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Détails sur le produit:
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| Rated Power: | 2kW | Voltage: | 10~50kV |
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| Stability: | ≤0.01% | Warranty: | 1 Year |
| Certification: | CE, ISO | Model: | AL-Y3500 |
| Mettre en évidence: | Diffractomètre à rayons X pour l'analyse de nanomatériaux,XRD Analyzer XRF multifonctionnel,Analyseur XRF avec capacité XRD |
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Le diffractomètre à rayons X multifonctionnel combiné AL-Y3500 est un diffractomètre à rayons X domestique de haute performance et de haute précision en Chine, qui est un projet sélectionné par appel d'offres par la Commission nationale du développement et de la réforme. Il est appliqué dans divers domaines de l’analyse de la structure des matériaux. Les matériaux pouvant être analysés comprennent : les matériaux métalliques, les matériaux inorganiques, les matériaux composites, les matériaux organiques, les nanomatériaux, les matériaux supraconducteurs ; et les états des matériaux comprennent : des échantillons de poudre, des échantillons de blocs, des échantillons de couches minces, des échantillons de micro-zones et de micro-quantités.
Il est largement appliqué dans les domaines des minéraux argileux, des matériaux de construction en ciment, des poussières environnementales, des produits chimiques, des médicaments, de l'amiante, des roches et minéraux, des polymères, etc.
Caractéristiques:
1.L'intégration parfaite du système matériel et du système logiciel répond aux besoins des universitaires et des chercheurs dans divers domaines d'application.
2.Système de mesure de l'angle de diffraction de haute précision, fournissant des résultats de mesure plus précis.
3.Le système de contrôle du générateur de rayons X hautement stable garantit une précision de mesure répétée plus stable.
4.Divers accessoires fonctionnels répondent aux besoins de différents objectifs de test.
5.Fonctionnement programmé, conception structurelle intégrée, facile à utiliser et avec une apparence d'instrument plus attrayante.
6.Identification d'une ou plusieurs phases cristallines dans des échantillons inconnus.
7.Analyse quantitative des phases connues dans l'échantillon mixte.
8.Analyse de la structure cristalline (analyse de la structure Rietveld).
9.La structure cristalline change dans des conditions non conventionnelles (à hautes et basses températures).
10.Analyse d'échantillons de films minces, y compris la phase cristalline du film, l'épaisseur des films multicouches, la rugosité de surface et la densité de charge.
11.Analyse d'échantillons de micro-zones.
12.Texture des matériaux métalliques et analyse des contraintes.
Paramètre technique
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Assistance personnalisée |
OEM, ODM |
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Lieu d'origine |
Guangdong, Chine |
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Pouvoir |
2KW |
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Garantie |
1 an |
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Nom de la marque |
Lonroy |
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Numéro de modèle |
AL-Y3500 |
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Puissance nominale |
2 kW |
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Courant électrique |
5 ~ 40 mA |
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Tension |
10~50kV |
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Stabilité |
≤0,01% |
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Tube à rayons X |
Tube à rayons X en métal-céramique |
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Certificat |
CE, OIN |
Personne à contacter: Ms. Kaitlyn Wang
Téléphone: 19376687282
Télécopieur: 86-769-83078748