Spektrometr pełnego widma ICP OES 20A Spektrometr emisji plazmy ICP

Spektrometr pełnozakresowy ICP-OES Spektrometr emisji plazmy

Spektrometr emisyjny z plazmą sprzężoną indukcyjnie o pełnym spektrum LR-700 jest doskonałym spektrometrem ICP o pełnym spektrum z bezpośrednim odczytem, ​​który służy do oznaczania zawartości pierwiastków głównych, śladowych i śladowych w różnych substancjach, a także może być stosowany do jakościowej, półilościowej i precyzyjnej analizy oznaczania pierwiastków w próbkach, z granicą wykrywalności do jednej części na miliard.

 lCechy produktu

Dokładna analiza: z wyższą rozdzielczością; Detektor megapikselowy CCD/CMOS z zabezpieczeniem przed przepełnieniem, wysoka reakcja na promieniowanie UV, brak folii fluorescencyjnej UV, długa żywotność; Dostępnych jest wiele technik korekcji tła;

Stabilny i niezawodny: w pełni nieruchomy układ optyczny bez ruchomych części; Zintegrowany system sterowania z argonem o stabilnym przepływie masowym; Wizualna blokada bezpieczeństwa i monitorowanie operacyjne.

Łatwa obsługa: wyjmowany tubus latarki, wbudowana automatyczna kolimacja tubusu latarki, funkcje optymalizacji źródła światła.

Ekonomiczne zastosowanie: Kompaktowa i wydajna konstrukcja komory świetlnej oraz inne środki zmniejszające zużycie argonu; Bezpłatne porady techniczne po okresie gwarancji i niedrogi serwis na miejscu.

Ulepszanie oprogramowania: hierarchiczny interfejs oprogramowania, intuicyjna i wygodna obsługa, może zaspokoić potrzeby klientów na różnych poziomach; Bogata biblioteka metod i wersjonowany tryb zarządzania bardziej sprzyjają dziedziczeniu, uczeniu się i utrzymywaniu metod.

 lPrzegląd produktu                                  

1. Bezpieczny i niezawodny półprzewodnikowy zasilacz o częstotliwości radiowej

Zasilacz RF zastosowany w instrumencie ma niewielkie rozmiary, wysoką wydajność wyjściową, stabilną moc wyjściową i różne funkcje zabezpieczające, takie jak woda, gaz i przeciążenie, co znacznie poprawia bezpieczeństwo instrumentu.

 2. urządzenie wtryskowe z pompą perystaltyczną

Pompa perystaltyczna dla dwunastu wirników, czterokanałowa konstrukcja automatyczna, prędkość pompy perystaltycznej można regulować w zależności od ustawień przepływu zapotrzebowania; Może spełnić specjalne wymagania aplikacji dotyczące rozcieńczania próbek online klientów i dodawania wewnętrznych etykiet online.

 3.precyzyjny system spektroskopii

Wykorzystując okrągły system optyczny Roland, precyzyjną konstrukcję optyczną zapewniającą maksymalny strumień świetlny i rozdzielczość widmową;

Brak ruchomych elementów optycznych, co zapewnia dobrą powtarzalność i długoterminową stabilność; Urządzenie o bardzo niskim świetle rozproszonym

Dzięki konstrukcji optycznej zakłócenia światła tła są znacznie zmniejszone, a granica wykrywalności instrumentu jest jeszcze bardziej zmniejszona.

 4. Inteligentna funkcja monitorowania płomienia

Przyrząd jest wyposażony w czujnik światłowodowy o wysokiej czułości, który może monitorować płomień w czasie rzeczywistym w stanie roboczym przyrządu

Warunki pracy, w przypadku nienormalnych warunków przyrząd może zostać automatycznie wyłączony.

 5. Nowe algorytmy oprogramowania

Można go używać do analizy jakościowej nieznanych próbek, bez konieczności stosowania standardowych produktów, a także bezpośrednio analizować nieznane próbki

Rodzaje pierwiastków są analizowane dokładnie i ilościowo.

 6.rozdzielny układ wtryskowy

Dzielona konstrukcja komory mgłowej i rury palnika zmniejsza wpływ wydajności atomizacji powodowany zmianą temperatury w komorze spalania.

Bardziej intuicyjna obserwacja stanu wtrysku w czasie rzeczywistym.

 7.wysoce precyzyjny system kontroli przepływu powietrza

Gaz plazmowy, gaz pomocniczy i gaz nośny w pracy instrumentu są kontrolowane przez precyzyjny zawór iglicowy, który ma płynną regulację natężenia przepływu i wysoką dokładność wyjściowego przepływu powietrza, aby zapewnić dokładność danych testowych

 8. Wysoki stopień automatyzacji instrumentu

Z wyjątkiem wyłącznika zasilania, wszystkie operacje są wykonywane przez oprogramowanie. Inteligentne oprogramowanie może zapewniać w czasie rzeczywistym informacje zwrotne i wskazówki dotyczące różnych operacji.

