Produktdetails:
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Betriebsleistung: | 600W | Modell: | Al-27min |
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Stabilität: | 00,005% | Garantie: | 1 Jahr |
Mindestschrittbreite: | 0.0001° | Gesamtabmessungen: | 600 × 410 × 670 mm |
Hervorheben: | Desktop-Röntgendiffraktometer XRD,XRD-Analysetestgeräte,RFA-Analysator mit Garantie |
Technischer Parameter
Betriebsleistung (Rohrspannung, Rohrstrom) |
600W (40kV, 15mA) oder 1200W (40kV, 30mA); Stabilität: 0,005% |
Röntgenröhre |
Metallkeramisches Röntgengerät, Cu-Ziel, Leistung 2,4 kW, Brennpunktgröße: 1x10 mm; Kühlmethode: luft- oder wassergekühlt (Wasserdurchfluss > 2,5 L/min) |
Goniometer |
Horizontale Struktur der Probe θs-θd, Beugkreisradius 150 mm |
Probenmessung Modelle |
KontinuierlichS- Wie bitte? - Wie bitte? |
Winkelmessbereich |
-3° - 150°, wenn θs/θd miteinander verbunden sind |
Mindestschrittbreite |
0.0001° |
Winkelwiederholbarkeit |
0.0005° |
Winkelpositionshöhe |
1500°/min |
Zähler |
Versiegelte Proportionszähler oder Hochgeschwindigkeitszähler mit einem Halbleiter |
Auflösung des Energiespektrums |
Weniger als 25% |
Höchstmenge der linearen Zählung |
≥ 5 × 105 CPS (proportionaler Zähler); ≥ 9 × 107 CPS (einmaliger Halbleiterzähler) |
Steuerungssoftware |
Windows 7-Betriebssystem; Steuert automatisch die Rohrspannung, den Rohrstrom, den Verschluss und die Röntgengerätealterung des Röntgengenerators;Steuerung des Goniometers für das kontinuierliche oder schrittweise Scannen während der Sammlung von Diffraktionsdaten· Durchführt routinemäßige Verarbeitung von Diffraktionsdaten: automatische Spitzensuche, manuelle Spitzensuche, Integralintensität, Spitzenhöhe, Schwerpunkt, Hintergrundsubtraktion, Glättung,Vergrößerung der Spitzenform, Spektrovergleich usw. |
Datenverarbeitungssoftware |
Zu den Funktionen gehören die qualitative und quantitative Phasenanalyse, das Kα1- und α2-Stripping, die Vollspektrumsanpassung, die ausgewählte Spitzenanpassung, die Berechnung der vollen Breite bei maximaler Halbzeit (FWHM) und der Korngröße,Bestimmung der Einheitszelle, Typ II Spannungsberechnung, Diffraktionslinieindizierung, Mehrfachdiagrammierung, 3D-Diagrammierung, Kalibrierung von Diffraktionsdaten, Hintergrundsubtraktion, nicht standardisierte quantitative Analyse,vollständige Musteranpassung (WPF), XRD-Diffraktionsspektrumsimulation usw. |
Schutz vor Streuungsstrahlung |
Blei + Bleiglasschutz; Verriegelung zwischen Verschlussfenster und Schutzvorrichtung; Streudosis ≤1μSv/h |
Umfassende Stabilität des Instruments |
≤1‰ |
Probeladekapazität auf einmal |
mit einer Breite von nicht mehr als 15 mm, |
Gesamtabmessungen des Instruments |
600×410×670 (W×d×h) mm |
Ansprechpartner: Ms. Kaitlyn Wang
Telefon: 19376687282
Faxen: 86-769-83078748