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Détails sur le produit:
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| Taper: | Machine à tester | Classe de précision: | Grande précision |
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| Précision: | ---- | Application: | tests automobiles, tests de laboratoire, tests de laboratoire |
| Un accompagnement personnalisé: | OEM, ODM, OBM | Pouvoir: | --- |
| Conditions de paiement: | IP56 | Tension: | 220 V |
| Garantie: | 1 an | ordinateur industriel: | ordinateur 104 industriel |
| Éléments mesurables: | 10 éléments arbitraires de Na à U | Approvisionnement à haute tension: | 200W (50KV, 4mA) |
| Pompe à vide: | biphasé~220V, 2 litres | ||
| Mettre en évidence: | Spectromètre XRF à dispersion de longueur d'onde compact,Spectromètre de fluorescence X multi-canaux,Spectromètre XRF de laboratoire avec garantie |
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Spectromètre de fluorescence à rayons X à dispersion de longueur d'onde WDXRF Spectromètre de fluorescence XRF multicanal compact de laboratoire
Champs d'application
Matériaux de construction (ciment, verre, céramique)
Métallurgie (acier, métaux non ferreux)
Pétrole (oligo-éléments S, Pb, etc.)
Génie chimique Géographie et inspection des produits miniers
Contrôle qualité
Inspection des oligo-éléments du corps humain
jeintroduction
LR-Le spectromètre de fluorescence X multicanal compact WDX200, avec une configuration de 10 canaux fixes et la capacité d'analyser 10 éléments simultanément, est capable d'effectuer une analyse élémentaire de dix éléments arbitraires de Na à U en fonction des utilisateurs. exigences. Ceci L'instrument est largement utilisé dans le ciment, l'acier, la poudre métallurgie, charbon, pétrole, kaolin, verre, matériaux réfractaires, protection de l'environnement et, par conséquent, un choix idéal pour le contrôle qualité dans les grandes et moyennes entreprises.
Excellentes qualités
Analyse rapide et non destructive d'échantillons de poudre et de vrac
Le MCA multicanal haute vitesse offre une mesure rapide de chaque pic d'élément, bénéficiant non seulement au débogage de l'instrument et au diagnostic des pannes, mais également à l'amélioration de la stabilité de l'instrument.
Comparé aux spectromètres de grande puissance à balayage séquentiel, le GA-WDX200 gagne en précision d'analyse adéquate même lorsqu'une puissance inférieure et un temps de mesure égal sont adoptés, ce qui non seulement confère à l'instrument des performances élevées, mais empêche également l'usure du goniomètre, prolonge la durée de vie du tube à rayons X, minimise les pannes de l'alimentation haute tension et réduire le coût de maintenance de l’ensemble de l’instrument.
Rayonnement X caractéristique de l'élément
Différents éléments ont des orbitales électroniques extra-nucléaires d'énergies de liaison différentes, par conséquent, ils émettent des photons de rayons X transportant des énergies différentes les unes des autres lorsqu'ils sont excités, c'est-à-dire que chaque élément émet des rayons X à sa propre énergie spéciale, représentant la caractéristique de cet élément et par conséquent appelé rayon X caractéristique. Les rayons X caractéristiques de chaque élément ont sa longueur d'onde spécifique ;
Principe de la spectroscopie dispersive en longueur d'onde
Lorsque de nombreux éléments coexistent dans un échantillon et sont irradiés par les rayons X primaires émis par le tube à rayons X, ils émettent leurs rayons X caractéristiques correspondants, généralement appelés FLUORESCENCE DES RAYONS X. Séparer et mesurer les rayons X caractéristiques de ces éléments est appelé spectroscopie de fluorescence X.
Comme les rayons X caractéristiques de différents éléments ont des longueurs d'onde spécifiques, ils peuvent être séparés en utilisant la diffraction cristalline basée sur l'équation de Bragg. Ce type de spectroscopie est appelé spectroscopie dispersive en longueur d'onde.