 9. Badania naukowe matrycy liniowej CMOS

Oryginalny japoński detektor CMOS, pełne pokrycie zakresu długości fal 165-900 nm, wykrywanie wszystkich elementów w tym samym czasie.

 10. Prędkość testowa

20 s po osiągnięciu prędkości testowej można ustawić odpowiedni czas całkowania dla pomiaru; Całkowe wartości intensywności wszystkich analitycznych linii widmowych można odczytać podczas jednej ekspozycji. Dokładny pomiar prawie 70 pierwiastków w pojedynczej próbce w ciągu jednej minuty.

 11. Wygodna funkcja kalibracji długości fali

Inteligentny algorytm automatycznej kalibracji długości fali, oprogramowanie automatycznie kalibruje długość fali po uruchomieniu TOszczędność czasu i kosztów kalibracji długości fali.

 12. technologia automatycznego zapłonu i dopasowania

Oprogramowanie umożliwia w pełni automatyczny zapłon jednym kliknięciem, a wszystkie ustawienia parametrów zmieniają się automatycznie. Dzięki zaawansowanej technologii automatycznego dopasowywania wskaźnik powodzenia zapłonu jest wysoki, a obsługa prosta.

 13. potężna funkcja analizy oprogramowania

Przewodnik krok po kroku, łatwa do ustalenia metoda analizy, łatwa do wykonania pomiar, łatwa do nauczenia się i zrozumienia. Inteligentny algorytm kalibracji optycznej może automatycznie skalibrować dwuwymiarową pozycję widmową i można go zmierzyć bez powtarzania kalibracji piku widmowego, zapewniając dokładny pomiar, oszczędzając jednocześnie dużo rozwiązania i czasu.

Zarządzanie zestawami wyników dla wielu próbek, łatwe wyszukiwanie wyników i przetwarzanie offline, wygodna dla użytkowników klasyfikacja kolekcji próbek Technologia dopasowania wieloszczytowego w przetwarzaniu złożonej matrycy, sygnał analityczny można wyodrębnić z widma pomiarowego, wyeliminować wpływ elementów zakłócających, zwiększyć dokładność pomiaru.

 14. Potrafi automatycznie skalibrować pozycję widma

Inteligentny algorytm kalibracji optycznej może automatycznie skalibrować dwuwymiarową pozycję widmową i można go zmierzyć bez powtarzania kalibracji piku widmowego, zapewniając dokładny pomiar, oszczędzając jednocześnie dużo rozwiązania i czasu.

 15. Automatyczna korekta położenia charakterystycznej linii widmowej

Bezpośredni odczyt pełnego widma Oprogramowanie analityczne GA-700 samodzielnie opracowało algorytm automatycznej korekcji wartości szczytowych. Metoda oparta na mapowaniu trzech współrzędnych umożliwia szybką kalibrację dwuwymiarowej widmowej długości fali bez konieczności powtarzania operacji korekcji wartości szczytowych.

 16. Algorytm analizy jakościowej

Oprogramowanie analityczne GA-700 do bezpośredniego odczytu pełnego spektrum wykorzystuje opatentowaną technologię analizy jakościowej. W tym sposobie igłę przykłada się do złożonej matrycy, a następnie przesiewa się kolejno główny element treści i wtórny główny element treści.

Jednocześnie stosuje się wielowymiarowy algorytm dopasowania Gaussa, aby znacznie ograniczyć błędną ocenę linii widmowych nieokreślonych elementów. Oprogramowanie do wyświetlania wyników analizy wykorzystuje prawdopodobieństwo, co znacznie poprawia dokładność analizy jakościowej.

lJak to działa:

Spektrometr emisyjny z plazmą indukcyjnie sprzężoną, znany również jako spektrometr ICP (plazma sprzężona indukcyjnie), wykorzystuje indukcyjnie sprzężoną plazmę o wysokiej częstotliwości jako źródło światła wzbudzającego, wykorzystuje charakterystyczne widmo emisji atomowej lub jonowej każdego pierwiastka w celu określenia składu substancji oraz przeprowadza analizę jakościową i ilościową pierwiastka. Znany również jako spektrometr emisji atomowej ICP. Proces analizy atomowej spektroskopii emisyjnej dzieli się głównie na trzy etapy, a mianowicie wzbudzenie, spektroskopię i detekcję.

