1記述:

この装置は,光学分析の原理に基づいて開発された新しいタイプの光学分析器です.高濃度の範囲で優れた線形精度を実現するコンピュータデータ処理システムを使用し,複数のサンプルを同時に検査するのに適しています (一度に最大10個のサンプルを検査できます).すべてのボタンとスイッチは削除されています.すべての機能はソフトウェアによって実現され,自動ゼロ調整と自動線形訂正があります.機械的な故障を根本的に回避する装置の安定性を著しく向上させ,操作を簡素化します.基本的にゼロの故障とゼロのメンテナンスを達成できます.特にシリカート化学成分の体系的な分析に適しています.耐火材料,建材,鉱物資源およびそれらの製品の検出分野にも適用されます.

2テクニカルパラメータ

1測定可能な要素と範囲:
SiO2 0.01~100% Al2O3 0.01~100% Fe2O3 0.01~100% TiO2 0.01~100%
K2O: 0.01% - 15% Na2O: 0.01% - 15% CaO: 0.01% - 100% MgO: 0.01% - 100%
B2O3 0.01 - 30% ZrO2 0.01 - 100% Li2O 0.01 - 15% SnO 0.01 - 15%
PbO 0.01 - 100% ZnO 0.01 - 100% MnO 0.01 - 15% Cr2O3 0.01 - 15%
BaO 0.01 - 10% NiO 0.01 - 100% CoO 0.01 - 100% P2O5 0.01 - 30%
MoO3:0.01% - 100% V2O5:0.01% - 100% CuO:0.01% - 100% Mo:0.01% - 100%
2測定可能な材料の種類:シリコン,アルミナート化合物;様々な非鉄金属鉱物および合金,および化学原材料の主要な成分を決定することができます.主要な原材料と完成品の総合的な分析.
3精度:この機器の測定精度は,関連要素に関する国家分析方法規格 (GB/T4734-1996,QB/T2578-2002年).
4測定チャンネル: 3
5測定安定性: 測定値は5分以内に ±1ユニット以内に変化する.
6試験の繰り返し性:同じサンプル溶液の測定値は,繰り返し測定された場合,±1桁以内になければならない.
7検知速さ: 検体測定開始後約2時間後,4つの通常のサンプルでSiO2,Al2O3,Fe2O3,TiO2,K2O,Na2O,CaO,およびMgOの測定が完了できます.他の要素の決定は4時間以内に完了できる..
8連続測定のためのサンプル数: 20