Équation de Bragg : 2dSinθ=n λ
Où d est l'espacement interplanaire des plans de réseau des cristaux, O est l'angle d'incidence et de diffraction, λ est la longueur d'onde du rayonnement incident, N est l'ordre de diffraction et est un nombre entier.
Avantages du logiciel
1. Système logiciel auto-développé pour les analyseurs de fluorescence X, applicable au système d'exploitation Windows
2. Manipulation facile réalisée grâce à l'interface d'exploitation dans toutes les langues chinoises
3. Grâce à la technologie innovante d'analyse du spectre complet, chaque ligne du spectre peut être tracée et corrigée en temps opportun, ce qui améliore considérablement la répétabilité et la stabilité de l'analyse quantitative et sert également de preuve intuitive du diagnostic de l'état de l'instrument.
4. Équipé d'un logiciel pour deux algorithmes d'analyse quantitative : coefficient empirique
algorithme et algorithme théorique du coefficient α, parmi lesquels ce dernier algorithme réduit le nombre d'échantillons standards tout en conservant une précision adéquate
5. Traitement des données d'analyse, y compris l'ajustement linéaire et toutes sortes de corrections de matrices
6.Calcul de la valeur caractéristique basée sur la valeur d'analyse
7. Interaction homme-machine, vous permettant de définir et de modifier les paramètres
8. Sortie en temps opportun des données d'analyse et du rapport
9. Mesures d'autodiagnostic complètes
Spectromètre de fluorescence à rayons X à dispersion de longueur d'onde WDXRF Spectromètre de fluorescence XRF multicanal compact de laboratoire
Spécification technique
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Modèle |
LR-WDX200 |
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Précision du contrôle de la température de la chambre à température constante |
valeur de réglage ± 0,1 ℃ |
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Éléments mesurables |
10 éléments arbitraires de Na à U |
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Algorithmes d'analyse |
algorithme de coefficient empirique et algorithme théorique du coefficient α |
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Alimentation CA |
AC220V, alimentation à tension stabilisée purifiée 1KVA AC |
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Alimentation haute tension |
200W (50KV, 4mA) |
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Stabilité sur 12 heures de la tension et du courant du tube |
moins de 0,05% |
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Pompe à vide |
biphasé~220V, 2 litres |
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Ordinateur industriel |
ordinateur industriel 104 |
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Précision de l'analyse |
σn-1 (24 heures, teneur en pourcentage) ≤0,05 % |
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Temps de mesure d'un seul échantillon |
(y compris le temps de changement des échantillons et de pompage sous vide) ≤3-5 minutes |
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Tube à rayons X |
Tube à rayons X à fenêtre fine Be de 400 W, anode Rh (anode Pd en option) |
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Détecteur |
détecteur proportionnel de gaz + détecteur proportionnel scellé ; Analyseur de hauteur d'impulsion indépendant à 10 voies et 1024 canaux |
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Système de vide |
station de pompage à vide indépendante, entretien facile |
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Le degré de vide le plus élevé |
inférieur à 5 Pa |
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Système de flux de gaz |
Stabilisateur de densité de gaz hautement sophistiqué avec une stabilité de pression jusqu'à ±0,003 KPa |
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Logiciel d'analyse |
équipé d'un logiciel pour deux algorithmes d'analyse quantitative : algorithme de coefficient empirique et algorithme de coefficient α théorique. Grâce à une technologie innovante d'analyse du spectre complet, chaque ligne du spectre peut être tracée et corrigée en temps opportun, ce qui améliore considérablement la répétabilité et la stabilité de l'analyse quantitative et sert également de preuve intuitive du diagnostic de l'état de l'instrument. Des mesures complètes d’autodiagnostic sont fournies. Le protocole de communication série RS-232 intégré, le protocole TCP/IP (S/C basé sur Socket) et le protocole OPC (serveur OPC) offrent tous des moyens de partager des données avec le système DCS ou QCS. |
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Téléphone: 19376687282
Télécopieur: 86-769-83078748