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Détails sur le produit:
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| Taper: | Machine à tester | Classe de précision: | Grande précision |
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| Précision: | ---- | Application: | tests automobiles, tests de laboratoire, tests de laboratoire |
| Un accompagnement personnalisé: | OEM, ODM, OBM | Pouvoir: | --- |
| Conditions de paiement: | IP56 | Tension: | 220 V |
| Garantie: | 1 an | ordinateur industriel: | ordinateur 104 industriel |
| Éléments mesurables: | 10 éléments arbitraires de Na à U | Approvisionnement à haute tension: | 200W (50KV, 4mA) |
| Pompe à vide: | biphasé~220V, 2 litres | ||
| Mettre en évidence: | Spectromètre XRF à dispersion de longueur d'onde compact,Spectromètre de fluorescence X multi-canaux,Spectromètre XRF de laboratoire avec garantie |
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Spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde WDXRF Spectromètre de fluorescence X compact multi-canaux
Domaines d'application
Matériaux de construction (ciment, verre, céramique)
Métallurgie (acier, métaux non ferreux)
Pétrole (oligo-éléments S, Pb et autres)
Génie chimique, Géographie et Exploitation minière, Inspection de marchandises
Contrôle de la qualité
Inspection des oligo-éléments dans le corps humain
Introduction
Le spectromètre de fluorescence X compact multi-canaux LR-WDX200, avec une configuration de 10 canaux fixes et la capacité d'analyser 10 éléments simultanément, est capable de réaliser l'analyse élémentaire de dix éléments arbitraires de Na à U en fonction des exigences des utilisateurs. Cet instrument est largement utilisé dans le ciment, l'acier, la métallurgie des poudres, le charbon, le pétrole, le kaolin, le verre, les matériaux réfractaires, la protection de l'environnement et constitue donc un choix idéal pour le contrôle qualité dans les grandes et moyennes entreprises.Excellentes qualités Analyse rapide et non destructive d'échantillons en poudre et en vrac Le MCA multi-canaux à haute vitesse offre une mesure rapide de chaque pic élémentaire, bénéficiant non seulement au débogage de l'instrument et au diagnostic des pannes, mais aussi à l'amélioration de la stabilité de l'instrument. Comparé aux spectromètres séquentiels à grande puissance, le GA-WDX200 obtient une précision d'analyse adéquate même avec une puissance plus faible et un temps de mesure égal, ce qui confère à l'instrument un rapport coût-performance élevé, mais empêche également l'usure du goniomètre, prolonge la durée de vie du tube à rayons X, minimise les défaillances de l'alimentation haute tension et réduit les coûts de maintenance de l'ensemble de l'instrument.
Rayonnement X caractéristique des éléments
Les différents éléments ont des orbitales électroniques extra-nucléaires avec des énergies de liaison différentes. Par conséquent, ils émettent des photons X portant des énergies différentes les uns des autres lorsqu'ils sont excités, c'est-à-dire que chaque élément émet des rayons X à sa propre énergie spéciale, représentant la caractéristique de cet élément et étant ainsi appelé rayon X caractéristique. Le rayon X caractéristique de chaque élément a sa longueur d'onde spécifique ; ainsi, lorsque nous détectons des rayons X de longueur d'onde spécifique, nous pouvons identifier la présence de l'élément d'intérêt dans un échantillon.
Principe de la spectroscopie à dispersion de longueur d'onde
Lorsque de nombreux éléments coexistent dans un échantillon et sont irradiés par des rayons X primaires émis par le tube à rayons X, ils émettent leurs rayons X caractéristiques correspondants, qui sont généralement appelés FLUORESCENCE X. Séparer et mesurer les rayons X caractéristiques de ces éléments est appelé spectroscopie de fluorescence X. Comme les rayons X caractéristiques de différents éléments ont des longueurs d'onde spécifiques, ils peuvent être séparés en utilisant la diffraction par cristal basée sur l'équation de Bragg. Ce type de spectroscopie est appelé spectroscopie à dispersion de longueur d'onde.
