Kombine çok fonksiyonel X-ışını difraktometre AL-Y3500, Çin'deki yüksek performanslı ve yüksek hassasiyetli yerli X-ışını difraktometredir.Ulusal Kalkınma ve Reform Komisyonu tarafından rekabetçi teklif yoluyla seçilen bir proje.. Malzeme yapısı analizinin çeşitli alanlarında uygulanır. Analiz edilebilen malzemeler şunlardır: metal malzemeler, inorganik malzemeler, kompozit malzemeler, organik malzemeler,Nanomaterialler, süper iletken malzemeler; ve malzeme durumları şunları içerir: toz örnekleri, blok örnekleri, ince film örnekleri, mikro alan ve mikro miktar örnekleri.

Kil mineralleri, çimento inşaat malzemeleri, çevresel toz, kimyasal ürünler, ilaçlar, asbest, kayalar ve mineraller, polimerler vb. alanlarında yaygın olarak uygulanmaktadır.

Özellikleri:

1.Donanım sisteminin ve yazılım sisteminin mükemmel entegrasyonu, çeşitli uygulama alanlarındaki akademisyenlerin ve araştırmacıların ihtiyaçlarını karşılar.

2.Daha doğru ölçüm sonuçları sağlayan yüksek hassasiyetli difraksiyon açısı ölçüm sistemi.

3.Yüksek istikrarlı X-ışını jeneratör kontrol sistemi, daha istikrarlı tekrar ölçüm doğruluğunu sağlar.

4.Farklı işlevsel aksesuarlar, farklı test amaçlarının ihtiyaçlarını karşılar.

5.Programlanmış çalışma, entegre yapısal tasarım, kullanımı kolay ve daha çekici bir enstrüman görünümü.

6.Bilinmeyen numunelerde bir veya daha fazla kristal fazın belirlenmesi.

7.Karışık örnekte bilinen fazların nicel analizi.

8.Kristal yapı analizi (Rietveld yapı analizi).

9.Kristalin yapısı geleneksel olmayan koşullarda (yüksek ve düşük sıcaklıklarda) değişir.

10.Filmin kristal fazını, çok katmanlı filmlerin kalınlığını, yüzey kabalığını ve yük yoğunluğunu içeren ince film örneklerinin analizi.

11.Mikro alan örneklerinin analizi.

12.Metal malzeme doku ve stres analizi.

Teknik parametreler