13)-U (92)
El algoritmo de la EFP normalidad
Funcionamiento del software software cerrado humanizado, automáticamente juzgar error corrección rápida y pasos de operación para evitar mal funcionamiento
Tiempo de análisis 3-200 segundos 1 a 200 segundos
El detector Detector de semiconductores Si-Pin Detector de deriva de silicio SDD
Dispositivo de rayos X Tubo de rayos reforzado con microfoco
el colimador

Estándar: 0.1*0.3mm; Phi es 0.3 mm; Phi es 1.2 mm; φ3mm con cuatro colímetros con conmutación automática

(Facultativo φ0,2 mm; Phi es 0,5 mm; Phi es 1,2 mm; Phi es 3 mm)

Tecnología de baja concentración de luz la difusión puntual medida recientemente es inferior al 10%
El filtro Cuatro tipos de filtros se pueden cambiar libremente
Distancia de medición Con función de compensación de distancia, puede cambiar la distancia de medición de muestras concavas y convexas, distancia de zoom 0-30mm
Observación de la muestra 1/2.7 " en color CCD, función de zoom
Modo de enfoque Lente muy sensible, enfoque manual
aumento de tamaño Óptico 38-46X, amplificación digital 40-200 veces
Tamaño del instrumento Se trata de un sistema de control de las emisiones de gases de escape.
Altura de la cámara de muestreo de tamaño igual o superior a 300 mm
Modo de movimiento de la tabla de muestra Esqueleto de deslizamiento manual XY de alta precisión
Rango móvil 50 mm*50 mm
peso del instrumento 50 kg de peso
Otros accesorios

Un conjunto de computadora, impresora, caja de accesorios, hoja de 12 elementos, hoja estándar RoHS, medición de solución de galvanizado

Copo de medición (opcional), placa estándar (2 de 10)

Normas de rayos X DIN ISO3497, DIN 50987 y ASTMB568: las especificaciones de las demás especificaciones

Medidor de espesor de recubrimiento/analizador Rohs/probador de espesor de recubrimiento espectrómetro de emisión ICP espectrómetro de emisión ICP E

Contacto
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Persona de Contacto: Kaitlyn Wang

Teléfono: 19376687282

Fax: 86-769-83078748

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