Productdetails:
|
Testbereik: | 0.001-300W /(m*K) | Het meten van Temperatuurwaaier: | kamertemperatuur -- 130oC |
---|---|---|---|
Metingstijd: | 5 tot 160 seconden | Stroomvoorziening: | AC 220V |
Markeren: | Rapid Thermal Conductivity Tester,Thermal Conductivity Tester TPS |
ISO 22007 Rapid TPS Transient Plane Source Technology Thermische Geleidbaarheidstester
1. Productintroductie
Thermische geleidbaarheidstester gebaseerd op de transient plane heat source (TPS) methode. Het product is onafhankelijk ontwikkeld door Achievo Instrument, met stabiele testprestaties en sterke mogelijkheden voor gegevensverwerking en -analyse, en kan worden toegepast op de thermische geleidbaarheidsmeting van verschillende materialen.
Het product is onafhankelijk ontwikkeld door Achievo Instrument, met stabiele testprestaties, sterke mogelijkheden voor gegevensverwerking en -analyse, en kan worden toegepast op de thermische geleidbaarheidsmeting van verschillende materialen.
2. Meetobject
Materiaalsoort: metaal, keramiek, legering, erts, polymeer, composiet, papier, stof, schuim (vlakke oppervlakte-isolatie)
Thermisch materiaal, plaat), polyurethaan, fenolisch, urinealdehyde, minerale wol (glaswol, rotswol, minerale wol), cementmuur, glas
CRC sterk composietbord, cementpolystyreenbord, sandwichbeton, FRP-paneel composietbord, papieren honingraatbord, etc.
3. Technische parameters
Testbereik | 0.001-300W /(m*K) |
Meet temperatuurbereik | kamertemperatuur -- 130ºC |
Sondediameter | nr. 1 sonde 7,5 mm; nr. 2 sonde 15 mm |
Nauwkeurigheid | 0.001 |
Meet tijd | 5~160 seconden |
Voeding | AC 220V |
Machinevermogen | < 500W8. Temperatuurstijging van het monster:<15ºC |
Testmonstervermogen | nr. 1 sondevermogen 0 |
Monsterspecificaties | Nr. 1 sonde monster (≥ 7,5*7,5*3,75 mm) Nr. 2 sonde monster (≥15*15*7,5 mm) |
4. Instrumentkenmerken
Breed testbereik, stabiele testprestaties, in de binnenlandse vergelijkbare instrumenten, bevindt zich op het leidende niveau;
Directe meting, testtijd ongeveer 5-160s kan worden ingesteld, kan snel en nauwkeurig de thermische geleidbaarheid meten, bespaart veel tijd;
Het wordt niet beïnvloed door contactthermische weerstand zoals bij de statische methode;
Er is geen speciale monstervoorbereiding vereist en er zijn geen speciale eisen voor monstervormen. Alles wat nodig is voor klonterige vaste stoffen is een relatief glad monsteroppervlak met een totale lengte en breedte van minstens tweemaal de diameter van de sonde;
Niet-destructief testen van monsters betekent dat monsters opnieuw kunnen worden gebruikt;
De sondes zijn ontworpen met een dubbele helixstructuur en bevatten een exclusief wiskundig model dat een kernalgoritme gebruikt om de gegevens te analyseren en te berekenen die op de sondes zijn verzameld;
Monstertafel met ingenieuze structurele vormgeving, gemakkelijk te bedienen, geschikt voor het plaatsen van monsters van verschillende diktes, eenvoudig en mooi;
Gegevensverzameling op de sonde met behulp van geïmporteerde gegevensverzamelingchip, de hoge resolutie van de chip, kan de testresultaten nauwkeuriger en betrouwbaarder maken;
Het besturingssysteem van de host maakt gebruik van DE ARM-microprocessor, die sneller is dan de traditionele microprocessor, de analyse- en verwerkingsmogelijkheden van het systeem verbetert en de berekeningsresultaten nauwkeuriger maakt;
Dit instrument kan worden gebruikt voor de meting van thermische parameters van klonterige vaste stoffen, pasta-achtige vaste stoffen, korrelige vaste stoffen, gels, vloeistoffen, poeders, coatings, films, isolatiematerialen enzovoort;
Intelligente mens-machine-interface, kleuren LCD-scherm, touchscreen-bediening, eenvoudige en gemakkelijke bediening;
Krachtige mogelijkheden voor gegevensverwerking. Hoogst geautomatiseerd gecomputeriseerd gegevenscommunicatie- en rapportverwerkingssysteem.
Contactpersoon: Kaitlyn Wang
Tel.: 19376687282
Fax: 86-769-83078748