DZDR-S 급속 열 기기 / 일시 평면 원천 기술 열 전도성 검사기

 DZDR-S 급속 열 기기 / 일시 평면 원천 기술 열 전도성 검사기

DZDR-S 급속 열 기기 / 일시 평면 원천 기술 열 전도성

제품 소개:

이변 평면 열원 방법 (

TPS) 열전도 검사기. 이 제품은 Achievo Instrument에 의해 독립적으로 개발되었으며 성능을 테스트합니다.

안정적이고 강력한 데이터 처리 및 분석 능력, 다양한 유형의 재료의 열 전도성을 측정하는 데 사용할 수 있습니다.

기술 매개 변수:

1시험 범위: 0.001-300W /m*K

2측정 온도 범위: 실내 온도 -- 130°C

3탐사 직경: 1호 탐사 7.5mm; 2호 탐사 15mm

4정확도: 0001

5측정시간: 5~160초

6전원 공급: AC 220V

7 기계 전력: < 500W8. 샘플 온도 상승: < 15°C

9시험 샘플 전력 P: 1호 탐사 전력 0

10 샘플 사양: 1번 탐사 샘플 (≥ 7.5*7.5*3.75mm) 2번 탐사 샘플 (≥ 15*15*7.5mm)

참고:1번 프로브는 얇은 두께의 낮은 전도성 물질을 측정하는 데 사용됩니다. 샘플 표면이 매끄럽고 끈적기면 샘플을 넣을 수 있습니다. 선 겹치기

기기 특징:

광범위한 테스트 범위, 안정적인 테스트 성능, 국내 유사한 기기, 최고 수준

직접 측정, 테스트 시간은 5-160s 정도 설정할 수 있으며, 신속하고 정확하게 열 전도도를 측정하여 많은 시간을 절약 할 수 있습니다.

정적 방법처럼 접촉 열 저항에 영향을 받지 않습니다.

특별한 샘플 준비, 샘플 모양에 대한 특별한 요구 사항이 없습니다. 블록 고체로는 비교적 부드러운 샘플 표면과 전체 길이와 폭이 탐사선의 지름의 최소 두 배가 필요합니다.

샘플의 비파괴 테스트는 샘플이 재사용될 수 있음을 의미합니다.

탐사선은 듀얼 헬릭스 구조를 설계하고, 독점적인 수학적 모델과 결합하여, 탐사선에서 수집된 데이터를 분석하고 계산하기 위해 핵심 알고리즘을 사용합니다.

샘플 테이블의 구조 설계는 똑똑하고 조작이 쉽고, 다른 두께의 샘플을 배치하기에 적합하며 간단하고 아름답습니다.

수입된 데이터 획득 칩을 이용한 탐사선에서 데이터 수집, 칩의 고해상도는 테스트 결과를 보다 정확하고 신뢰할 수 있게 합니다.

호스트의 제어 시스템은 전통적인 마이크로프로세서보다 더 빠른 ARM 마이크로프로세서를 사용합니다. 시스템의 분석과 처리 능력을 향상시킵니다.그리고 계산 결과를 더 정확하게 만듭니다.;

기기는 블록 고체, 페이스트 고체, 곡성 고체, 콜로이드, 액체, 분말, 코팅, 필름, 단열 재료 및 기타 열 특성 매개 변수 측정에 사용할 수 있습니다.

지능형 인간-기계 인터페이스, 컬러 LCD 디스플레이, 터치 스크린 제어, 쉽고 간단한 조작

강력한 데이터 처리 능력.고도로 자동화된 컴퓨터 데이터 통신 및 보고서 처리 시스템.