logo
منزل المنتجاتمقياس طيف الانبعاث الذري بالحث (ICP)

مقياس مستوى الدقة العالية لمتحلل طيف الأشعة السينية مكتب اختبار طيف XRF DD كاشف للخام المعدني ICP ICP ICP Em

شهادة
الصين DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD الشهادات
الصين DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD الشهادات
ابن دردش الآن

مقياس مستوى الدقة العالية لمتحلل طيف الأشعة السينية مكتب اختبار طيف XRF DD كاشف للخام المعدني ICP ICP ICP Em

High Precision Bench X-Ray Spectrometer Analyzer Tester Desk XRF Spectrometer DD Detector for Mineral Ore ICP ICP ICP Em
High Precision Bench X-Ray Spectrometer Analyzer Tester Desk XRF Spectrometer DD Detector for Mineral Ore ICP ICP ICP Em High Precision Bench X-Ray Spectrometer Analyzer Tester Desk XRF Spectrometer DD Detector for Mineral Ore ICP ICP ICP Em

صورة كبيرة :  مقياس مستوى الدقة العالية لمتحلل طيف الأشعة السينية مكتب اختبار طيف XRF DD كاشف للخام المعدني ICP ICP ICP Em

تفاصيل المنتج:
مكان المنشأ: قوانغدونغ، الصين
اسم العلامة التجارية: LONROY
رقم الموديل: LR-EDX9800
شروط الدفع والشحن:
الحد الأدنى لكمية: 1

مقياس مستوى الدقة العالية لمتحلل طيف الأشعة السينية مكتب اختبار طيف XRF DD كاشف للخام المعدني ICP ICP ICP Em

وصف
دعم مخصص: تصنيع المعدات الأصلية، أوديإم، OBM قوة: الكترونية
ضمان: 1 سنة اسم المنتج: مطياف XRF
نموذج: LR-EDX9800
إبراز:

تحليل طيف XRF عالي الدقة

,

مقياس الأشعة السينية على مقاعد المقاعد

,

جهاز كشف DD لمقياس الطيف XRF

جهاز قياس مطياف الأشعة السينية عالي الدقة جهاز اختبار مكتب مطياف XRF كاشف DD لخام المعادن ICP ICP ICP Em

جهاز قياس مطياف الأشعة السينية الفوقي عالي الدقة جهاز اختبار مطياف XRF لسطح المكتب مع كاشف SDD للخام المعدني
الأفضل ببساطة • كاشف AmpTek -SDD الأمريكي، دقة عالية ومعدل تعداد مرتفع • نطاق تحليل العناصر يصل إلى 42 عنصرًا • أعلى أداء وأدنى مستويات الكشف • تخصيص حلول الاختبار الخاصة بك • الاستكشاف المتقدم وتحليل التربة • تسجيل الطين • التطبيقات المتخصصة في النفط/الغاز • نمذجة/رسم خرائط رواسب الخام • تحليل محسّن للعناصر الخفيفة • البوكسيت وعناصر الجزاء في الفحم وخام الحديد • المعادن الصناعية بما في ذلك الحجر الجيري لإنتاج الأسمنت • حامل/حبيبات عينة اختيارية لتقليل مشكلات عدم تجانس العينة
 
LR-EDX 9800 مطياف الفلورسنت المشتت للطاقة - خبير تحليل المعادن LR-EDX 9800 يوفر دقة استثنائية في جميع مستويات التركيز. كما أنه يوفر أيضًا تحولًا سريعًا (عادةً من 2 إلى 3 دقائق). إن توفير الدقة والسرعة غير المسبوقتين في هذا المجال يجعل LR-EDX 9800 مثاليًا للتطبيقات. مثل تحليل النوى - على سبيل المثال، الكشف عن طبقات الغاز الصخري - مما يتيح تغييرات سريعة في الاتجاه تزيد من إنتاجية الحفر. يعتبر سعر شراء المحلل LR-EDX 9800 تنافسيًا للغاية مقارنة بالأدوات الأخرى في فئته. وفي كثير من الحالات، يكون أيضًا نصف سعر الأدوات المختبرية الأكبر حجمًا. علاوة على ذلك، مع التحسينات المباشرة في إنتاجية التعدين أو الاستكشاف بسبب التوافر السريع للمعلومات الدقيقة، يوفر LR-EDX 9800 عائدًا متميزًا على الاستثمار
 
