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Datos del producto:
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| Potencia de funcionamiento: | 600W | Modelo: | Al-27min |
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| Estabilidad: | 0.005% | Garantía: | 1 año |
| Ancho de paso mínimo: | 0.0001° | Dimensiones generales: | 600 × 410 × 670 mm |
| Resaltar: | AL-27min Analisador XRF con análisis XRD,Analisador XRF para ensayo de materiales,Equipo de difractómetro de rayos X con garantía |
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Parámetro técnico
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Potencia de funcionamiento (voltaje del tubo, corriente del tubo) |
600W (40kV, 15mA) o 1200W (40kV, 30mA); Estabilidad: 0,005% |
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tubo de rayos x |
Tubo de rayos X de metal-cerámica, objetivo de Cu, potencia 2,4 kW, tamaño del punto focal: 1x10 mm; Método de enfriamiento: enfriado por aire o por agua (caudal de agua > 2,5 l/min) |
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Goniómetro |
Muestra de estructura horizontal θs-θd, radio de círculo de difracción de 150 mm |
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Medición de muestra Modos |
Continuo,Spaso a paso, Dios mío |
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Rango de medición de ángulo |
-3° - 150° cuando θs/θd están vinculados |
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Ancho mínimo de paso |
0,0001° |
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Reproducibilidad del ángulo |
0,0005° |
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Velocidad de posicionamiento en ángulo |
1500°/minuto |
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Encimera |
Contador proporcional sellado o contador semiconductor unidimensional de alta velocidad |
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Resolución del espectro energético |
Menos del 25% |
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Tasa máxima de conteo lineal |
≥5×10⁵ CPS (contador proporcional); ≥9×10⁷ CPS (contador de semiconductores unidimensionales) |
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Software de control de instrumentos |
Sistema operativo Windows 7; Controla automáticamente el voltaje del tubo, la corriente del tubo, el obturador y el envejecimiento del tubo de rayos X del generador de rayos X; Controla el goniómetro para escaneo continuo o por pasos mientras recopila datos de difracción; Realiza procesamiento de rutina de datos de difracción: búsqueda automática de picos, búsqueda manual de picos, intensidad integral, altura de pico, centro de gravedad, resta de fondo, suavizado, ampliación de forma de pico, comparación de espectro, etc. |
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Software de procesamiento de datos |
Las funciones incluyen análisis cualitativo y cuantitativo de fase, eliminación de Kα1 y α2, ajuste de espectro completo, ajuste de pico seleccionado, cálculo de ancho total a la mitad del máximo (FWHM) y tamaño de grano, determinación de celda unitaria, cálculo de estrés tipo II, indexación de líneas de difracción, trazado múltiple, trazado 3D, calibración de datos de difracción, sustracción de fondo, análisis cuantitativo sin estándares, ajuste de patrón completo (WPF), simulación de espectro de difracción XRD, etc. |
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Protección contra la radiación dispersa |
Protección plomo + vidrio plomo; Enclavamiento entre la ventana de la persiana y el dispositivo de protección; Dosis de radiación dispersa ≤1μSv/h |
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Estabilidad integral del instrumento |
≤1‰ |
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Capacidad de carga de muestras al mismo tiempo |
Equipado con un cambiador de muestras, capaz de cargar hasta 6 muestras a la vez. |
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Dimensiones generales del instrumento |
600×410×670 (ancho×fondo×alto) mm |
Persona de Contacto: Ms. Kaitlyn Wang
Teléfono: 19376687282
Fax: 86-769-83078748