EDX 1800B Rohs XRF Analyzer Spektrometer Fluoresensi Sinar-X Portabel 300W

EDX 1800B Rohs XRF Analyzer X-ray Fluorescence Spectrometer

Aplikasi

Produk yang digunakan untuk kontrol arahan RoHS: peralatan rumah tangga besar, peralatan rumah tangga kecil, peralatan teknologi informasi dan komunikasi, alat listrik, mainan dan peralatan lainnya

Untuk produk kontrol bebas halogen: produk dengan retardan api yang mengandung Cl, Br dan elemen lain sebagai bahan baku

Gambaran instrument

AkuEDX 1800B adalahproduk yang dirancang khusus untuk RoHS, EN71 dan direktif perlindungan lingkungan lainnya.

AkuEDX 1800Badalah model yang populer dalam seri produk, sistem perlindungan sinar tiga; antarmuka operasi manusiawi; Aplikasi komprehensif dari metode koefisien empiris, metode parameter dasar V1.0 Perangkat lunak analisis. tes elemen berkisar dari S-U. yaitu, Pb, Cd, Hg, PBB dan PBDE yang dapat mengontrol arahan RoHS

AkuBr, Cr dari kromium hexavalent dan Cl dan Br elemen dalam halogen bebas direktif.khusus cocok untuk kontrol proses pabrik multi-bahan.

AkuFungsi perbandingan spektrum asli, pelacakan perubahan bahan pemasok secara real-time dan peringatan tepat waktu, RoHS / bebas halogen dan kontrol pemasok memiliki keuntungan yang tak tertandingi.

Prodcut Deskripsi

1. perlindungan sinar tiga (perangkat lunak, perangkat keras, desain labirin) untuk memastikan keselamatan pribadi operator dan kerusakan radiasi yang disebabkan oleh operasi tidak sengaja;

2. Desain rongga sampel besar, cocok untuk deteksi sampel besar, sebagian menggantikan fungsi XRF genggam;

3Desain jalur optik baru menyelesaikan dampak negatif dari jalur optik udara pada pengukuran elemen Cl sejauh mungkin.dan memastikan batas deteksi dan stabilitas unsur klorin (Cl);

4Perangkat lunak analisis V1.0 yang baru dioptimalkan dapat secara otomatis mengatur daya tabung optik sesuai dengan bahan sampel, bentuk dan ukuran,yang tidak hanya dapat memperpanjang umur layanan tabung optik tetapi juga memberikan permainan penuh untuk kinerja detektor dan sangat meningkatkan akurasi pengukuran;

5. Satu-satunya platform kalibrasi kurva kerja terbuka di industri, yang dapat menyesuaikan skema deteksi dan kontrol zat berbahaya terbaik untuk pengguna;

6Mengintegrasikan serangkaian metode pemrosesan spektral canggih, termasuk FFT (filter transformasi Fourier cepat), metode pengurangan latar belakang yang akurat,algoritma pencarian puncak otomatis turunan dan Quasi-Newton optimasi;

7Perangkat lunak analisis XRF terkemuka internasional mengintegrasikan berbagai metode analisis klasik, termasuk metode koefisien empiris, metode parameter dasar (metode FP),metode koefisien α teoritis, dll, untuk sepenuhnya memastikan keakuratan data pengujian;

8. Format output laporan uji yang disesuaikan (Excel, PDF, dll.) sesuai dengan persyaratan pengguna, sesuai dengan berbagai persyaratan statistik dan format pabrik;

9. Dapat menyediakan teknologi pengujian kuantitatif krom hexavalent dan aksesori, pengukuran ketebalan lapisan dan perangkat lunak analisis multi-elemen (pengguna perlu membeli secara terpisah);

10. Antarmuka perangkat lunak multibahasa tersedia;

11. metode analisis spektrogram komparatif asli, pemasok materi perubahan fungsi peringatan tepat waktu.

Indeks teknis instrumen

Konfigurasi utama perangkat keras instrumen

 DSistem pembagian

Jenis: Detektor Si-PIN

Jadi ketebalan jendela: 1mil ((0.0254mm) Resolusi terbaik: 144±5eV

Rasio puncak ke belakang sistem: ≥ 6200/1

Rentang respons energi: 1keV ~ 40keV

Rasio hitungan yang direkomendasikan: 5000cps

X-Tube

Tegangan: 0 ~ 50 kV

Arus maksimum: 1,0mA

Daya maksimum: 50W Tegangan filamen: 2.0V Arus filamen: 1.7A Sudut ekstraksi sinar: 12° Sasaran: Mo

Jadi ketebalan jendela: 400um

sumber daya tegangan tinggi

Tegangan masuk: DC +24V±10%

Input current: 4.25A (Max.) Output voltage: 0-50KV & 1mA Daya maksimum: 50W

Tingkat penyesuaian tegangan: 0,01% (tanpa beban ke beban penuh) Tingkat penyesuaian arus: 0,01% (tanpa beban ke beban penuh)

Tegangan riak: Tegangan riak puncak adalah 0,25% dari tegangan output tertinggi dalam kondisi tegangan output nominal.

Stabilitas 8 jam: ≤ 0,05%

Perangkat lunak khusus JPSPEC-FP

SPengantar perangkat lunak

Ini dikembangkan khusus untuk deteksi RoHS. Sinyal spektrum yang dikumpulkan diproses, dihitung, dan hasil pengukuran dilaporkan dan ditampilkan.

Fpengantar penyucian

Secara khusus menangani enam elemen Cd, Pb, Hg, Br, Cr dan Cl yang terlibat dalam enam zat dalam direktif ROHS UE.

Antarmuka operasi yang sederhana dan intuitif, mudah digunakan, tidak perlu profesional untuk mengoperasikannya

Kurva kalibrasi yang tepat dapat dipilih secara otomatis, yang membuat pengukuran lebih nyaman dan akurat.

Antarmuka antara Cina dan Inggris secara otomatis beralih, dan fungsi kustomisasi bahasa pihak ketiga disediakan

Instrumen kalibrasi otomatis.

Analisis kualitatif bahan sampel disediakan untuk mencegah pengguna manual memilih kurva yang salah

Berbagai bentuk laporan dicetak.

Beberapa spektrogram dapat ditampilkan pada saat yang sama

Teknologi pemantauan suhu gerakan yang unik memastikan operasi sumber sinar-X yang aman dan dapat diandalkan, secara efektif memperpanjang masa pakai dan mengurangi biaya penggunaan.

Konfigurasi sampel

Sampel standar digunakan untuk membuat kurva kerja

4.1 ruang sampel

Buka rongga sampel besar

4.2 Sampel standar

Sampel standar UE e60k

Sampel perak murni