الإنتاج ومعالجة المعادن أصبح تحليل العينات المعملية سريعًا وبسيطًا: اختبر العينات الخاصة بك في الموقع مع القليل من تحضير العينة أو بدونها. تحقيق الدقة اللازمة لتوفير بيانات يمكن الدفاع عنها للتحكم في العمليات وضمان الجودة والقرارات التشغيلية الأخرى. • التحكم في الدرجة • تحديد حدود الخام والنفايات • تجارة الخام • قياس التركيزات المعادن الصناعية يعد محلل XRF LR-EDX 9800 أداة ناشئة مفضلة للتنقيب في المحاجر وتقييم تكوين المواد الخام مثل الفوسفات والبوتاس والجبس والحجر الجيري للاستخدام الصناعي. • مثالية لتحديد العناصر الجزائية في الحجر الجيري وخام الحديد والبوكسيت. • مزج المواد الخام وفرزها. • تحديد الدرجة والطبقة الفرعية والنفايات على الفور، ومنع نقل الخام إلى كومة النفايات. تعد تقنية EDXRF طريقة ملائمة لفحص جميع أنواع المواد للتعرف السريع على العناصر وتقدير كميتها بدءًا من الصوديوم (Na) إلى اليورانيوم (U). يمكن أن تكون أدوات EDXRF إما محمولة أو محمولة حسب تفضيل المستخدم، مما يجعلها الأداة المثالية للتحليل الميداني، وتوفير ردود فعل فورية للمستخدم دون الحاجة إلى رحلة طويلة إلى المختبر. انخفاض تكلفة الملكية والتحليل الأولي السريع لأي نوع عينة يجعل من EDXRF أداة تحليل أمامية جذابة. تحليل مضان الأشعة السينية (XRF) (أو القياس الطيفي): طريقة تحليلية مقارنة مفيدة تعتمد على ظاهرة الانبعاث شبه اللحظي (الفلورة) لكميات الطاقة المميزة بواسطة ذرات المادة المشععة بواسطة X خارجي، أو إشعاع جاما من الطاقة المناسبة (الطول الموجي). تستخدم النظائر المشعة أو أنابيب الأشعة السينية كمصادر للإشعاع الخارجي لإثارة العينة
 جهاز قياس مطياف الأشعة السينية الفوقي عالي الدقة جهاز اختبار مطياف XRF لسطح المكتب مع كاشف SDD للخام المعدني
مواصفة
مواصفة
حجم المطياف: 560 مم * 380 مم * 410 مم
حجم غرفة العينة: 460 مم * 310 مم * 95 مم
حجم غرفة عينة الفراغ: Φ150mm × 75mm
الوزن: 45 كجم
نطاق العنصر: Na11-U92
نطاق محتوى التحليل: 1ppm-99.99%
الكاشف: AmpTek عالي الدقة SDD
محلل DPP: محلل DPP 4096 قناة
مصدر الإثارة: أنبوب الأشعة السينية 50 واط
وحدة الجهد العالي: 0-50 كيلو فولت
مصدر الطاقة: 220ACV 50/60 هرتز
البيئة: -10 درجة مئوية إلى 35 درجة مئوية
برنامج اختبار قوي وسهل الاستخدام 

السرعة: يوفر محلل XRF الخاص بنا إمكانات تحليل في الوقت الفعلي لتمكين اتخاذ قرارات سريعة، بما في ذلك ما إذا كان سيتم الحفر أم لا، واعتبارات نقل المعدات، ومكان التركيز على الشبكة، ومتى يتم أخذ العينة المناسبة للتحليل المختبري. إعداد التقارير في الوقت الفعلي: توفر التحليلات الميدانية تحديدًا أسرع لأهداف الحفر لتقديم التقارير التشغيلية والمالية في الوقت المناسب إلى الإدارة و/أو المستثمرين. زيادة كثافة العينة: يتيح إجراء المزيد من الاختبارات في الميدان دقة أفضل للشبكة والقدرة على إرسال عينات مؤهلة مسبقًا إلى مختبر خارج الموقع. ومن خلال الإحصائيات المحسنة، ينتج هذا التحليل عالي الكثافة صورة أكثر شمولاً للهدف من الاستخدام الحصري للأكياس التقليدية وطريقة المختبر.
 
مقياس مستوى الدقة العالية لمتحلل طيف الأشعة السينية مكتب اختبار طيف XRF DD كاشف للخام المعدني ICP ICP ICP Emمقياس مستوى الدقة العالية لمتحلل طيف الأشعة السينية مكتب اختبار طيف XRF DD كاشف للخام المعدني ICP ICP ICP Em

تفاصيل الاتصال
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

اتصل شخص: Kaitlyn Wang

الهاتف :: 19376687282

الفاكس: 86-769-83078748

إرسال استفسارك مباشرة لنا (0 / 3000)

منتجات أخرى