Pierwszy etap: Wzbudzające źródło światła odparowuje próbkę, dysocjuje lub rozkłada się do stanu atomowego, a atomy można również dalej zjonizować do stanu jonowego. Atomy i jony w źródle światła wzbudziły światło;

Drugi krok: użyj rozdzielacza, aby rozproszyć światło emitowane przez źródło światła na widmo uporządkowane według długości fali;

Etap trzeci: Zastosowanie urządzeń fotoelektrycznych do detekcji widma na podstawie zmierzonej długości fali widmowej próbki do analizy jakościowej lub według natężenia emitowanego światła do analizy ilościowej.

lParametr produktu

Dane techniczne urządzenia do pobierania próbek

Cewka wyjściowa: posrebrzana średnica wewnętrzna cewki wysokiej częstotliwości 25 mm, 3 zwoje

Trzy koncentryczne rurki palnika kwarcowego: średnica zewnętrzna 20 mm, różne branże mają do wyboru różne modele

Wydajny importowany atomizer: atomizer koncentryczny, średnica zewnętrzna 6 mm, wiele modeli opcjonalna pompa perystaltyczna; Rolka z czterema kanałami 12, prędkość można regulować w zależności od ustawień przepływu zapotrzebowania

Całkowite zużycie argonu; Całkowite zużycie argonu jest mniejsze niż 14 l/min

Dane techniczne rozdzielacza optycznego

Kratka: Kratka okrągła Roland, zakres długości fal 3600l/mm L165nm-900nm, ogniskowa: 400mm

Rozdzielczość: <19:00-200 nm

Światło rozproszone: Równoważne stężenie tła 10 000 ppMCA przy As189,042nm wynosi <2 ppm

Jasne pomieszczenie: stała temperatura 34 gleby 0,1 ℃

 Indeks techniczny instrumentu

Podwójny kierunek pomiaru: obserwacja osiowa/promieniowa

Powtarzalność: (tzn. stabilność krótkotrwała) RSD<0,5% Stabilność: RSD<1%@2 godziny

Szybkość testu: Czas odczytu pojedynczego CMOS wynosi tylko 2 ms, a granicę wykrywalności (μg/L) wszystkich elementów można osiągnąć w ciągu 20 s: 1ppb-10ppb dla większości elementów

Wiele elementów analitycznych: można poddać analizie ilościowej ponad 70 elementów

 Indeks techniczny urządzenia testowego

Typ detektora: oryginalny japoński detektor CMOS

Wydajność kwantowa: bez powłoki, do 35% lub więcej w zakresie UV 200 nm

 Parametr źródła RF

Moc wejściowa: AC 220 V

Prąd wejściowy: 20A

Moc wyjściowa: większa niż 70%

Stabilność mocy wyjściowej: <0,05%

Częstotliwość zasilania: 27,12 MHz

Stabilność częstotliwości: <0,05%

lPole aplikacji

Stosowany jest głównie spektrometr emisyjny z plazmą sprzężoną indukcyjnie i pełnym spektrum LR-700

Analiza materiału

Analiza zawartości pierwiastków w stopach; Analiza mikroelementów metali nieżelaznych i ich stopów o wysokiej czystości.

Materiały metalowe, materiały energetyczne, badania metali szlachetnych i produkcja analiz pierwiastków śladowych.

Wykrywanie niebezpiecznych pierwiastków w materiałach elektronicznych i komunikacyjnych oraz materiałach opakowaniowych.

Substancje i składniki chemiczne znajdujące się w wyrobach medycznych i materiałach opakowaniowych.

Analiza składników i analiza substancji szkodliwych w pojemnikach na żywność i materiałach opakowaniowych.

Analiza żywności

Badanie zawartości metali ciężkich w higienie żywności i analiza wykrywalności żywności.

Szkodliwe metale ciężkie i aniony w wodzie (ścieki, woda pitna, woda mineralna itp.).

 Analiza leków

Leki chińskie i zachodnie oraz materiały do ​​ich opakowań, kosmetyki, detergenty i materiały opakowaniowe zawierające szkodliwe składniki arsenu, rtęci, ołowiu itp.

Szkodliwe składniki i składniki odżywcze w produktach ochrony zdrowia i produktach biologicznych.

Analiza pierwiastków śladowych sody kaustycznej o wysokiej czystości i jej surowców w przemyśle chemicznym chloro-alkalicznym.

Półprodukty lekowe o wysokiej czystości.

 Analiza gleby i rudy

Dla geologii, instytutów badań gleby, stacji monitorowania środowiska; Metale ciężkie i pierwiastki śladowe w nawozach: arsen, rtęć, ołów, przegrody, chrom, mangan, żelazo itp.

Analiza jakościowa i ilościowa minerałów.

Wykrywanie zawartości pierwiastków materialnych, wykrywanie elementów geologicznych gleby, wykrywanie i analiza próbek środowiskowych dla instytutów badań rolniczych i uniwersytetów.

 Zasięg detekcji

Spektrometr emisji atomowej ICP jest rodzajem dużego instrumentu analitycznego, który może określić pierwiastki metaliczne i częściowe pierwiastki niemetaliczne w próbce oraz może analizować próbkę jakościowo, półilościowo i ilościowo. Jego zakres pomiarowy może wynosić od mikro do stałego

Granica wykrywalności elementu wykrywalnego