WDXRF Dalga Boyu Dağılımlı X-Işını Floresans Spektrometresi Laboratuvar Kompakt Çok Kanallı XRF Floresans Spektrometresi

Uygulama Alanları

Yapı malzemeleri (çimento, cam, seramik)

Metalurji (çelik, demir dışı metaller)

Petrol (iz elementler S, Pb ve benzeri)

Kimya mühendisliği Coğrafya ve Madencilik Emtia Muayenesi

Kalite Kontrol

İnsan Vücudu İz Element Muayenesi

GirişLR-WDX200 Kompakt Çok Kanallı X-ışını Floresans Spektrometresi, 10 sabit kanal yapılandırması ve 10 elementi aynı anda analiz etme yeteneği ile, kullanıcının gereksinimlerine göre Na'dan U'ya kadar herhangi on elementin elementel analizini yapabilir. Bu cihaz çimento, çelik, toz metalurji, kömür, petrol, kaolin, cam, refrakter malzemeler, çevre koruma alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır ve buna göre büyük ve orta ölçekli işletmelerde kalite kontrol için ideal bir seçimdir.

Üstün KalitelerToz ve dökme numunelerin hızlı ve tahribatsız analizi Çok kanallı yüksek hızlı MCA, her element pikinin zamanında ölçümünü sunar, bu da sadece cihaz hata ayıklama ve arıza teşhisi için değil, aynı zamanda cihazın kararlılığının artırılması için de faydalıdır. Sıralı tarama yapan büyük güçlü spektrometrelerle karşılaştırıldığında, GA-WDX200, düşük güç ve eşit ölçüm süresi benimsendiğinde bile yeterli analiz hassasiyeti elde eder, bu da cihaza yüksek maliyet performansı kazandırmakla kalmaz, aynı zamanda gonyometrenin aşınmasını önler, X-ışını tüpünün hizmet ömrünü uzatır, yüksek voltaj güç kaynağının arızalarını en aza indirir ve tüm cihazın bakım maliyetini düşürür. Element karakteristik X-ışını radyasyonu

Farklı elementlerin farklı bağlanma enerjilerine sahip ekstra-nükleer elektron orbitalleri vardır, sonuç olarak, uyarıldıklarında birbirinden farklı enerjiler taşıyan X-ışını fotonları yayarlar, yani her element kendi özel enerjisinde X-ışını yayar, bu da bu elementin karakteristiğini temsil eder ve buna karakteristik X-ışını denir. Her elementin karakteristik X-ışını kendine özgü bir dalga boyuna sahiptir; bu nedenle, belirli bir dalga boyundaki X-ışınını tespit ettiğimizde, bir numunedeki ilgili elementin varlığını belirleyebiliriz.

Dalga Boyu Dağıtımlı Spektroskopi Prensibi

Bir numunedeki birçok element bir arada bulunduğunda ve X-ışını tüpünden yayılan birincil X-ışını ile ışınlandığında, karşılık gelen karakteristik X-ışınlarını yayacaklardır, bu genel olarak X-IŞINI FLORESANSI olarak adlandırılır. Bu elementlerin karakteristik X-ışınlarını ayırmak ve ölçmek X-ışını Floresans Spektroskopisi olarak adlandırılır.

Farklı elementlerin karakteristik X-ışınları belirli dalga boylarına sahip olduğundan, Bragg Denklemi'ne dayalı Kristal Kırınımı kullanılarak ayrılabilirler. Bu tür spektroskopi Dalga Boyu Dağıtımlı Spektroskopi olarak adlandırılır. Bragg Denklemi: 2dSinθ=n λ

Burada d, kristallerin kafes düzlemlerinin interplanar mesafesi, θ, geliş ve kırınım açısı, λ, gelen radyasyonun dalga boyu, N, kırınım sırası ve bir tam sayıdır.

Yazılımın Avantajları

1. X-ışını Floresans Analizörleri için kendi geliştirdiği yazılım sistemi, Windows işletim sistemi için uygundur

2. Tamamen Çince işletim arayüzü ile kolay kullanım

3. Tam spektrum analizi yenilikçi teknolojisi ile, her spektrum çizgisi zamanında izlenebilir ve düzeltilebilir, bu da nicel analizin tekrarlanabilirliğini ve kararlılığını büyük ölçüde artırır ve ayrıca cihaz durumu teşhisinin sezgisel kanıtı olarak hizmet eder.

4. İki nicel analiz algoritması için yazılım ile donatılmıştır: ampirik katsayı algoritması ve teorik α-katsayı algoritması, ikincisi standart numune sayısını azaltır ve aynı zamanda yeterli doğruluğu korur

5. Doğrusal uyum ve her türlü matris düzeltmesini içeren analiz verisi işleme

6. Analiz değerine dayalı karakteristik değerin hesaplanması

7. Parametreleri ayarlamanıza ve değiştirmenize olanak tanıyan insan-makine etkileşimi

8. Analiz verilerinin ve raporun zamanında çıktısı

9. Tam kendi kendine teşhis önlemleri

WDXRF Dalga Boyu Dağıtımlı X-ışını Floresans Spektrometresi Laboratuvar Kompakt Çok Kanallı XRF Floresans Spektrometresi

Teknik Özellikler

Model

LR-WDX200

Sabit sıcaklık odasının sıcaklık kontrol doğruluğu

ayar değeri ±0.1℃

Ölçülebilir elementler

Na'dan U'ya kadar 10 rastgele element