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Mesure de l'épaisseur du revêtement/analyseur de Rohs/testeur d'épaisseur du revêtement ICP spectromètre d'émission ICP spectromètre d'émission ICP E

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CHINE DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD certifications
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Mesure de l'épaisseur du revêtement/analyseur de Rohs/testeur d'épaisseur du revêtement ICP spectromètre d'émission ICP spectromètre d'émission ICP E

Coating Thickness Gauge/Rohs Analyzer/Coating Thickness Tester ICP Emission Spectrometer ICP Emission Spectrometer ICP E
Coating Thickness Gauge/Rohs Analyzer/Coating Thickness Tester ICP Emission Spectrometer ICP Emission Spectrometer ICP E

Image Grand :  Mesure de l'épaisseur du revêtement/analyseur de Rohs/testeur d'épaisseur du revêtement ICP spectromètre d'émission ICP spectromètre d'émission ICP E

Détails sur le produit:
Lieu d'origine: Guangdong, Chine
Nom de marque: LONROY
Numéro de modèle: LR-161CS LR-1614C
Conditions de paiement et expédition:
Quantité de commande min: 1

Mesure de l'épaisseur du revêtement/analyseur de Rohs/testeur d'épaisseur du revêtement ICP spectromètre d'émission ICP spectromètre d'émission ICP E

description de
accompagnement personnalisé: OEM, ODM, OBM Garantie: 1 an
Nom du produit: Analyseur RoHS
Mettre en évidence:

Indicateur d'épaisseur du revêtement avec garantie

,

Analyseur Rohs pour les essais de matériaux

,

Spectromètre d'émission ICP pour l'analyse des métaux

Jauge d'épaisseur de revêtement/analyseur Rohs/testeur d'épaisseur de revêtement spectromètre d'émission ICP spectromètre d'émission ICP ICP E

Jauge d'épaisseur de revêtement/analyseur Rohs/testeur d'épaisseur de revêtement

1. Présentation du produit :

La nouvelle génération de conception est un sens unique de la science et de la technologie d'un spectromètre polyvalent à une machine, utilisant un algorithme EFP avancé et une technologie de regroupement à faible luminosité avec une nouvelle génération de séquençage multicanal en temps opportun, le type spécialisé conserve non seulement les performances de la jauge d'épaisseur spéciale pour détecter les petits échantillons et les rainures, mais peut également répondre à la détection RoHS des micro-zones et à l'analyse des éléments complets. Chaque fonction est la plus professionnelle.

2. Avantage en termes de performances

Détection de micro-échantillons Zone de mesure minimale 0,03 mm² Algorithme du dispositif de zoom La distance de mesure peut être modifiée pour mesurer des échantillons de forme concave et convexe, et la distance de zoom peut atteindre 0-30 mm Algorithme EFP avancé Revêtement d'éléments Li(3)-U(92), plusieurs couches de plusieurs éléments, même le même élément dans différentes couches peut être mesuré avec précision Technologie avancée de résolution spectrale Réduire l'interférence d'éléments énergétiques similaires et réduire la limite de détection Détecteur haute performance Détecteur de dérive de silicium SDD haute performance avec une précision de mesure jusqu'au niveau nanométrique Appareil à rayons X Microfocus tube à rayons amélioré avec dispositif de focalisation Une machine polyvalente, test fin test fin En même temps pour répondre à la détection du revêtement, de RoHS et de la composition de l'alliage, et c'est le test fin, chaque utilisation est de qualité professionnelle

 Jauge d'épaisseur de revêtement/analyseur Rohs/testeur d'épaisseur de revêtement
3.Champ d'application
 Mesure de l'épaisseur du revêtement/analyseur de Rohs/testeur d'épaisseur du revêtement ICP spectromètre d'émission ICP spectromètre d'émission ICP E
Jauge d'épaisseur de revêtement/analyseur Rohs/testeur d'épaisseur de revêtement

entrée

Numéro de modèle

LR-161CS LR-1614C
Analyse du revêtement Il peut analyser 23 revêtements et 24 types d'éléments en même temps, et il peut également analyser et détecter 90 types d'éléments de revêtement Li(3)-U(92) avec les mêmes éléments dans différentes couches.
Analyse RoHS La limite minimale de détection des éléments nocifs (RoHS, halogènes) est de 2 ppm La limite minimale de détection des éléments nocifs (RoHS, halogènes) est de 1 ppm
Analyse des composants S(16)-U(92) Al(13)-U(92)
Algorithme EFP standard
Fonctionnement du logiciel logiciel fermé humanisé, juge automatiquement la correction rapide des défauts et les étapes de fonctionnement pour éviter une mauvaise utilisation
Temps d'analyse 3-200 secondes 1-200 secondes
Détecteur Détecteur de semi-conducteur Si-Pin Détecteur de dérive de silicium SDD
Appareil à rayons X Tube à rayons amélioré par microfocus
collimateur

Norme : 0,1*0,3 mm ; Phi est de 0,3 mm ; Phi est de 1,2 mm ; Commutation automatique à quatre collimateurs φ3 mm

(Facultatif φ0,2 mm ; Phi est de 0,5 mm ; Phi est de 1,2 mm ; Phi est de 3 mm)

Technologie à faible concentration de lumière Récemment mesuré, la diffusion ponctuelle est inférieure à 10 %
Filtre Quatre types de filtres commutent librement
Distance de mesure Avec fonction de compensation de distance, peut modifier la distance de mesure des échantillons de forme concave et convexe, distance de zoom 0-30 mm
Exemple d'observation CCD couleur 1/2,7", fonction zoom
Mode de mise au point Objectif très sensible, mise au point manuelle
grossissement Optique 38-46X, amplification numérique 40-200 fois
Taille de l'instrument 545mm*380mm*435mm
Hauteur de la chambre d'échantillonnage 210 mm
Mode de déplacement de la table d'échantillons Rail coulissant manuel XY de haute précision
Gamme mobile 50mm*50mm
poids de l'instrument 50 kg
Autres accessoires

Un ensemble comprenant un ordinateur, une imprimante, une boîte d'accessoires, une feuille de 12 éléments, une feuille standard RoHS, une mesure de solution de galvanoplastie

Tasse à mesurer (en option), assiette standard (2 sur 10)

Normes de rayons X DIN ISO3497, DIN 50987 et ASTMB568

Mesure de l'épaisseur du revêtement/analyseur de Rohs/testeur d'épaisseur du revêtement ICP spectromètre d'émission ICP spectromètre d'émission ICP E

Coordonnées
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Personne à contacter: Kaitlyn Wang

Téléphone: 19376687282

Télécopieur: 86-769-83078748

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