logo
Ana sayfa ÜrünlerICP Emisyon Spektrometresi

Yüksek hassasiyetli bant X-ışını spektrometre analizatörü test masası XRF spektrometre DD maden cevheri dedektörü ICP ICP Em

Sertifika
ÇİN DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD Sertifikalar
ÇİN DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD Sertifikalar
Ben sohbet şimdi

Yüksek hassasiyetli bant X-ışını spektrometre analizatörü test masası XRF spektrometre DD maden cevheri dedektörü ICP ICP Em

High Precision Bench X-Ray Spectrometer Analyzer Tester Desk XRF Spectrometer DD Detector for Mineral Ore ICP ICP ICP Em
High Precision Bench X-Ray Spectrometer Analyzer Tester Desk XRF Spectrometer DD Detector for Mineral Ore ICP ICP ICP Em High Precision Bench X-Ray Spectrometer Analyzer Tester Desk XRF Spectrometer DD Detector for Mineral Ore ICP ICP ICP Em

Büyük resim :  Yüksek hassasiyetli bant X-ışını spektrometre analizatörü test masası XRF spektrometre DD maden cevheri dedektörü ICP ICP Em

Ürün ayrıntıları:
Menşe yeri: Guangdong, Çin
Marka adı: LONROY
Model numarası: LR-EDX9800
Ödeme & teslimat koşulları:
Min sipariş miktarı: 1

Yüksek hassasiyetli bant X-ışını spektrometre analizatörü test masası XRF spektrometre DD maden cevheri dedektörü ICP ICP Em

Açıklama
Özelleştirilmiş destek: OEM, ODM, OBM Güç: Elektronik
Garanti: 1 yıl Ürün Adı: XRF Spektrometresi
modeli: LR-EDX9800
Vurgulamak:

Yüksek Hassasiyetli XRF Spektrometre Analizörü

,

Tezgah X-Ray Spektrometresi Mineral Test Cihazı

,

Masa XRF Spektrometresi DD Dedektörü

Yüksek Hassasiyetli Tezgah X-Ray Spektrometre Analizörü Test Cihazı Masası XRF Spektrometre DD Dedektörü Mineral Cevheri ICP ICP ICP Em

Yüksek hassasiyetli Masaüstü X-Ray Spektrometre analiz cihazı test cihazı Mineral cevheri için SDD dedektörlü Masaüstü XRF Spektrometre
Tek kelimeyle En İyisi • Amerikan AmpTek -SDD dedektörü, yüksek çözünürlük ve yüksek sayım oranı • 42 elemente kadar element analizi aralığı • En yüksek performans ve en düşük algılama seviyeleri • Test çözümlerinizi kişiselleştirin • Gelişmiş arama ve toprak analizi • Çamur kaydı • Petrol/gazda özel uygulamalar • Cevher yatağı modelleme/haritalama • Gelişmiş hafif element analizi • Kömür ve Fe cevherinde boksit ve ceza elementleri • Çimento üretimi için kireçtaşı dahil endüstriyel mineraller • Numune heterojenlik sorunlarını azaltmak için isteğe bağlı numune tutucu/pelet
 
LR-EDX 9800 Enerji Dağınık Floresans Spektrometresi-Mineral Analiz Uzmanı LR-EDX 9800, tüm konsantrasyon seviyelerinde olağanüstü doğruluk sağlar. Aynı zamanda hızlı (genellikle 2 ila 3 dakika) geri dönüş sağlar. Sahaya benzeri görülmemiş hassasiyet ve hız getirmesi, LR-EDX 9800'ü uygulamalar için ideal kılar. Örneğin kaya gazı sınır katmanlarını tespit etmek için karotların analiz edilmesi, sondaj verimliliğini en üst düzeye çıkaracak şekilde hızlı yön değişikliklerini mümkün kılmak gibi. LR-EDX 9800 analizörünün satın alma fiyatı, sınıfındaki diğer cihazlarla oldukça rekabetçidir. Çoğu durumda, daha büyük laboratuvar cihazlarının fiyatının yarısı kadardır. Ayrıca, doğru bilgilerin hızlı bir şekilde elde edilebilmesi sayesinde madencilik veya keşif üretkenliğinde doğrudan iyileştirmeler sağlayan LR-EDX 9800, olağanüstü bir Yatırım getirisi sağlar.
 
