DZDR-S Rapid Thermal Instrument / Transient Plane Source Technology Wärmeleitfähigkeitstester

 DZDR-S Rapid Thermal Instrument / Transient Plane Source Technology Wärmeleitfähigkeitstester

DZDR-S Rapid Thermal Instrument / Transient Plane Source Technology Wärmeleitfähigkeit

Produkteinführung:

Basierend auf der Methode der transienten ebenen Wärmequelle (

TPS) Wärmeleitfähigkeitstester. Das Produkt wurde unabhängig von Achievo Instrument entwickelt und testet die Leistung

Stabile, starke Datenverarbeitungs- und Analysefähigkeit, kann zur Messung der Wärmeleitfähigkeit verschiedener Arten von Materialien verwendet werden.

Technische Parameter:

1. Testbereich: 0,001–300 W/(m*K)

2. Messtemperaturbereich: Raumtemperatur - 130℃

3. Sondendurchmesser: Nein. 1 Sonde 7,5 mm;Nr. 2 Sonden 15 mm

4. Genauigkeit: 0,001

5. Messzeit: 5~160 Sekunden

6. Stromversorgung: Wechselstrom 220 V

7 Maschinenleistung: < 500W8. Probentemperaturanstieg: <15℃

9. Testmusterleistung P: Nein. 1 Sondenleistung 0<P<1 w;Nr. 2 Sondenleistung 0<P<20 W.

10 Probenspezifikationen: Nr. 1 Sondenprobe (≥ 7,5 * 7,5 * 3,75 mm) Nr. 2 Sondenprobe (≥ 15 * 15 * 7,5 mm)

Notiz:Die Sonde Nr. 1 wird zum Messen von Material mit geringer Leitfähigkeit und geringer Dicke verwendet. Wenn die Probenoberfläche glatt und klebrig ist, kann die Probe hineingegeben werden Linienüberlagerung

Gerätemerkmale:

Breites Testspektrum, stabile Testleistung, im inländischen ähnlichen Instrument, auf dem führenden Niveau;

Direkte Messung, Testzeit ca. 5-160 Sekunden einstellbar, kann die Wärmeleitfähigkeit schnell und genau messen, was viel Zeit spart;

Der Kontaktwärmewiderstand wird bei der statischen Methode nicht beeinflusst;

Keine spezielle Probenvorbereitung, keine besonderen Anforderungen an die Probenform, der Blockfestkörper benötigt lediglich eine relativ glatte Probenoberfläche und eine volle Länge und Breite, die mindestens dem Doppelten des Sondendurchmessers entspricht;

Durch die zerstörungsfreie Prüfung von Proben können Proben wiederverwendet werden;

Die Sonde übernimmt die zu entwerfende Doppelhelixstruktur in Kombination mit dem exklusiven mathematischen Modell und verwendet den Kernalgorithmus zur Analyse und Berechnung der auf der Sonde gesammelten Daten.

Das Strukturdesign des Probentisches ist clever, einfach zu bedienen, für die Platzierung von Proben unterschiedlicher Dicke geeignet und einfach und schön.

Die Datenerfassung auf der Sonde mithilfe eines importierten Datenerfassungschips und die hohe Auflösung des Chips können die Testergebnisse genauer und zuverlässiger machen.

Das Steuerungssystem des Hosts verwendet den ARM-Mikroprozessor, der schneller als der herkömmliche Mikroprozessor ist, die Analyse- und Verarbeitungsfähigkeit des Systems verbessert und die Berechnungsergebnisse genauer macht;

Das Gerät kann für die Messung von Blockfeststoffen, Pastenfeststoffen, körnigen Feststoffen, Kolloiden, Flüssigkeiten, Pulvern, Beschichtungen, Filmen, Isoliermaterialien und anderen Parametern thermischer Eigenschaften verwendet werden.

Intelligente Mensch-Maschine-Schnittstelle, Farb-LCD-Display, Touchscreen-Steuerung, einfache und unkomplizierte Bedienung;

Starke Datenverarbeitungsfähigkeit. Hochautomatisiertes Computerdatenkommunikations- und Berichtsverarbeitungssystem.