Équation de Bragg : 2dSinθ=n λ
Où d est l'espacement interplanaire des plans réticulaires des cristaux, θ est l'angle d'incidence et de diffraction, λ est la longueur d'onde du rayonnement incident, n est l'ordre de diffraction et est un entier.
Avantages du logiciel
1. Système logiciel auto-développé pour analyseurs de fluorescence X, applicable au système d'exploitation Windows
2. Manipulation facile grâce à une interface d'exploitation entièrement en chinois
3. Grâce à la technologie innovante d'analyse de spectre complet, chaque ligne spectrale peut être tracée et corrigée en temps voulu, ce qui améliore considérablement la répétabilité et la stabilité de l'analyse quantitative et sert également de preuve intuitive du diagnostic de l'état de l'instrument.
4. Équipé d'un logiciel pour deux algorithmes d'analyse quantitative : algorithme de coefficient empirique
et algorithme de coefficient théorique α, parmi lesquels ce dernier réduit le nombre d'échantillons standard tout en conservant une précision adéquate.
5. Traitement des données d'analyse comprenant l'ajustement linéaire et toutes sortes de corrections de matrices
6. Calcul de la valeur caractéristique basé sur la valeur d'analyse
7. Interaction homme-machine, vous permettant de définir et de modifier les paramètres
8. Sortie en temps voulu des données d'analyse et du rapport
9. Mesures complètes d'auto-diagnostic
Spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde WDXRF Spectromètre de fluorescence X compact multi-canaux
Spécification technique
Modèle
LR-WDX200
Précision du contrôle de température de la chambre à température constante
valeur de réglage ±0.1℃
Éléments mesurables
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10 éléments arbitraires de Na à U |
Algorithmes d'analyse |
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algorithme de coefficient empirique et algorithme de coefficient théorique α |
Alimentation secteur |
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Alimentation stabilisée purifiée AC220V, 1KVA |
Alimentation haute tension |
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200W (50KV, 4mA) |
Stabilité de la tension et du courant du tube sur 12 heures |
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inférieure à 0.05% |
Pompe à vide |
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biphasé ~ 220V, 2 litres |
Ordinateur industriel |
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ordinateur industriel 104 |
Précision d'analyse |
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σn-1 (24 heures, contenu en pourcentage) ≤0.05% |
Temps de mesure d'un seul échantillon |
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(y compris le temps de changement d'échantillons et de pompage sous vide) ≤3-5 minutes |
Tube à rayons X |
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Tube à rayons X à fenêtre mince en Be de 400W, anode Rh (anode Pd en option) |
Détecteur |
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détecteur proportionnel à gaz + détecteur proportionnel scellé ; analyseur de hauteur d'impulsion indépendant à 10 canaux |
Système de vide |
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station de pompage à vide indépendante, maintenance facile |
Degré de vide le plus élevé |
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inférieur à 5 Pa |
Système de débit de gaz |
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Stabilisateur de densité de gaz sophistiqué avec une stabilité de pression allant jusqu'à ±0.003 KPa |
Logiciel d'analyse |
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équipé d'un logiciel pour deux algorithmes d'analyse quantitative : algorithme de coefficient empirique et algorithme de coefficient théorique α. Grâce à la technologie innovante d'analyse de spectre complet, chaque ligne spectrale peut être tracée et corrigée en temps voulu, ce qui améliore considérablement la répétabilité et la stabilité de l'analyse quantitative et sert également de preuve intuitive du diagnostic de l'état de l'instrument. Des mesures complètes d'auto-diagnostic sont fournies. Le protocole de communication série RS-232 intégré, le protocole TCP/IP (S/C basé sur Socket) et le protocole OPC (serveur OPC) offrent tous des moyens de partager des données avec le système DCS ou QCS. |
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Personne à contacter: Kaitlyn Wang
Téléphone: 19376687282
Télécopieur: 86-769-83078748