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Détails sur le produit:
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| Puissance de fonctionnement: | 600W | Modèle: | Al-27min |
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| Stabilité: | 00,005% | Garantie: | 1 an |
| Largeur de pas minimale: | 0.0001° | Dimensions globales: | 600 × 410 × 670 mm |
| Mettre en évidence: | Analyseur XRF AL-27min avec analyse XRD,analyseur XRF pour les tests de matériaux,équipement de diffractomètre à rayons X avec garantie |
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Paramètre technique
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Puissance de fonctionnement (tension du tube, courant du tube) |
600 W (40 kV, 15 mA) ou 1 200 W (40 kV, 30 mA) ; Stabilité : 0,005 % |
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Tube à rayons X |
Tube à rayons X métallo-céramique, cible Cu, puissance 2,4 kW, taille du foyer : 1x10 mm ; Méthode de refroidissement : refroidi par air ou refroidi par eau (débit d'eau > 2,5 L/min) |
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Goniomètre |
Échantillon de structure θs-θd horizontale, rayon du cercle de diffraction 150 mm |
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Exemple de mesure Modes |
Continu,Spar étapes, Oh mon Dieu |
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Plage de mesure d'angle |
-3° - 150° lorsque θs/θd sont liés |
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Largeur de marche minimale |
0,0001° |
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Reproductibilité des angles |
0,0005° |
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Vitesse de positionnement angulaire |
1500°/min |
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Comptoir |
Compteur proportionnel scellé ou compteur à semi-conducteur unidimensionnel à grande vitesse |
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Résolution du spectre énergétique |
Moins de 25 % |
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Taux de comptage linéaire maximum |
≥5×10⁵ CPS (compteur proportionnel) ; ≥9×10⁷ CPS (compteur à semi-conducteur unidimensionnel) |
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Logiciel de contrôle des instruments |
Système d'exploitation Windows 7 ; Contrôle automatiquement la tension du tube, le courant du tube, l'obturateur et le vieillissement du tube à rayons X du générateur de rayons X ; Contrôle le goniomètre pour un balayage continu ou par étapes tout en collectant des données de diffraction ; Effectue un traitement de routine des données de diffraction : recherche automatique de pics, recherche manuelle de pics, intensité intégrale, hauteur de pic, centre de gravité, soustraction de fond, lissage, grossissement de forme de pic, comparaison de spectre, etc. |
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Logiciel de traitement des données |
Les fonctions comprennent l'analyse qualitative et quantitative de phase, le décapage Kα1 et α2, l'ajustement du spectre complet, l'ajustement du pic sélectionné, le calcul de la largeur totale à mi-hauteur (FWHM) et de la taille des grains, la détermination des cellules unitaires, le calcul des contraintes de type II, l'indexation des lignes de diffraction, le traçage multiple, le traçage 3D, l'étalonnage des données de diffraction, la soustraction de fond, l'analyse quantitative sans norme, l'ajustement complet du motif (WPF), la simulation du spectre de diffraction XRD, etc. |
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Protection contre les radiations dispersées |
Protection en plomb + verre au plomb ; Verrouillage entre le volet et le dispositif de protection ; Dose de rayonnement diffusé ≤1μSv/h |
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Stabilité complète de l'instrument |
≤1‰ |
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Capacité de chargement d'échantillon en même temps |
Equipé d'un passeur d'échantillons, capable de charger jusqu'à 6 échantillons à la fois |
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Dimensions hors tout de l'instrument |
600×410×670 (l×p×h) mm |
Personne à contacter: Ms. Kaitlyn Wang
Téléphone: 19376687282
Télécopieur: 86-769-83078748