Üretim ve Cevher Hazırlama Hızlı, laboratuvar düzeyinde numune analizi basitleştirildi: numunelerinizi çok az veya hiç numune hazırlığı yapmadan sahada test edin. Süreç kontrolü, kalite güvencesi ve diğer operasyonel kararlar için savunulabilir veriler sağlamak üzere gereken doğruluğu elde edin. • Tenör kontrolü • Cevher ve atık sınırlarının belirlenmesi • Cevher ticareti • Konsantre ölçümü Endüstriyel Mineraller LR-EDX 9800 XRF analizörü, endüstriyel kullanım için fosfat, potas, alçı ve kireçtaşı gibi ham maddelerin bileşiminin taş ocağında araştırılması ve değerlendirilmesi için yeni ortaya çıkan bir tercih edilen araçtır. • Kireçtaşı, Fe cevheri ve boksitteki ceza elemanlarının belirlenmesi için idealdir • Hammaddelerin harmanlanması ve ayrılması • Dereceyi, alt dereceyi ve atığı anında işaretleyin ve cevherin atık yığınına alınmasını önleyin EDXRF Giriş EDXRF enstrümantasyonu, farklı elementlerin karakteristik x-ışınlarını tam bir floresans enerji spektrumuna ayırır ve daha sonra kalitatif veya kantitatif analiz için işlenir. EDXRF teknolojisi, Sodyumdan (Na) Uranyuma (U) kadar elementlerin hızlı tanımlanması ve miktarının belirlenmesi için her türlü malzemeyi taramanın uygun bir yoludur. EDXRF cihazları, kullanıcı tercihine bağlı olarak elde taşınır veya taşınabilir olabilir, bu da onları saha içi analiz için mükemmel bir araç haline getirir ve kullanıcıya laboratuvara uzun yolculuk yapmadan anında geri bildirim sağlar. Düşük sahip olma maliyeti ve her türlü numune türünün hızlı elementel analizi, EDXRF'yi çekici bir ön uç analiz aracı haline getirir. X-Işını Floresansı (XRF) Analizi (veya Spektrometri): enstrümantal, karşılaştırmalı analitik bir yöntem Harici X tarafından ışınlanan malzeme atomları veya uygun enerjiye sahip gama radyasyonu (dalga boyu) tarafından karakteristik enerji kuantumunun neredeyse anlık emisyonu (floresan) fenomenine dayanan Radyoizotoplar veya X-ışını tüpleri, numuneyi uyarmak için harici radyasyon kaynakları olarak kullanılır
 Yüksek hassasiyetli Masaüstü X-Ray Spektrometre analiz cihazı test cihazı Mineral cevheri için SDD dedektörlü Masaüstü XRF Spektrometre
Şartname
Şartname
Spektrometrenin Boyutu: 560mm*380mm*410mm
Numune odasının boyutu: 460mm*310mm*95mm
Vakum numune odasının boyutu: Φ150mm × 75mm
Ağırlık: 45Kg
Eleman Aralığı: Na11-U92
Analiz içerik aralığı: 1 ppm - %99,99
Dedektör:AmpTek yüksek çözünürlüklü SDD
DPP Analizörü: 4096 Kanal DPP analizörü
Uyarma Kaynağı: 50W X-ışını tüpü
YG ünitesi:0-50kV
Güç kaynağı: 220ACV 50/60HZ
Ortam:-10 °C ila 35 °C
Güçlü ve kullanıcı dostu test yazılımı 

Hız: XRF analizörümüz, sondaj yapıp yapmama, ekipmanın yerini değiştirme hususları, ızgarada nereye odaklanılacağı ve laboratuvar analizi için uygun bir numunenin ne zaman alınacağı dahil olmak üzere hızlı kararlar alınmasına olanak tanıyan gerçek zamanlı analiz yetenekleri sunar. Gerçek Zamanlı Raporlama: Saha analizleri, yönetime ve/veya yatırımcılara zamanında operasyonel ve finansal raporlama yapılması için sondaj hedeflerinin daha hızlı tanımlanmasını sağlar. Artan Numune Yoğunluğu: Sahada daha fazla test yapılması, daha hassas grid çözünürlüğüne ve ön yeterliliğe sahip numunelerin tesis dışındaki bir laboratuvara gönderilebilmesine olanak tanır. Geliştirilmiş istatistiklerle bu yüksek yoğunluklu analiz, geleneksel torba ve laboratuvar yönteminin özel kullanımına kıyasla hedefin daha kapsamlı bir resmini üretir.
 
Yüksek hassasiyetli bant X-ışını spektrometre analizatörü test masası XRF spektrometre DD maden cevheri dedektörü ICP ICP EmYüksek hassasiyetli bant X-ışını spektrometre analizatörü test masası XRF spektrometre DD maden cevheri dedektörü ICP ICP Em

İletişim bilgileri
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

İlgili kişi: Kaitlyn Wang

Tel: 19376687282

Faks: 86-769-83078748

Sorgunuzu doğrudan bize gönderin (0 / 3000)